Informacje o przetargach publicznych.
Site Search

211040 / 2008-09-03 - Uczelnia publiczna / Politechnika Warszawska (Warszawa)

Dostawa systemu do wykonywania pomiarów metodą elipsometrii spektroskopowej w zakresie FUV-VIS dla bezkontaktowej i niedestrukcyjnej analizy właściwości warstw oraz podłoża

Opis zamówienia

Dostawa systemu do wykonywania pomiarów metodą elipsometrii spektroskopowej w zakresie FUV-VIS dla bezkontaktowej i niedestrukcyjnej analizy właściwości warstw oraz podłoża

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 211040

Data publikacji: 2008-09-03

Nazwa: Politechnika Warszawska

Ulica: Pl. Politechniki 1

Numer domu: 1

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 00-661

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 022 2346206, 2346630

Numer faxu: 022 2346217, 6286075

Adres strony internetowej: www.pw.edu.pl

Regon: 00000155400000

Typ ogłoszenia: ZP-400

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dostawa systemu do wykonywania pomiarów metodą elipsometrii spektroskopowej w zakresie FUV-VIS dla bezkontaktowej i niedestrukcyjnej analizy właściwości warstw oraz podłoża

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Dostawa systemu do wykonywania pomiarów metodą elipsometrii spektroskopowej w zakresie FUV-VIS dla bezkontaktowej i niedestrukcyjnej analizy właściwości warstw oraz podłoża

Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie

Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie

Czas: O

Okres trwania zamówienia w dniach: 112

Informacja na temat wadium: Nie dotyczy

opis_war:
W postępowaniu może brać udział Wykonawca, który:
1. Nie podlega wykluczeniu na podstawie art. 24 ust. 1 i 2, spełnia wymogi art. 22 ust. 1 ustawy.
2. Wykonawca musi posiadać ubezpieczenie od odpowiedzialności cywilnej w zakresie prowadzonej działalności gospodarczej zgodnej z przedmiotem niniejszego zamówienia na wartość, co najmniej 200 tys. zł.
3. Wykonawca nie będący producentem aparatury musi być autoryzowanym przedstawicielem producenta oferowanego przedmiotu zamówienia na dowód, czego przedstawi odpowiedni dokument wystawiony przez producenta.
4. Ocena spełnienia warunków zostanie dokonana wg formuły spełnia - nie spełnia.

