Informacje o przetargach publicznych.
Site Search

210526 / 2012-06-20 - Podmiot prawa publicznego / Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk (Warszawa)

Profilometr optyczny

Opis zamówienia

Dostawa, zainstalowanie i uruchomienie fabrycznie nowego profilometru optycznego o następujących parametrach:
- umożliwia wykonywanie pomiarów struktury powierzchni przezroczystych polimerów (poliwęglan (PC), polidimetylosiloksan (PDMS), polipropylen(PP)) i szkła.
- posiada optyczny i bezkontaktowy system pomiaru
- umożliwia badanie głębokości i szerokości struktur powierzchni oraz uskoków powierzchni
- umożliwia pomiar objętości elementów powierzchni
- umożliwia obliczanie pola badanej powierzchni
- umożliwia obliczanie powierzchni przekroju poprzecznego
- stół XY z przesunięciem min. 100 mm x 100 mm
- posiada co najmniej dwie głowice czujnika bezstykowego, jedna o zakresie pomiarowym na osi Z 2 - 3 mm, a druga o zakresie pomiarowym na osi Z 100 - 150 µm
- wyposażone w urządzenie sterujące - komputer o minimalnych parametrach: procesor 2,4 GHz, pamięć RAM 2 GB, karta graficzna o pamięci 500 MB, dysk twardy 80 GB (SATA), nagrywarka CD/DVD ± RW (SATA), system operacyjny Windows 7, monitor LCD 19, klawiatura, mysz, karta sieciowa
- posiadające oprogramowanie umożliwiające:
- kontrolę pracy profilometru
-obserwację obrazu badanej powierzchni
- dokładne badanie uskoków powierzchni
- obliczanie objętości elementów powierzchni
- obliczanie pola badanej powierzchni
- obliczanie powierzchni przekroju poprzecznego badanych elementów powierzchni
- rejestracje danych i analizę wyników w wymiarze 2D i 3D wraz z pomiarem chropowatości
- prezentowanie wyników w kolorze w wymiarze 2D i 3D, wzdłuż osi X, wzdłuż osi Y
- eksportowanie wyników w postaci map bitowych
- eksportowanie wyników do formatu ASCII (oraz Mathlab)
- korekcja powierzchni na podstawie 3 punktow wyznaczanych przez użytkownika
- posiadające oprogramowanie kompatybilne z Win XP, Win Vista, Win 7 oraz ze standardowymi aplikacjami systemu Windows

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 210526

Data publikacji: 2012-06-20

Nazwa: Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk

Ulica: ul. Kasprzaka 44/52

Numer domu: 44/52

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 01-224

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 22 3433151

Numer faxu: 22 3433333

Adres strony internetowej: www.ichf.edu.pl

Regon: 00032604900000

Typ ogłoszenia: ZP-400

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Podmiot prawa publicznego

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Profilometr optyczny

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Dostawa, zainstalowanie i uruchomienie fabrycznie nowego profilometru optycznego o następujących parametrach:
- umożliwia wykonywanie pomiarów struktury powierzchni przezroczystych polimerów (poliwęglan (PC), polidimetylosiloksan (PDMS), polipropylen(PP)) i szkła.
- posiada optyczny i bezkontaktowy system pomiaru
- umożliwia badanie głębokości i szerokości struktur powierzchni oraz uskoków powierzchni
- umożliwia pomiar objętości elementów powierzchni
- umożliwia obliczanie pola badanej powierzchni
- umożliwia obliczanie powierzchni przekroju poprzecznego
- stół XY z przesunięciem min. 100 mm x 100 mm
- posiada co najmniej dwie głowice czujnika bezstykowego, jedna o zakresie pomiarowym na osi Z 2 - 3 mm, a druga o zakresie pomiarowym na osi Z 100 - 150 µm
- wyposażone w urządzenie sterujące - komputer o minimalnych parametrach: procesor 2,4 GHz, pamięć RAM 2 GB, karta graficzna o pamięci 500 MB, dysk twardy 80 GB (SATA), nagrywarka CD/DVD ± RW (SATA), system operacyjny Windows 7, monitor LCD 19, klawiatura, mysz, karta sieciowa
- posiadające oprogramowanie umożliwiające:
- kontrolę pracy profilometru
-obserwację obrazu badanej powierzchni
- dokładne badanie uskoków powierzchni
- obliczanie objętości elementów powierzchni
- obliczanie pola badanej powierzchni
- obliczanie powierzchni przekroju poprzecznego badanych elementów powierzchni
- rejestracje danych i analizę wyników w wymiarze 2D i 3D wraz z pomiarem chropowatości
- prezentowanie wyników w kolorze w wymiarze 2D i 3D, wzdłuż osi X, wzdłuż osi Y
- eksportowanie wyników w postaci map bitowych
- eksportowanie wyników do formatu ASCII (oraz Mathlab)
- korekcja powierzchni na podstawie 3 punktow wyznaczanych przez użytkownika
- posiadające oprogramowanie kompatybilne z Win XP, Win Vista, Win 7 oraz ze standardowymi aplikacjami systemu Windows

Kody CPV:
385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)

Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie

Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie

Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie

Czas: O

Okres w miesiącach: 3

Informacja na temat wadium: nie jest wymagane

Zaliczka: Nie

Oświadczenie wykluczenia nr 1: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 2: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

inne_dokumenty:
Dokładny opis techniczny oferowanego sprzętu z podaniem parametrów

