Informacje o przetargach publicznych.
Site Search

212546 / 2008-09-04 - Inny: Instytut naukowo-badawczy / Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk (Warszawa)

Urządzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej.

Opis zamówienia

Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego urządzenia do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej (modyfikowany spektrometr LEED-Auger z urządzeniami elektronicznego układu kontroli z wyposażeniem) .

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 212546

Data publikacji: 2008-09-04

Nazwa: Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk

Ulica: al. Lotników 32/46

Numer domu: 32/46

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 02-668

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 022 8436601 w. 3535

Numer faxu: 022 8430926

Regon: 00032606100000

Typ ogłoszenia: ZP-400

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Inny: Instytut naukowo-badawczy

Inny rodzaj zamawiającego: Instytut naukowo-badawczy

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Urządzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej.

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego urządzenia do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej (modyfikowany spektrometr LEED-Auger z urządzeniami elektronicznego układu kontroli z wyposażeniem) .

Kody CPV: 332533001

Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie

Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie

Czas: D

Data zakończenia: 15/12/2008

opis_war:
O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy:
1) posiadają uprawnienia do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli ustawy nakładają obowiązek posiadania takich uprawnień;
2) posiadają niezbędną wiedzę i doświadczenie oraz dysponują potencjałem technicznym i osobami zdolnymi do wykonania zamówienia;
3) znajdują się w sytuacji ekonomicznej i finansowej zapewniającej wykonanie zamówienia;
4) nie podlegają wykluczeniu z postępowania o udzielenie zamówienia.
Zamawiający zweryfikuje ofertę pod względem obecności oświadczenia o spełnianiu warunków udziału w postępowaniu.

inf_osw:
Oświadczenie o spełnianiu warunków udziału w postępowaniu.

Kod trybu postepowania: PN

Kod kryterium cenowe: A

Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie

Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia: Siedziba Zamawiającego, pok. 101 blok I

Data składania wniosków, ofert: 29/09/2008

Godzina składania wniosków, ofert: 12:00

Miejsce składania: Siedziba Zamawiającego, pok. 101 blok I

On: on

Termin związania ofertą, liczba dni: 30

Podobne przetargi

273599 / 2008-10-20 - Inny: Instytut naukowko-badawczy

Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
DZPIE/011/2008 - UrzÄ…dzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej.

211040 / 2008-09-03 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
Dostawa systemu do wykonywania pomiarów metodą elipsometrii spektroskopowej w zakresie FUV-VIS dla bezkontaktowej i niedestrukcyjnej analizy właściwości warstw oraz podłoża

214906 / 2008-09-05 - Inny: Jednostka badawczo-rozwojowa

Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
Dostawa do siedziby Zamawiajacego fabrycznie nowych, nieużywanych: spektrometru UV-VIS do oznaczania zawartości węglowodorów naftalenowych w paliwach lotniczych z dodatkowym zestawem komputerowym, aparatu do oznaczania stabilności oksydacyjnej FAME wraz dodatkowym zestawem komputerowym

236365 / 2008-09-25 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
Dostawa spektrofluorymetru LS-55 wyposażonego w możliwość regulacji szczelin w krokach co 0.1 nm oraz termostatowany 4-pozycyjny uchwyt do kuwet z możliwością mieszania zawartości.

287201 / 2008-10-28 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
Dostawa systemu do wykonywania pomiarów metodą elipsometrii spektroskopowej w zakresie FUV-VIS dla bezkontaktowej i niedestrukcyjnej analizy właściwości warstw oraz podłoża