Informacje o przetargach publicznych.
Site Search

287201 / 2008-10-28 - Uczelnia publiczna / Politechnika Warszawska (Warszawa)

Ogłoszenie zawiera informacje aktualizacyjne dotyczące publikacji w biuletynie 1 z dnia 2008-09-03 pod pozycją 211040. Zobacz ogłoszenie 211040 / 2008-09-03 - Uczelnia publiczna.

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 287201

Data publikacji: 2008-10-28

Nazwa: Politechnika Warszawska

Ulica: Pl. Politechniki 1

Numer domu: 1

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 00-661

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 022 2346206, 2346630

Numer faxu: 022 2346217, 6286075

Adres strony internetowej: www.pw.edu.pl

Regon: 00000155400000

Typ ogłoszenia: ZP-403

Numer biuletynu: 1

Numer pozycji: 211040

Data wydania biuletynu: 2008-09-03

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Czy zamówienie było ogłoszone w BZP: Tak

Rok ogłoszenia: 2008

Pozycja ogłoszenia: 211040

Czy w BZP zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie: Nie

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dostawa systemu do wykonywania pomiarów metodą elipsometrii spektroskopowej w zakresie FUV-VIS dla bezkontaktowej i niedestrukcyjnej analizy właściwości warstw oraz podłoża

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Dostawa systemu do wykonywania pomiarów metodą elipsometrii spektroskopowej w zakresie FUV-VIS dla bezkontaktowej i niedestrukcyjnej analizy właściwości warstw oraz podłoża

Kody CPV: 332533001

Szacunkowa wartość zamówienia: 426481

Kod waluty: 1

Waluta (PLN): PLN

Kod trybu postepowania: PN

Czy zamówienie dotyczy programu UE: Nie

Data udzielenie zamówienia: 15/10/2008

Liczba ofert: 1

Nazwa wykonawcy: COMEF Aparatura Naukowo - Badawcza

Adres pocztowy wykonawcy: ul. Kalinowa 41

Miejscowość: Katowice

Kod pocztowy: 40-750

ID województwa: 11

Województwo / kraj: śląskie

Cena wybranej oferty: 330000

Cena minimalna: 330000

Cena maksymalna: 330000

Kod waluty: 1

Waluta (PLN): PLN

Podobne przetargi

273599 / 2008-10-20 - Inny: Instytut naukowko-badawczy

Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
DZPIE/011/2008 - UrzÄ…dzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej.

211040 / 2008-09-03 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
Dostawa systemu do wykonywania pomiarów metodą elipsometrii spektroskopowej w zakresie FUV-VIS dla bezkontaktowej i niedestrukcyjnej analizy właściwości warstw oraz podłoża

214906 / 2008-09-05 - Inny: Jednostka badawczo-rozwojowa

Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
Dostawa do siedziby Zamawiajacego fabrycznie nowych, nieużywanych: spektrometru UV-VIS do oznaczania zawartości węglowodorów naftalenowych w paliwach lotniczych z dodatkowym zestawem komputerowym, aparatu do oznaczania stabilności oksydacyjnej FAME wraz dodatkowym zestawem komputerowym

236365 / 2008-09-25 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
Dostawa spektrofluorymetru LS-55 wyposażonego w możliwość regulacji szczelin w krokach co 0.1 nm oraz termostatowany 4-pozycyjny uchwyt do kuwet z możliwością mieszania zawartości.

212546 / 2008-09-04 - Inny: Instytut naukowo-badawczy

Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
UrzÄ…dzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej.