402908 / 2012-10-17 - Inny: instytut naukowy / Instytut Fizyki Molekularnej PAN (Poznań)
Ogłoszenie zawiera informacje aktualizacyjne dotyczące publikacji w biuletynie 1 z dnia 2012-07-13 pod pozycją 250182. Zobacz ogłoszenie 250182 / 2012-07-13 - Inny: instytut naukowy.
Numer biuletynu: 1
Pozycja w biuletynie: 402908
Data publikacji: 2012-10-17
Nazwa: Instytut Fizyki Molekularnej PAN
Ulica: ul. Mariana Smoluchowskiego 17
Numer domu: 17
Miejscowość: Poznań
Kod pocztowy: 60-179
Województwo / kraj: wielkopolskie
Numer telefonu: 061 8695100
Numer faxu: 061 8684524
Regon: 00055799000000
Typ ogłoszenia: ZP-403
Numer biuletynu: 1
Numer pozycji: 250182
Data wydania biuletynu: 2012-07-13
Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak
Czy zamówienie było ogłoszone w BZP: Tak
Rok ogłoszenia: 2012
Pozycja ogłoszenia: 250182
Czy w BZP zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie: Nie
Ogłoszenie dotyczy: 1
Rodzaj zamawiającego: Inny: instytut naukowy
Inny rodzaj zamawiającego: instytut naukowy
Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dostawa urządzeń stanowiących część wyposażenia dla laboratorium litografii elektronowej
Rodzaj zamówienia: D
Przedmiot zamówienia:
Zadanie nr 1
Depozytor rotacyjny (spin coater)
Wymagania:
1.Wyposażony w µ-kontroler oraz dotykowy panel operacyjny.
2.Parametry użytkowe urządzenia:
a)zapisywanie procedur - nie mniej niż 40,
b)liczba kroków w jednej procedurze - nie mniej niż 20,
c)regulowana prędkość wirowania, przyspieszenia oraz czasu,
d)maksymalna prędkość wirowania nie mniejsza niż 10000 rpm z dokładnością ± 1 rpm,
e)alarm akustyczny sygnalizujący koniec procedury.
f)Zagwarantowana łatwość czyszczenia depozytora np. poprzez wymienne wkłady z tworzywa.
3.Próżniowe mocowanie substratu (odpowiedni układ próżniowy zintegrowany z urządzeniem).
4.Urządzenie wyposażone w uchwyty pozwalający na montowanie podłoży o rozmiarach od 3x3 mm do 2 cali.
5.Gwarancja minimum 12 miesięcy
Zadanie Nr 2
Płyta grzejna (hot plate)
Wymagania:
1.Cyfrowy kontroler temperatury
2.Zakres temperatur od 25 do 250oC (dokładność +/- 1oC przy 100oC)
3.Próżniowe mocowanie podłoży (pompa zintegrowana z urządzeniem)
4.Rozmiar podłoży do 150 mm, grubość do 5 mm
5.Gwarancja minimum 12 miesięcy
Zadanie Nr 3
Profilometr kontaktowy
Wymagania:
Przyrząd powinien umożliwiać rejestrowanie i analizę dwu- i trój-wymiarowych profili powierzchni z rozdzielczością w kierunku pionowym na poziomie nie większym niż 0.1 nm i powtarzalności w pomiarach uskoku na poziomie nie gorszym niż 0.6 nm.
W tym celu powinien być wyposażony w odpowiedni komputer (z systemem Windows 7) z monitorem (23 cale, rozdzielczość 1920 x 1080) i oprogramowaniem pozwalającym na:
-.składanie profili
- wizualizację trójwymiarowych map w trakcie ich rejestrowania,
- wyznaczanie naprężeń,
- automatyczne zbieranie profili w różnych miejscach preparatu oraz ich wszechstronną analizę.
Wszystkie elementy urządzenia powinny być dostosowane do zasilania z ogólnie dostępnej sieci elektrycznej.
Obserwacja próbki przy pomocy kolorowej kamery CCD z regulowanym powiększeniem powinna pozwalać na uzyskanie pola widzenia w zakresie od maksimum 1 mm do minimum 4 mm.
Siła nacisku powinna być regulowana w zakresie od maksymalnie 0.05 mg do minimalnie 15 mg, dla zakresu pomiarowego w osi Z wynoszącego 1 mm przy pomocy jednej głowicy pomiarowej.
