Informacje o przetargach publicznych.
Site Search

217701 / 2008-09-15 - Inny: jednostka badawczo - rozwojowa / Centralny Instytut Ochrony Pracy - Państwowy Instytut Badawczy (Warszawa)

Ogłoszenie zawiera informacje aktualizacyjne dotyczące publikacji w biuletynie 1 z dnia 2008-08-01 pod pozycją 178309. Zobacz ogłoszenie 178309 / 2008-08-01 - .

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 217701

Data publikacji: 2008-09-15

Nazwa:
Centralny Instytut Ochrony Pracy - Państwowy Instytut Badawczy

Ulica: ul. Czerniakowska 16

Numer domu: 16

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 00-701

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 022 6234398

Numer faxu: 022 8408141

Regon: 00001804600000

Typ ogłoszenia: ZP-403

Numer biuletynu: 1

Numer pozycji: 178309

Data wydania biuletynu: 2008-08-01

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Czy zamówienie było ogłoszone w BZP: Tak

Rok ogłoszenia: 2008

Pozycja ogłoszenia: 178309

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Inny: jednostka badawczo - rozwojowa

Inny rodzaj zamawiającego: jednostka badawczo - rozwojowa

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dostawa do siedziby Zamawiającego fabrycznie nowego czytnika mikropłytek

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Dostawa do siedziby Zamawiającego fabrycznie nowego czytnika mikropłytek (zawierającego płuczkę) do oznaczania markerów reakcji zapalnych i stresu oksydacyjnego w komórkach wraz z urządzeniem sterującym oraz programem do akwizycji i obróbki wyników pomiarów absorbancji, zgodnie ze szczegółowym opisem zamówienia zawartym w załączniku nr 6 do SIWZ TA/ZP-13/2008, zwanego dalej URZĄDZENIEM a także zainstalowanie ww. URZĄDZENIA w miejscu wskazanym przez Zamawiającego, sprawdzenie poprawności jego funkcjonowania oraz przeszkolenie, dwóch pracowników Zamawiającego w zakresie obsługi

Kody CPV: 332533001

Szacunkowa wartość zamówienia: 77862.55

Kod waluty: 1

Waluta (PLN): PLN

Kod trybu postepowania: PN

Czy zamówienie dotyczy programu UE: Nie

Data udzielenie zamówienia: 22/08/2008

Liczba ofert: 1

Nazwa wykonawcy:
BIOKOM S.J., Baka B., Olszewski Z., Gruchała-Węsierski M.

Adres pocztowy wykonawcy: ul. Wspólna 3

Miejscowość: Janki

Kod pocztowy: 05-090

ID województwa: 6

Województwo / kraj: mazowieckie

Cena wybranej oferty: 94992.31

Cena minimalna: 94992.31

Cena maksymalna: 94992.31

Kod waluty: 1

Waluta (PLN): PLN

Podobne przetargi

273599 / 2008-10-20 - Inny: Instytut naukowko-badawczy

Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
DZPIE/011/2008 - UrzÄ…dzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej.

211040 / 2008-09-03 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
Dostawa systemu do wykonywania pomiarów metodą elipsometrii spektroskopowej w zakresie FUV-VIS dla bezkontaktowej i niedestrukcyjnej analizy właściwości warstw oraz podłoża

214906 / 2008-09-05 - Inny: Jednostka badawczo-rozwojowa

Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
Dostawa do siedziby Zamawiajacego fabrycznie nowych, nieużywanych: spektrometru UV-VIS do oznaczania zawartości węglowodorów naftalenowych w paliwach lotniczych z dodatkowym zestawem komputerowym, aparatu do oznaczania stabilności oksydacyjnej FAME wraz dodatkowym zestawem komputerowym

236365 / 2008-09-25 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
Dostawa spektrofluorymetru LS-55 wyposażonego w możliwość regulacji szczelin w krokach co 0.1 nm oraz termostatowany 4-pozycyjny uchwyt do kuwet z możliwością mieszania zawartości.

287201 / 2008-10-28 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
Dostawa systemu do wykonywania pomiarów metodą elipsometrii spektroskopowej w zakresie FUV-VIS dla bezkontaktowej i niedestrukcyjnej analizy właściwości warstw oraz podłoża

212546 / 2008-09-04 - Inny: Instytut naukowo-badawczy

Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 332533001 ()
UrzÄ…dzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej.