180504 / 2010-06-23 - Uczelnia publiczna / Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej (Warszawa)

Zgodny z tonerem CLP-510D5M Purpurowy Powiększony marki Cartridge Web

Cena: 254.61 PLN

Mikroskop świetlny z kamerą

Opis zamówienia

Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu metalograficznego o następujących cechach:
-statyw mikroskopu metalograficznego w układzie odwróconym o konstrukcji odpornej na drgania, zapewniający pracę w świetle odbitym i możliwości instalacji układu do światła przechodzącego, z wbudowanym czytnikiem położenia miski obiektywowej, możliwością podpięcia zewnętrznego monitora LCD z funkcją odczytu położenia miski obiektywowej, parametrów oświetlenia i bezpośredniego podglądu obrazu z mikroskopu;
-wszystkie pokrętła regulacyjne: przesłona polowa i aperturowa, dźwignią zmiany techniki badawczej Jasne/Ciemne Pole, wskaźnik położenia miski obiektywowej umieszczone na jednej (preferowana przednia) ścianie statywu;
-port główny do podłączenia kamery;
-nasadka okularowa trójpozycyjna z regulacją rozstawu źrenic;
-układ oświetlenia do światła odbitego (EPI) o mocy minimum 50W z regulowaną i centrowaną przysłona polową oraz centrowaną przysłoną aperturową
-lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem oraz wbudowanym odbłyśnikiem z tyłu, zapewniająca intensywność na poziomie nie gorszym niż dla tradycyjnej lampy o mocy 100W;
-układ oświetlenia do światłą odbitego z fabrycznie wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła) i możliwością instalacji dwóch niezależnych źródeł oświetlenia i filtrów fluorescencyjnych;
-przysłona aperturowa samoczynnie otwierana w czasie przełączania w układzie do światła odbitego na technikę ciemne pole;
-w układzie oświetlacza EPI gniazda do montażu układu polaryzatora i analizatora i kompensatorów;
-uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x do minimum 100x
-w układzie oświetlacza EPI wbudowane kołowe gniazdo filtrów (wbudowane przynajmniej 3 filtry);
-miska obiektywowa minimum 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, z systemem rejestracji położenia miski i obiektywów i możliwością odczytu położenia z poziomu oprogramowania;
-stolik zmotoryzowany o zakresie ruchu minimum 100x70, wraz ze sterownikiem, możliwością sterowania z poziomu oprogramowania do analizy obrazu i zmotoryzowanym napędem w osi Z z krokiem nie gorszym niż 10nm, kontrolerem współpracującym po złączu USB i joystickiem z wyświetlaczem LCD wskazującym aktualne położenie stolika i osi Z;
-wbudowany w statyw układ zasilania o mocy minimum 50W z płynną regulacją natężenia światła;
-współosiowo ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła o dokładności pozycjonowania stołu na poziomie 0.1 mm/obrót;
-Możliwość obserwacji w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole, Polaryzacja, kontrast Nomarskiego oraz możliwość rozbudowy o światło przechodzące o mocy min 100W w technikach (Jasne Pole, kontrast Nomarskiego, kontrast fazy) i techniki fluorescencyjne;
-układ optyki korygowanej do nieskończoności;
-obiektyw klasy Epi Plan Fluor dedykowane do pracy w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż:
#obiektyw 5X (NA/WD : 0.15/15.00 mm),
#obiektyw 10X (NA/WD : 0.30/12.00 mm),
#obiektyw 20X (NA/WD : 0.45/4.00 mm),
#obiektyw 50X (NA/WD : 0.80/1.00 mm),
#obiektyw 100X (NA/WD : 0.90/1.00 mm),
-Możliwość rozbudowy o inne obiektywy do światła odbitego;
-Wyposażenie mikroskopu w gniazdo do instalacji wzorców (np. wielkość ziarna, podziałka mikrometryczna) wprowadzanych w pole widzenia;
-Rejestracja obrazu z wykorzystaniem kamery cyfrowej z oprogramowaniem o następujących cechach użytkowych:
a) Matryca CCD o rozdzielczości nie mniejszej niż 5 mln efektywnych pikseli;
b) Możliwość podłączenia obiektywów makro poprzez złącze C;
c) Czas ekspozycji przynajmniej w zakresie 1/1000 - 60 sekund;
d) Kontrola ekspozycji: Automatyczna; Ręczna;
e) Możliwość wykonania Balansu Bieli;
f) Możliwość wykonywania zdjęć poklatkowych;
g) Cyfrowy zoom w zakresie przynajmniej 10% - 2000%;
h) Pomiar ekspozycji z całego pola, oraz punktowy;
i) Regulowany zakres pola pomiaru ekspozycji;
j) Regulacja: Jasności, Kontrastu, Korekcji Gamma;
k) Rozdzielczość zapisu: 2560x1920; 1280x960; 640x480 pikseli;
l) Format zapisu (minimum): BMP, TIFF, JPEG;
m) Przesył obrazu do komputera na żywo z szybkością określoną dla każdej rozdzielczości i nie mniejsza niż: 2560 x 1920 - 5 klatek/sekundę,1280 x 960 - 7 Klatek/sekundę, 640 x 480 - 10 Klatek/sekundę;
n) Możliwość przesyłania obrazu do komputera za pomocą złącza USB 2.0;
o) Wbudowany port Host USB do podłączenia z mikroskopem.

Zapis i analiza obrazu zarejestrowanego przez kamerę z wykorzystaniem dostarczonej dedykowanej stacji roboczej z monitorem o przekątnej minimum 17 cali oraz preinstalowanego oprogramowania umożliwiającego:
- Pełne sterowanie kamerą - rozdzielczości, balans bieli, wzmocnienia, sposób pomiaru ekspozycji;
- Optyczne skanowanie 3D mikroskopem - zbieranie obrazów z dowolnej liczby sąsiadujących pól przy jednoczesnym pobieraniu stosu zdjęć w osi Z dla pojedynczego pola - obraz wielkoformatowy z kształtem powierzchni;
- W menu sterowania kamera wbudowany zestaw gotowych ustawień kontrastu w tym dla światła odbitego w tym - Jasne pole, Ciemne pole, DIC, metalografia;
- Zapis i podgląd na żywo we wszystkich rozdzielczościach oferowanych przez kamerę;
- Możliwość prowadzenia pomiarów obrazu, dokonywanie przeliczeń na wybrane parametry stereologiczne;
- Archiwizacja i wizualizacja wyników w postaci tabel i wykresów,
- Pojedyncze (stop-klatka) i sekwencyjne pobieranie obrazu (klatki obrazu w ustalonych odstępach czasowych);
- Możliwość składania obrazów wielkoformatowych próbek nie mieszczących się w polu widzenia danego obiektywu przy zachowaniu wszystkich parametrów optycznych, oraz w obrazie wielkoformatowym automatyczne obliczanie i kompensowanie w przypadku niezbyt dokładnego ustawienia następnego pola i wyświetlenie zakładki z ostatnim obrazem, wraz z funkcją kompensacji nieostrości w pojedynczym polu widzenia i składania zdjęć 3D;
- Możliwość klasyfikowania obiektów po kolorze (min. 8 klas) z możliwością ich późniejszej automatycznej analizy;
- Automatyczna analiza obrazu kolorowego w 256 odcieniach każdej składowej RGB i czarno-białego w 256 odcieniach szarości;
- histogram jasności obrazu i jego wybranych fragmentów,
- binaryzacja obrazu w reprezentacji przynajmniej RGB,
- automatyczne i ręczne selekcjonowanie obiektów do pomiaru,
- zliczanie obiektów (automatyczne i manualne),
- automatyczne i manualne pomiary przynajmniej takich parametrów jak: pole powierzchni, długości, średnice (średnia, Fereta), obwód, kąt, środek ciężkości, wydłużenia, współczynników kształtu;
- wykonywanie profil jasności wzdłuż linii prostej, dwu linii równoległych i krzywej,
- edycja obrazu (wstawianie, kopiowanie, wycinanie, przesuwanie, obracanie obrazu i jego fragmentów, zoom, nanoszenie wskaźników, znaczników, belek skali), funkcje filtracji obrazu kolorowego i binarnego (wygładzanie, wyostrzanie, retusz, erozja, dylatacja, otwarcie, zamknięcie, czyszczenie, wypełnianie otworów, rozdzielanie sklejonych obiektów, filtracja obiektów o określonej jasności i inne),
- łatwa kalibracja obrazu w jednostkach metrycznych w sposób ręczny i całkowicie automatyczny z wykorzystaniem stolika zmotoryzowanego,
- automatyczna kontrola balansu bieli w całym polu,
- kompensacja obrazu pod katem wybranego pola obrazu - znacznik,
- statystyka przeprowadzonych pomiarów (średnia, odchylenie standardowe, minimum, maksimum i odpowiednie wykresy z ich dalszą edycją; liczba wielkości ze wspomnianą wyżej statystyką, gęstość i udział procentowy obiektów w polu lub wybranych polach),
- zapis obrazu (przynajmniej formaty JPEG, BMP, TIFF),
- wydruk obrazu z jego podglądem na obszarze papieru,
- moduł 3D do składania i analizy obrazów 3D z funkcją automatycznego składania zdjęć o dużej głębi, pomiarów 3D i animacji składania obrazu w pojedynczym polu widzenia jak i również dla obszaru o powierzchni minimum 30 x 30 pól
- praca w środowisku Windows XP i Vista 32 i 64 bit, oraz Windows 7.

Gwarancja minimum 24 miesiące.

W cenie musi być ujęta dostawa, montaż oraz podstawowe przeszkolenie z obsługi mikroskopu z przynależnymi elementami peryferyjnymi (lamera, oprogramowania do rejestracji i analizy obrazów).

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 180504

Data publikacji: 2010-06-23

Nazwa:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej

Ulica: ul. Wołoska 141

Numer domu: 141

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 02-507

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 022 2348729, 2348741

Numer faxu: 022 2348514

Regon: 00000155400000

Typ ogłoszenia: ZP-400

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Mikroskop świetlny z kamerą

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu metalograficznego o następujących cechach:
-statyw mikroskopu metalograficznego w układzie odwróconym o konstrukcji odpornej na drgania, zapewniający pracę w świetle odbitym i możliwości instalacji układu do światła przechodzącego, z wbudowanym czytnikiem położenia miski obiektywowej, możliwością podpięcia zewnętrznego monitora LCD z funkcją odczytu położenia miski obiektywowej, parametrów oświetlenia i bezpośredniego podglądu obrazu z mikroskopu;
-wszystkie pokrętła regulacyjne: przesłona polowa i aperturowa, dźwignią zmiany techniki badawczej Jasne/Ciemne Pole, wskaźnik położenia miski obiektywowej umieszczone na jednej (preferowana przednia) ścianie statywu;
-port główny do podłączenia kamery;
-nasadka okularowa trójpozycyjna z regulacją rozstawu źrenic;
-układ oświetlenia do światła odbitego (EPI) o mocy minimum 50W z regulowaną i centrowaną przysłona polową oraz centrowaną przysłoną aperturową
-lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem oraz wbudowanym odbłyśnikiem z tyłu, zapewniająca intensywność na poziomie nie gorszym niż dla tradycyjnej lampy o mocy 100W;
-układ oświetlenia do światłą odbitego z fabrycznie wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła) i możliwością instalacji dwóch niezależnych źródeł oświetlenia i filtrów fluorescencyjnych;
-przysłona aperturowa samoczynnie otwierana w czasie przełączania w układzie do światła odbitego na technikę ciemne pole;
-w układzie oświetlacza EPI gniazda do montażu układu polaryzatora i analizatora i kompensatorów;
-uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x do minimum 100x
-w układzie oświetlacza EPI wbudowane kołowe gniazdo filtrów (wbudowane przynajmniej 3 filtry);
-miska obiektywowa minimum 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, z systemem rejestracji położenia miski i obiektywów i możliwością odczytu położenia z poziomu oprogramowania;
-stolik zmotoryzowany o zakresie ruchu minimum 100x70, wraz ze sterownikiem, możliwością sterowania z poziomu oprogramowania do analizy obrazu i zmotoryzowanym napędem w osi Z z krokiem nie gorszym niż 10nm, kontrolerem współpracującym po złączu USB i joystickiem z wyświetlaczem LCD wskazującym aktualne położenie stolika i osi Z;
-wbudowany w statyw układ zasilania o mocy minimum 50W z płynną regulacją natężenia światła;
-współosiowo ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła o dokładności pozycjonowania stołu na poziomie 0.1 mm/obrót;
-Możliwość obserwacji w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole, Polaryzacja, kontrast Nomarskiego oraz możliwość rozbudowy o światło przechodzące o mocy min 100W w technikach (Jasne Pole, kontrast Nomarskiego, kontrast fazy) i techniki fluorescencyjne;
-układ optyki korygowanej do nieskończoności;
-obiektyw klasy Epi Plan Fluor dedykowane do pracy w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż:
#obiektyw 5X (NA/WD : 0.15/15.00 mm),
#obiektyw 10X (NA/WD : 0.30/12.00 mm),
#obiektyw 20X (NA/WD : 0.45/4.00 mm),
#obiektyw 50X (NA/WD : 0.80/1.00 mm),
#obiektyw 100X (NA/WD : 0.90/1.00 mm),
-Możliwość rozbudowy o inne obiektywy do światła odbitego;
-Wyposażenie mikroskopu w gniazdo do instalacji wzorców (np. wielkość ziarna, podziałka mikrometryczna) wprowadzanych w pole widzenia;
-Rejestracja obrazu z wykorzystaniem kamery cyfrowej z oprogramowaniem o następujących cechach użytkowych:
a) Matryca CCD o rozdzielczości nie mniejszej niż 5 mln efektywnych pikseli;
b) Możliwość podłączenia obiektywów makro poprzez złącze C;
c) Czas ekspozycji przynajmniej w zakresie 1/1000 - 60 sekund;
d) Kontrola ekspozycji: Automatyczna; Ręczna;
e) Możliwość wykonania Balansu Bieli;
f) Możliwość wykonywania zdjęć poklatkowych;
g) Cyfrowy zoom w zakresie przynajmniej 10% - 2000%;
h) Pomiar ekspozycji z całego pola, oraz punktowy;
i) Regulowany zakres pola pomiaru ekspozycji;
j) Regulacja: Jasności, Kontrastu, Korekcji Gamma;
k) Rozdzielczość zapisu: 2560x1920; 1280x960; 640x480 pikseli;
l) Format zapisu (minimum): BMP, TIFF, JPEG;
m) Przesył obrazu do komputera na żywo z szybkością określoną dla każdej rozdzielczości i nie mniejsza niż: 2560 x 1920 - 5 klatek/sekundę,1280 x 960 - 7 Klatek/sekundę, 640 x 480 - 10 Klatek/sekundę;
n) Możliwość przesyłania obrazu do komputera za pomocą złącza USB 2.0;
o) Wbudowany port Host USB do podłączenia z mikroskopem.

Zapis i analiza obrazu zarejestrowanego przez kamerę z wykorzystaniem dostarczonej dedykowanej stacji roboczej z monitorem o przekątnej minimum 17 cali oraz preinstalowanego oprogramowania umożliwiającego:
- Pełne sterowanie kamerą - rozdzielczości, balans bieli, wzmocnienia, sposób pomiaru ekspozycji;
- Optyczne skanowanie 3D mikroskopem - zbieranie obrazów z dowolnej liczby sąsiadujących pól przy jednoczesnym pobieraniu stosu zdjęć w osi Z dla pojedynczego pola - obraz wielkoformatowy z kształtem powierzchni;
- W menu sterowania kamera wbudowany zestaw gotowych ustawień kontrastu w tym dla światła odbitego w tym - Jasne pole, Ciemne pole, DIC, metalografia;
- Zapis i podgląd na żywo we wszystkich rozdzielczościach oferowanych przez kamerę;
- Możliwość prowadzenia pomiarów obrazu, dokonywanie przeliczeń na wybrane parametry stereologiczne;
- Archiwizacja i wizualizacja wyników w postaci tabel i wykresów,
- Pojedyncze (stop-klatka) i sekwencyjne pobieranie obrazu (klatki obrazu w ustalonych odstępach czasowych);
- Możliwość składania obrazów wielkoformatowych próbek nie mieszczących się w polu widzenia danego obiektywu przy zachowaniu wszystkich parametrów optycznych, oraz w obrazie wielkoformatowym automatyczne obliczanie i kompensowanie w przypadku niezbyt dokładnego ustawienia następnego pola i wyświetlenie zakładki z ostatnim obrazem, wraz z funkcją kompensacji nieostrości w pojedynczym polu widzenia i składania zdjęć 3D;
- Możliwość klasyfikowania obiektów po kolorze (min. 8 klas) z możliwością ich późniejszej automatycznej analizy;
- Automatyczna analiza obrazu kolorowego w 256 odcieniach każdej składowej RGB i czarno-białego w 256 odcieniach szarości;
- histogram jasności obrazu i jego wybranych fragmentów,
- binaryzacja obrazu w reprezentacji przynajmniej RGB,
- automatyczne i ręczne selekcjonowanie obiektów do pomiaru,
- zliczanie obiektów (automatyczne i manualne),
- automatyczne i manualne pomiary przynajmniej takich parametrów jak: pole powierzchni, długości, średnice (średnia, Fereta), obwód, kąt, środek ciężkości, wydłużenia, współczynników kształtu;
- wykonywanie profil jasności wzdłuż linii prostej, dwu linii równoległych i krzywej,
- edycja obrazu (wstawianie, kopiowanie, wycinanie, przesuwanie, obracanie obrazu i jego fragmentów, zoom, nanoszenie wskaźników, znaczników, belek skali), funkcje filtracji obrazu kolorowego i binarnego (wygładzanie, wyostrzanie, retusz, erozja, dylatacja, otwarcie, zamknięcie, czyszczenie, wypełnianie otworów, rozdzielanie sklejonych obiektów, filtracja obiektów o określonej jasności i inne),
- łatwa kalibracja obrazu w jednostkach metrycznych w sposób ręczny i całkowicie automatyczny z wykorzystaniem stolika zmotoryzowanego,
- automatyczna kontrola balansu bieli w całym polu,
- kompensacja obrazu pod katem wybranego pola obrazu - znacznik,
- statystyka przeprowadzonych pomiarów (średnia, odchylenie standardowe, minimum, maksimum i odpowiednie wykresy z ich dalszą edycją; liczba wielkości ze wspomnianą wyżej statystyką, gęstość i udział procentowy obiektów w polu lub wybranych polach),
- zapis obrazu (przynajmniej formaty JPEG, BMP, TIFF),
- wydruk obrazu z jego podglądem na obszarze papieru,
- moduł 3D do składania i analizy obrazów 3D z funkcją automatycznego składania zdjęć o dużej głębi, pomiarów 3D i animacji składania obrazu w pojedynczym polu widzenia jak i również dla obszaru o powierzchni minimum 30 x 30 pól
- praca w środowisku Windows XP i Vista 32 i 64 bit, oraz Windows 7.

Gwarancja minimum 24 miesiące.

W cenie musi być ujęta dostawa, montaż oraz podstawowe przeszkolenie z obsługi mikroskopu z przynależnymi elementami peryferyjnymi (lamera, oprogramowania do rejestracji i analizy obrazów).

Kody CPV:
386340008 (Mikroskopy optyczne)

Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie

Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie

Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie

Czas: D

Data zakończenia: 31/08/2010

Informacja na temat wadium: nie dotyczy

Zaliczka: Nie

Uprawnienia:
Ocena spełniania warunków odbywa się na podstawie analizy wymaganych i dostarczonych przez wykonawcę dokumentów na zasadzie oceny: spełnia/nie spełnia.

Wiedza i doświadczenie:
Ocena spełniania warunków odbywa się na podstawie analizy wymaganych i dostarczonych przez wykonawcę dokumentów na zasadzie oceny: spełnia/nie spełnia.

Potencjał techniczny: nie dotyczy

Osoby zdolne do zrealizowania zamówienia: nie dotyczy

Sytuacja ekonomiczna:
Ocena spełniania warunków odbywa się na podstawie analizy wymaganych i dostarczonych przez wykonawcę dokumentów na zasadzie oceny: spełnia/nie spełnia.

Oświadczenie nr 3: Tak

Oświadczenie nr 7: Tak

Oświadczenie nr 10: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 1: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 2: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 3: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 4: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 7: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

III.7 osoby niepełnosprawne: Nie

Kod trybu postepowania: PN

Czy zmiana umowy: Nie

Kod kryterium cenowe: A

Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie

Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206).

Data składania wniosków, ofert: 22/07/2010

Godzina składania wniosków, ofert: 12:00

Miejsce składania:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206).

On: D

Termin związania ofertą, data do: 21/08/2010

Informacje dodatkowe:
Zakup finansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka

Czy unieważnienie postępowania: Nie

Podobne przetargi