III.7 osoby niepełnosprawne: Nie

Kod trybu postepowania: PN

Czy zmiana umowy: Nie

Kod kryterium cenowe: B

Znaczenie kryterium 1: 65

Nazwa kryterium 2: dodatkowe parametry urządzenia

Znaczenie kryterium 2: 35

Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie

Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
Instytut Chemii Fizycznej PAN
01-224 Warszawa
ul. Kasprzaka 44/52
pokój nr 36

Data składania wniosków, ofert: 09/07/2012

Godzina składania wniosków, ofert: 11:00

Miejsce składania:
Instytut Chemii Fizycznej PAN
01-224 Warszawa
ul. Kasprzaka 44/52
pokój nr 36

On: O

Termin związania ofertą, liczba dni: 30

Informacje dodatkowe:
Zakup finansowany z Projektu pt.: Microfluidic Combinatorial On Demand Systems: a Platform for High-Throughput Screening in Chemistry and Biotechnology-
Akronim: microCODE

Czy unieważnienie postępowania: Nie

Podobne przetargi

501358 / 2013-12-05 - Inny: Podmiot prawa publicznego

Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa do siedziby Zamawiającego fabrycznie nowego, nieużywanego: a) dalmierza laserowego (część I zamówienia), b) miernika pola elektromagnetycznego (część II zamówienia), c) nanowoltomierza selektywnego (część III zamówienia), d) analogowego modułu pomiarowego wysokich napięć (część IV zamówienia), e) interrogatora optycznego (część V zamówienia), f) przenośnego kalibratora drgań (część VI zamówienia).

351174 / 2013-08-30 - Podmiot prawa publicznego

Wojskowy Instytut Higieny i Epidemiologii im. gen. Karola Kaczkowskiego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa urządzenia do przeprowadzania reakcji PCR w czasie rzeczywistym (Real-Time) dla Zakładu Farmakologii i Toksykologii WIHiE w Warszawie

2512 / 2016-01-05 - Inny: Instytut badawczy

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa urządzenia do bezaglomeracyjnej desolwatacji zawiesin zawierających nanoobiekty wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie

135368 / 2011-05-31 - Uczelnia publiczna

Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego w Warszawie, Dział Inwestycji i Nadzoru Technicznego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
DOSTAWA I MONTAŻ APARATURY I URZĄDZEŃ BADAWCZYCH DLA CENTRUM NAUKOWO-DYDAKTYCZNEGO WYDZIAŁU BUDOWNICTWA I INŻYNIERII ŚRODOWISKA SGGW - CENTRUM WODNE W WARSZAWIE - ZADAŃ 4

354896 / 2009-10-12 - Podmiot prawa publicznego

Wojskowy Instytut Medycyny Lotniczej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa elementu systemu z czujnikami optycznymi do pomiaru drgań - komputer przenośny

29275 / 2012-02-03 - Uczelnia publiczna

Warszawski Uniwersytet Medyczny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa sprzętu laboratoryjnego wraz z instalacją oraz szkoleniem, w podziale na pakiety: Pakiet nr 1 - Dostawa zestawu do elektroforezy DNA, Pakiet nr 2 - Dostawa licznika do automatycznego zliczania komórek, Pakiet nr 3 - Dostawa sterylizatora parowego ze stacją uzdatniania wody, Pakiet nr 4 - Dostawa automatycznej myjni mikropłytek, Pakiet nr 5 - Dostawa wyparek próżniowych. Znak sprawy: AEZ/S-029/2012

403346 / 2013-10-04 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski Wydział Biologii - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Przetarg nieograniczony nr WB-37/CENT-19W/13 na sprzedaż i dostawę stanowiska pomiarowego

302289 / 2008-11-06 - Inny: Jednostka badawczo-rozwojowa

Instytut Energetyki Jednostka Badawczo-Rozwojowa - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa kompletnego systemu skanujÄ…cego do digitalizacji laserowej i kontaktowej powierzchni metalu

46992 / 2016-03-02 - Uczelnia publiczna

Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa kamery obserwacyjnej oraz biurowego urzÄ…dzenia wielofunkcyjnego

161312 / 2009-05-21 - Inny: Jednostka Badawczo-Rozwojowa

Instytut Lotnictwa - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Zakup wyposażenia do badań metalograficznych: szlifierko-polerki, przecinarki i praski do inkludowania

476700 / 2013-11-21 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Kardynała Stefana Wyszyńskiego w Warszawie - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa urządzeń pomiarowych oraz sprzętu antropologicznego dla Wydziału Filozofii Chrześcijańskiej UKSW w Warszawie

255862 / 2009-07-28 - Uczelnia publiczna

Akademia Wychowania Fizycznego Józefa Piłsudskiego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa dynamometrów do pomiaru siły ścisku ręki do Akademii Wychowania Fizycznego J. Piłsudskiego w Warszawie

512790 / 2012-12-14 - Uczelnia publiczna

Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego - SZP - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Stanowisko do pomiaru odkształceń płyt meblowych dla Wydziału Technologii Drewna SGGW w Warszawie

270721 / 2011-10-14 - Inny: instytut badawczy

Państwowy Instytut Geologiczny - Państwowy Instytut Badawczy - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Przedmiotem zamówienia jest: dostawa i instalacja optycznego spektrometru emisyjnego ze wzbudzeniem w plazmie indukcyjnie sprzężonej (ICP-OES) wraz z wyposażeniem dodatkowym i szkoleniem.