Wymiana końcówek pomiarowych powinna się odbywać za pomocą uchwytów pozwalających na szybką wymianę końcówek.
Urządzenie powinno być wyposażone w:
-Zmotoryzowany stolik (lub zestaw stolików) X/Y o zakresie przesuwu nie mniejszym niż 100 x 100 mm, pozwalający na pomiar próbek o grubości do 50 mm, średnicy od 4 do 6 cali, w tym również bardzo małych próbek np. o wymiarach 5 x 5 mm, wymagane jest zapewnienie możliwości próżniowego mocowania próbek (odpowiednia pompa dołączona do zestawu).
-Optycznie gładka podstawa pomiarowa o zakresie skanowania nie mniejszym niż 50 mm.
-Automatyczna kompensacja nachylenia preparatu.
-Cztery różne typy końcówek pomiarowych (optymalnie o promieniach: 50 nm, 0.2 mm, 0.7 mm, 2 mm).
-Próbki kalibracyjne o grubościach: 900 mm i 88 nm.
-Standard płaskości SiC (flatness standard, D około 30mm, roughness <= 0,5 nm RMS, flatness < Lambda /50)
-Stół antywibracyjny z kompresorem
-Osłonę akustyczną
-Zakres pomiarowy w osi Z do 1 mm
Kody CPV:
385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Kod trybu postepowania: PN
Czy zamówienie dotyczy programu UE: Nie
Nazwa wykonawcy: Sawatec AG
Adres pocztowy wykonawcy: Eschagger 2
Miejscowość: Sax
ID województwa: 43
Województwo / kraj: Szwajcaria
Nazwa: Depozytor rotacyjny
Nr częsci: 1
Data udzielenie zamówienia: 04/10/2012
Liczba ofert: 2
Liczba odrzuconych ofert: 1
Szacunkowa wartość zamówienia: 33090,00
Cena wybranej oferty: 52084,00
Cena minimalna: 52084,00
Cena maksymalna: 52084,00
Kod waluty: 1
Waluta (PLN): PLN
Nazwa wykonawcy: Sawatec AG
Adres pocztowy wykonawcy: Eschagger 2
Miejscowość: Sax
ID województwa: 43
Województwo / kraj: Szwajcaria
Nazwa: Płyta grzejna
Nr częsci: 2
Data udzielenie zamówienia: 04/10/2012
Liczba ofert: 1
Liczba odrzuconych ofert: 0
Szacunkowa wartość zamówienia: 41968,00
Cena wybranej oferty: 18432,00
Cena minimalna: 18432,00
Cena maksymalna: 18432,00
Kod waluty: 1
Waluta (PLN): PLN
Nazwa wykonawcy: LABSOFT
Adres pocztowy wykonawcy: ul. Wantule 12
Miejscowość: Warszawa
Kod pocztowy: 02-828
ID województwa: 6
Województwo / kraj: mazowieckie
Nazwa: Profilometr kontaktowy
Nr częsci: 3
Data udzielenie zamówienia: 17/09/2012
Liczba ofert: 1
Liczba odrzuconych ofert: 1
Szacunkowa wartość zamówienia: 325204,00
Cena wybranej oferty: 400000,00
Cena minimalna: 400000,00
Cena maksymalna: 400000,00
Kod waluty: 1
Waluta (PLN): PLN
Podobne przetargi
285774 / 2010-09-10 - Uczelnia publiczna
Politechnika Poznańska - Poznań (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Zakup specjalistycznego sprzętu badawczego do geofizycznych pomiarów metodą SASW (Spectral Analysis of Surface Waves)
188037 / 2011-07-08 - Uczelnia publiczna
Politechnika Poznańska - Poznań (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
przetarg nieograniczony na dostawę specjalistycznego urządzenia: Termowagi sprzężonej z kwadrupolowym spektrometrem masowym wraz ze wsparciem technicznym dla Politechniki Poznańskiej oraz przeszkolenie pracowników w siedzibie Zamawiającego realizowanego w ramach projektu ECOLCAP współfinansowanego ze środków Unii Europejskiej - Fundusz Rozwoju Regionalnego.
206893 / 2012-09-27 - Uczelnia publiczna
Politechnika Poznańska - Poznań (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa fabrycznie nowego aparatu do badania mikrotwardości metali i stopów dla Politechniki Poznańskiej wraz z przeszkoleniem pracowników w siedzibie Zamawiającego.
262837 / 2010-09-24 - Uczelnia publiczna
Politechnika Poznańska - Poznań (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Zestaw elementów uzupełniających do aparatu DSC 1 produkcji firmy Mettler Toledo:
1. MATHEMATIC (opcja oprogramowania),
2. SMART SENSE TERMINAL (wyświetlacz),
3. EVAL HARDLOCK SYSTEM SOFTWARE (klucz dostępu do oprogramowania).
216333 / 2011-08-10 - Uczelnia publiczna
Politechnika Poznańska - Poznań (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
przetarg nieograniczony na dostawę specjalistycznego urządzenia: Termowagi sprzężonej z kwadrupolowym spektrometrem masowym wraz ze wsparciem technicznym dla Politechniki Poznańskiej oraz przeszkolenie pracowników w siedzibie Zamawiającego realizowanego w ramach projektu ECOLCAP współfinansowanego ze środków Unii Europejskiej - Fundusz Rozwoju Regionalnego
181323 / 2014-08-25 - Uczelnia publiczna
Politechnika Poznańska - Poznań (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Zamówienie publiczne dotyczy zakupu aparatury naukowo-badawczej do bezkontaktowych, nieniszczących pomiarów w czasie rzeczywistym za pomocą transmisyjnej TV-holografii z subnanometryczną dokładnością, metodą całego pola
30054 / 2013-01-22 - Uczelnia publiczna
Politechnika Poznańska - Poznań (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Przetarg nieograniczony na dostawę fabrycznie nowej aparatury naukowo-badawczej w postaci analizatora sygnałów wraz z dodatkowym osprzętem dla Politechniki Poznańskiej na potrzeby projektu nr POIG.01.01.02-00-113/09 współfinansowanego ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka pt.: Nowa generacja energooszczędnych napędów elektrycznych do pomp i wentylatorów dla górnictwa
133450 / 2011-05-30 - Uczelnia publiczna
Politechnika Poznańska - Poznań (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Przetarg nieograniczony na dostawę fabrycznie nowych urządzeń typu haptic z efektem force feedback na potrzeby systemu rzeczywistości wirtualnej.
57819 / 2012-03-13 - Uczelnia publiczna
Politechnika Poznańska - Poznań (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Przedmiotem przetargu nieograniczonego jest dostawa fabrycznie nowego nie będącego prototypem, automatycznego urządzenia do precyzyjnego cięcia preparatów połączeń kość-implant metaliczny, wyposażonego w moduł szlifująco-polerujący umożliwiający przygotowanie preparatów do mikroskopowej oceny biointegracji prototypów implantów z kością, niezbędnego do realizacji projektu badawczego MNiSW nr NN518412638 (tj. zadań 3 i 4 harmonogramu tego projektu), dla Politechniki Poznańskiej, wraz ze szkoleniem
361920 / 2013-09-06 - Inny: nauka
Instytut Dendrologii PAN - Kórnik (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa suszarki laboratoryjnej do materiału roślinnego z nawiewem.
121708 / 2016-05-13 - Administracja rzÄ…dowa terenowa
Wojewódzki Inspektorat Ochrony Środowiska w Poznaniu - Poznań (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa zestawu do analizy ChZT: spektrofotometru VIS i bloku grzewczego
296362 / 2012-08-10 - Inny: Państwowa jednostka organizacyjna - instytut badawczy
Instytut Pojazdów Szynowych TABOR - Poznań (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa systemu pomiarowego MGCplus
77281 / 2013-05-15 - Uczelnia publiczna
Politechnika Poznańska - Poznań (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
przetarg nieograniczony na dostawę fabrycznie nowego chromatografu dedykowanego dla potrzeb odwróconej chromatografii gazowej dla Politechniki Poznańskiej wraz z przeszkoleniem pracowników w siedzibie Zamawiającego
70138 / 2011-04-08 - Inny: Państwowy instytut badawczy
Instytut Ochrony Roślin-Państwowy Instytut Badawczy - Poznań (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
zakup spektrofotometrów (2 egz.), czytników płytek ELISA (2 egz.), stacji sterujących (3 egz.) - znak postępowania: IORPIB/ZP/D/Spektro/2011
153135 / 2010-06-15 - Uczelnia publiczna
Politechnika Poznańska - Poznań (wielkopolskie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Zakup sondy pomiarowej typ ZOA99-3208-05 na potrzeby realizacji projektu pt. Nowa generacja energooszczednych napędów elektrycznych do pomp i wentylatorów dla górnictwa nr: POIG.01.01.02-00-113/09