Informacje o przetargach publicznych.
Site Search

384392 / 2013-09-23 - Uczelnia publiczna / Politechnika Warszawska, Wydział Chemiczny (Warszawa)

Ogłoszenie zawiera informacje aktualizacyjne dotyczące publikacji w biuletynie 1 z dnia 2013-07-26 pod pozycją 298060. Zobacz ogłoszenie 298060 / 2013-07-26 - Uczelnia publiczna.

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 384392

Data publikacji: 2013-09-23

Nazwa: Politechnika Warszawska, Wydział Chemiczny

Ulica: ul. Noakowskiego 3

Numer domu: 3

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 00-664

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 022 6282741, 2347507

Numer faxu: 022 6282741

Regon: 00000155400000

Typ ogłoszenia: ZP-403

Numer biuletynu: 1

Numer pozycji: 298060

Data wydania biuletynu: 2013-07-26

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Czy zamówienie było ogłoszone w BZP: Tak

Rok ogłoszenia: 2013

Pozycja ogłoszenia: 298060

Czy w BZP zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie: Nie

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dostawa mikroskopu metalograficznego z kamerą cyfrową i oprogramowaniem, postępowanie nr WChZP/22/13

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
I.1 Przedmiotem zamówienia jest : I.1.1
mikroskop metalograficzny z kamerą cyfrową i oprogramowaniem do analizy obrazu, zwane dalej aparaturą,
spełniające minimalne wymagania techniczne opisane w p. I.2 i dalsze wymagania opisane w p. I.3. I.1.2 pełna
dokumentacja techniczno - eksploatacyjna (dokumentacja techniczna i instrukcje obsługi), I.1.3 dostawa wraz z
wyładowaniem i wniesieniem aparatury do pomieszczenia wskazanego w p. V.2 SIWZ jako miejsce realizacji
zamówienia, zgodnie z wymaganiami opisanymi w p. I.4, I.1.4 instalacja, uruchomienie, testowanie i instruktaż
użytkowników w zakresie obsługi i konserwacji zgodnie z wymaganiami opisanymi w p. I.4, I.1.5 usługi
autoryzowanego przez producenta oferowanej aparatury serwisu technicznego w okresie gwarancji i okresie
pogwarancyjnym zgodnie z wymaganiami opisanymi w p. I.5. I.2 Minimalne wymagania techniczne: I.2.1
Mikroskop metalograficzny z kamerą cyfrową i oprogramowaniem, musi posiadać: I.2.1.1 Mikroskop
metalograficzny a) statyw mikroskopu metalograficznego o konstrukcji odpornej na drgania zapewniający pracę w
świetle odbitym i bez możliwości instalacji układu do światła przechodzącego i wbudowanym układem zasilania o
mocy 50W z płynną regulacją natężenia światła, b) układ oświetlenia do światła odbitego z regulowaną i
centrowaną przysłona polową oraz wbudowana precentrowaną przysłoną aperturową, oraz z fabrycznie
wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła), i gniazdami: polaryzatora, analizatora i filtrów, c) lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem oraz
wbudowanym odbłyśnikiem z tyłu, d) miska obiektywowa 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji
pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, e) stolik bez uchwytów
preparatowych o zakresie ruchu 75x50 mm z płytką metalową do pracy w świetle odbitym, f) współosiowo
ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła oraz możliwością blokady górnego położenia stolika i o zakresie
ruchu 30mm w osi Z i śruba mikro o dokładności pozycjonowania stołu 0.1 mm/obrót, z układem silnika krokowego
i zewnętrznym kontrolerem z wyświetlaniem ruchu w osi Z, g) możliwość obserwacji próbek o wysokości do 38
mm (w opcji po rozbudowie mikroskopu o dodatkowe elementy do 73 mm), h) możliwość obserwacji w technikach
Jasne/Ciemne Pola oraz kontrastu Nomarskiego, i) uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x
do 150x i obiektywów serii ELWD od 20x do 50x oraz polaryzator i analizator, j) układ optyki korygowanej do
nieskończoności z obiektywami klasy Semiplanapochromat dedykowanymi do pracy w świetle odbitym w
technikach Jasne/Ciemne Pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż: - 5X (NA/WD:
0.15/18.00 mm), - 10X (NA/WD: 0.30/15.00 mm), - 20X (NA/WD: 0.45/4.50 mm), - 50X (NA/WD: 0.80/1.00 mm),
- 100X (NA/WD: 0.90/1.00 mm), k) nasadka trinokularowa trójpozycyjna z podziałem światła 100/0; 20/80 i 0/100,
l) okulary o polu widzenia 22mm z regulacja dioptryjną każdy. I.2.1.2 Kamera cyfrowa z oprogramowaniem: a)
matryca CCD o rozdzielczości nie mniejszej niż 5,07 mln efektywnych pikseli, b) mocowanie do mikroskopu za
pomocą gwintu C, c) czas ekspozycji 1/1000 - 60 sekund, d) kontrola ekspozycji: Automatyczna, Ręczna, e)
pomiar ekspozycji z całego pola oraz punktowy, f) rozdzielczość zapisu: 2560x1920; 1280x960; 640x480 pikseli,
g) format zapisu: BMP, TIFF, JPEG, JPEG2000, h) przesył obrazu do komputera na żywo z szybkością określoną
dla każdej rozdzielczości i nie mniejsza niż: - 2560 x 1920 - 4.4 Klatek/sekundę, - 1280 x 960 - 18 Klatek/sekundę,
- 640 x 480 - 21 Klatek/sekundę, - Tryb ROI - 37 klatek/sekundę, i) przesyłanie obrazu do komputera za pomocą
złącza FireWire typ B, j) możliwość podłączenia do sterownika jednocześnie dwóch głowic kamery. I.2.1.3
Oprogramowanie do analizy obrazu a) pełne sterowanie kamerą - rozdzielczości, balans bieli, wzmocnienia,
sposób pomiaru ekspozycji, b) w menu sterowania kamera wbudowany zestaw gotowych ustawień kontrastu w
tym dla światła odbitego w tym - Jasne pole, Ciemne pole, DIC, metalografia, c) zapis i podgląd na żywo we
wszystkich rozdzielczościach oferowanych przez kamerę, d) archiwizacja i wizualizacja wyników w postaci tabel i
wykresów, e) pojedyncze (stop-klatka) i sekwencyjne pobieranie obrazu (klatki obrazu w ustalonych odstępach
czasowych), f) możliwość składania obrazów wielkoformatowych próbek nie mieszczących się w polu widzenia
danego obiektywu przy zachowaniu wszystkich parametrów optycznych, oraz w obrazie wielkoformatowym
automatyczne obliczanie i kompensowanie w przypadku niezbyt dokładnego ustawienia następnego pola i
wyświetlenie zakładki z ostatnim obrazem, g) manualne pomiary: np. pola powierzchni, długości, obwodu, kąta, h)
automatyczna kontrola balansu bieli w całym polu, i) kompensacja obrazu dla parametrów wybranego pola obrazu
- znacznik, j) statystyka przeprowadzonych pomiarów, k) zapis obrazu (formaty JPEG, TIFF, JPEG2000, BMP), l)
zapis i odczyt wyników: plik tekstowy i HTML lub poprzez schowek w dowolnym arkuszu kalkulacyjnym i edytorze
tekstu, ł) generowanie dowolnych raportów z pomiarów wraz z obrazem w wewnętrznym edytorze, m) praca w
środowisku Windows XP i Vista 32 i 64 bit, n) moduł 3D do składania i analizy obrazów 3D z funkcją
automatycznego składania zdjęć o dużej głębi i pomiarów 3D. Moduł ma umożliwiać analizę profili na kierunku Z. *)
Uwaga: We wszystkich przypadkach, w których Zamawiający opisał wymagania techniczne jako zakres wartości parametru Wykonawca może zaoferować aparaturę o szerszym zakresie wartości tego parametru pod
warunkiem, że zakres wymagany w całości mieści się w zakresie oferowanym. I.3 Wymagania dodatkowe w
stosunku do przedmiotu zamówienia: I.3.1 Oferowana aparatura powinna być wysokiej jakości, fabrycznie nowa,
wolna od wad materiałowych i prawnych. I.3.2 Zastosowane rozwiązania techniczne muszą odpowiadać
nowoczesnym standardom i umożliwiać wprowadzenie w przyszłości ewentualnych uzupełnień i modyfikacji. I.3.3
Aparatura i wszystkie jej elementy muszą być produktami katalogowymi, nie prototypowymi (nie dotyczy jednostki
centralnej komputera). I.3.4 Aparatura powinna być oznakowana w taki sposób, aby możliwa była identyfikacja
produktu jak i producenta. I.3.5 Aparatura musi posiadać certyfikat CE lub deklarację zgodności. I.3.6 Aparatura
powinna spełniać wymagania wynikające z przepisów bezpieczeństwa i higieny pracy. I.3.7 Oferowana aparatura
powinna być kompletna tak by po zmontowaniu i instalacji była gotowa do użycia zgodnie z jej przeznaczeniem.
I.3.8 Wraz z dostawą Wykonawca dostarczy instrukcję obsługi w języku polskim. I.4 Wymagania w stosunku do
sposobu realizacji zamówienia: I.4.1 Do zadań Wykonawcy należy dostawa (wraz z wyładowaniem i wniesieniem)
aparatury będącej przedmiotem zamówienia do miejsca wskazanego w p. V.2 SIWZ. I.4.2 Wykonawca
zorganizuje transport i wniesienie aparatury we własnym zakresie. Wykonawca ponosi pełną odpowiedzialność za
dostawę do czasu przekazania jej Zamawiającemu. I.4.3 Wykonawca zainstaluje, uruchomi i przetestuje
dostarczoną aparaturę oraz przeprowadzi instruktaż dla użytkowników w zakresie obsługi i konserwacji w języku
polskim. I.4.4 Dostawa musi być kompletna to znaczy zawierać wszystkie materiały i akcesoria niezbędne do
pracy aparatury zgodnie z przeznaczeniem. I.5 Wymagania w stosunku do warunków gwarancji i serwisu
gwarancyjnego: I.5.1 Oferowany przez Wykonawcę okres gwarancji nie może być krótszy niż 24 miesiące. I.5.2
Okres gwarancji ulega przedłużeniu o czas przestoju aparatury spowodowanego wystąpieniem awarii w okresie
gwarancji. I.5.3 Techniczny serwis gwarancyjny winien być prowadzony przez serwis autoryzowany przez
producenta oferowanej aparatury. I.5.4 W przypadku wystąpienia awarii: 1) czas reakcji serwisu nie może być
dłuższy niż 48 godzin, 2) czas podjęcia czynności serwisowych w miejscu użytkowania, jeżeli zajdzie taka
konieczność, nie może być dłuższy niż 72 godziny, od czasu pisemnego (faksem lub mailem) zgłoszenia o
wystąpieniu awarii przez użytkownika, przy czym, w bieg powyższych terminów nie wlicza się sobót, niedziel i dni
ustawowo wolnych od pracy. I.5.5 Wszelkie koszty związane z naprawą zepsutej aparatury lub jej części, w tym
koszt robocizny, wymiany aparatury lub jej części, transportu, ubezpieczenia na czas transportu, inne, pokrywa
Wykonawca. I.5.6 Wykonawca musi zapewnić dostępności części zamiennych przez okres nie krótszy niż 7 lat od
daty zakupu. I.6 Wymagania w stosunku do warunków i terminu płatności Płatność jednorazowa po zrealizowaniu
zamówienia; termin płatności nie może być krótszy niż 21 dni od daty dostarczenia prawidłowo wystawionej
faktury. Podstawą wystawienia faktury będzie protokół odbioru końcowego. Wymagania opisane w p. I.1 - I.6 są
wymaganiami minimalnymi co oznacza, że niespełnianie któregokolwiek z nich skutkować będzie odrzuceniem
oferty

Kody CPV:
386340008 (Mikroskopy optyczne)

Kod trybu postepowania: PN

Czy zamówienie dotyczy programu UE: Tak

nazwa programu UE:
Przedmiot zamówienia jest w finansowany ze środków Narodowego Centrum Badań i Rozwoju w
ramach umowy PBS1/A5/ 19/2012 Inteligentne materiały do absorpcji energii i ochrony ciała człowieka

Nazwa wykonawcy: PRECOPTIC Co. Spółka Jawna

Adres pocztowy wykonawcy: ul. Arkuszowa 60

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 01-934

ID województwa: 6

Województwo / kraj: mazowieckie

Data udzielenie zamówienia: 30/08/2013

Liczba ofert: 1

Liczba odrzuconych ofert: 0

Szacunkowa wartość zamówienia: 105691,10

Cena wybranej oferty: 127551,00

Cena minimalna: 127551,00

Cena maksymalna: 127551,00

Kod waluty: 1

Waluta (PLN): PLN

Podobne przetargi

230287 / 2010-08-25 - Uczelnia publiczna

Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 386340008 (Mikroskopy optyczne)
DOSTAWA MIKROSKOPU OPTYCZNEGO, MIKROTWARDOŚCIOMIERZA Z WYPOSAŻENIEM I MONTAŻEM ORAZ OSCYLOSKOPÓW

42704 / 2011-03-11 - Inny: Placówka naukowo-badawcza

Muzeum i Instytut Zoologii Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 386340008 (Mikroskopy optyczne)
Dostawa Mikroskopu badawczego wraz z wyposażeniem do komputerowej analizy i akwizycji obrazu dla Muzeum i Instytutu Zoologii PAN

79360 / 2010-03-22 - Inny: Placówka naukowo-badawcza PAN

Muzeum i Instytut Zoologii Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 386340008 (Mikroskopy optyczne)
Dostawa na mikroskopy stereoskopowe i badawcze wraz z wyposażeniem do komputerowej analizy obrazu

269635 / 2010-09-30 - Uczelnia publiczna

Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 386340008 (Mikroskopy optyczne)
DOSTAWA MIKROSKOPU OPTYCZNEGO, MIKROTWARDOŚCIOMIERZA Z WYPOSAŻENIEM I MONTAŻEM ORAZ OSCYLOSKOPÓW

191578 / 2015-07-29 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski Wydział Chemii - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 386340008 (Mikroskopy optyczne)
Dostawa układu grzewczo - chłodzącego do mikroskopu sił atomowych (AFM) dla Wydziału Chemii Uniwersytetu Warszawskiego przy ul. Pasteura 1

230166 / 2010-07-29 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 386340008 (Mikroskopy optyczne)
Mikroskop metalograficzny w układzie odwróconym z kamerą do rejestracji oraz oprogramowaniem do archiwizacji i analizy obrazu

6492 / 2013-01-04 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski Wydział Chemii - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 386340008 (Mikroskopy optyczne)
Dostawa zestawu badawczego mikroskopu stereoskopowego dla Wydziału Chemii Uniwersytetu Warszawskiego

33563 / 2012-02-09 - Uczelnia publiczna

Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego - SZP - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 386340008 (Mikroskopy optyczne)
Dostawa specjalistycznego sprzętu do laboratorium zgodnie z specyfikacją, opisem przedmiotu zamówienia znajduje się w załączniku nr 7 do SIWZ

277478 / 2011-09-07 - Inny: instytut naukowy

Instytut Nauk Geologicznych Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 386340008 (Mikroskopy optyczne)
Dostawa mikroskopu optycznego (badawczego) wraz z zestawem do kontrastu fazowego i zestawem do fotografii cyfrowej z oprogramowaniem

303994 / 2015-11-10 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski Wydział Chemii - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 386340008 (Mikroskopy optyczne)
Dostawę układu grzewczo - chłodzącego do mikroskopu sił atomowych (AFM) dla Wydziału Chemii Uniwersytetu Warszawskiego przy ul. Pasteura 1

14777 / 2015-02-03 - Uczelnia publiczna

Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 386340008 (Mikroskopy optyczne)
DOSTAWA MIKROSKOPU POLARYZACYJNEGO DO OBSERWACJI W ÅšWIETLE PRZECHODZÄ„CYM I ODBITYM

309984 / 2015-11-17 - Administracja rzÄ…dowa centralna

Generalna Dyrekcja Dróg Krajowych i Autostrad Oddział w Warszawie - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 386340008 (Mikroskopy optyczne)
Rozbudowa 3 szt. mikroskopów do oznaczania charakterystyki porów powietrznych w stwardniałym betonie będących na wyposażeniu następujących Wydziałów Technologii GDDKiA: Oddział w Bydgoszczy, Oddział w Poznaniu, Oddział w Lublinie, wraz z dostawą do każdego rozbudowanego zestawu, 1 szt. mikroskopu stereoskopowego warsztatowego