inf_osw:
1. Aktualny odpis z właściwego rejestru albo aktualne zaświadczenie o wpisie do ewidencji działalności gospodarczej, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru lub zgłoszenia do ewidencji działalności gospodarczej, wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert.
2. Aktualne informacje z Krajowego Rejestru Karnego w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt 4-8 ustawy, wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert.
3. Aktualna informacja z Krajowego Rejestru Karnego w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt 9 ustawy, wystawiona nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert.
4. Polisa, a w przypadku jej braku inny dokument potwierdzający, że wykonawca jest ubezpieczony od odpowiedzialności cywilnej w zakresie prowadzonej działalności na wartość, co najmniej 200 tys. zł. Polisa powinna być ważna w terminie realizacji zamówienia a jeżeli ważność dokumentu wygasa w terminie wcześniejszym, Wykonawca jest zobowiązany do przedłużenia ubezpieczenia OC, zgodnie z powyższym wymaganiem.
5. Wykaz dostarczonych elipsometrów spektroskopowych wyprodukowanych przez producenta oferowanego przedmiotu zamówienia (lista referencyjna producenta).
6. Wykonawca, nie będący producentem aparatury, dołącza w oryginalne oświadczenia producenta (z tłumaczeniem na język polski) stwierdzające, że bierze on pełną odpowiedzialność za wysoką jakość fabrycznie nowego systemu do wykonywania pomiarów metod elipsometrii spektroskopowej w zakresie FUV-VIS dla bezkontaktowej i niedestrukcyjnej analizy właściwości warstw oraz podłoży, dostarczonego przez Wykonawcę Politechnice Warszawskiej, jak również w przypadku likwidacji firmy Wykonawcy lub innych powodów ustania współpracy pomiędzy Politechniką Warszawską a firmą Wykonawcy, producent automatycznie przejmuje odpowiedzialność za serwis gwarancyjny aparatury.
7. Jeżeli wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania poza terytorium Rzeczypospolitej Polskiej, zamiast dokumentów, o których mowa:
a) w pkt. 1, 3, składa dokument lub dokumenty, wystawione w kraju, w którym ma siedzibę lub miejsce zamieszkania, potwierdzające że:
- nie otwarto jego likwidacji ani nie ogłoszono upadłości (wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert);
- nie orzeczono wobec niego zakazu ubiegania się o zamówienie (wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert);
- nie zalega z uiszczaniem podatków, opłat lub składek na ubezpieczenie społeczne i zdrowotne albo, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu (wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania ofert).
b) w pkt 2, składa zaświadczenie właściwego organu sądowego lub administracyjnego kraju pochodzenia albo zamieszkania osoby, której dokumenty dotyczą w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt 4-8 ustawy Pzp (wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert);
6. Oświadczenie o spełnianiu warunków udziału w postępowaniu, określonych w art. 22 ust. 1 ustawy Prawo zamówień publicznych, sporządzone według wzoru zawartego w Załączniku nr 2 Rozdział II do SIWZ.
7. Pełnomocnictwo do podpisania oferty, o ile prawo do podpisania oferty nie wynika z innych dokumentów złożonych wraz z ofertą. Treść pełnomocnictwa musi jednoznacznie określać czynności, co do wykonywania, których pełnomocnik jest upoważniony.
8. Specyfikacje techniczne potwierdzające spełnianie przez proponowane urządzenia wymagań technicznych. Specyfikacja musi być potwierdzona przez producenta urządzenia.
9. Zamawiający dopuszcza złożenie dodatkowo do oferty broszur, katalogów produktu w języku angielskim.
10. Wszystkie dokumenty wymienione w punkcie 7 muszą być przedstawione w formie oryginałów lub kopii poświadczonych za zgodność z oryginałem przez osoby uprawnione do składania oświadczenia woli w imieniu Wykonawców.
11. Dokumenty składane w języku obcym są składane razem z tłumaczeniem na język polski, poświadczonym przez Wykonawcę.

Kod trybu postepowania: PN

Kod kryterium cenowe: A

Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie

Adres strony internetowej specyfikacji i warunków zamówienia: www.pw.edu.pl

Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
Dział Zamówień Publicznych PW, ul. Noakowskiego 18/20, 00-668 Warszawa, klatka A, pokój 204

Opis potrzeb dla DK: Nie dotyczy

Informacja o wysokości nagród dla DK: Nie dotyczy

Data składania wniosków, ofert: 17/09/2008

Godzina składania wniosków, ofert: 11:00

Miejsce składania:
Dział Zamówień Publicznych PW, ul. Noakowskiego 18/20, 00-668 Warszawa, klatka A, pokój 204

On: on

Termin związania ofertą, liczba dni: 30

Informacje dodatkowe: Nie dotyczy

Kody CPV: 332533001

Podobne przetargi

273599 / 2008-10-20 - Inny: Instytut naukowko-badawczy

Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
DZPIE/011/2008 - UrzÄ…dzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej.

214906 / 2008-09-05 - Inny: Jednostka badawczo-rozwojowa

Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
Dostawa do siedziby Zamawiajacego fabrycznie nowych, nieużywanych: spektrometru UV-VIS do oznaczania zawartości węglowodorów naftalenowych w paliwach lotniczych z dodatkowym zestawem komputerowym, aparatu do oznaczania stabilności oksydacyjnej FAME wraz dodatkowym zestawem komputerowym

236365 / 2008-09-25 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
Dostawa spektrofluorymetru LS-55 wyposażonego w możliwość regulacji szczelin w krokach co 0.1 nm oraz termostatowany 4-pozycyjny uchwyt do kuwet z możliwością mieszania zawartości.

287201 / 2008-10-28 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
Dostawa systemu do wykonywania pomiarów metodą elipsometrii spektroskopowej w zakresie FUV-VIS dla bezkontaktowej i niedestrukcyjnej analizy właściwości warstw oraz podłoża

212546 / 2008-09-04 - Inny: Instytut naukowo-badawczy

Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
UrzÄ…dzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej.