210526 / 2012-06-20 - Podmiot prawa publicznego / Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk (Warszawa)
Profilometr optyczny
Opis zamówienia
Dostawa, zainstalowanie i uruchomienie fabrycznie nowego profilometru optycznego o następujących parametrach:
- umożliwia wykonywanie pomiarów struktury powierzchni przezroczystych polimerów (poliwęglan (PC), polidimetylosiloksan (PDMS), polipropylen(PP)) i szkła.
- posiada optyczny i bezkontaktowy system pomiaru
- umożliwia badanie głębokości i szerokości struktur powierzchni oraz uskoków powierzchni
- umożliwia pomiar objętości elementów powierzchni
- umożliwia obliczanie pola badanej powierzchni
- umożliwia obliczanie powierzchni przekroju poprzecznego
- stół XY z przesunięciem min. 100 mm x 100 mm
- posiada co najmniej dwie głowice czujnika bezstykowego, jedna o zakresie pomiarowym na osi Z 2 - 3 mm, a druga o zakresie pomiarowym na osi Z 100 - 150 µm
- wyposażone w urządzenie sterujące - komputer o minimalnych parametrach: procesor 2,4 GHz, pamięć RAM 2 GB, karta graficzna o pamięci 500 MB, dysk twardy 80 GB (SATA), nagrywarka CD/DVD ± RW (SATA), system operacyjny Windows 7, monitor LCD 19, klawiatura, mysz, karta sieciowa
- posiadające oprogramowanie umożliwiające:
- kontrolę pracy profilometru
-obserwację obrazu badanej powierzchni
- dokładne badanie uskoków powierzchni
- obliczanie objętości elementów powierzchni
- obliczanie pola badanej powierzchni
- obliczanie powierzchni przekroju poprzecznego badanych elementów powierzchni
- rejestracje danych i analizę wyników w wymiarze 2D i 3D wraz z pomiarem chropowatości
- prezentowanie wyników w kolorze w wymiarze 2D i 3D, wzdłuż osi X, wzdłuż osi Y
- eksportowanie wyników w postaci map bitowych
- eksportowanie wyników do formatu ASCII (oraz Mathlab)
- korekcja powierzchni na podstawie 3 punktow wyznaczanych przez użytkownika
- posiadające oprogramowanie kompatybilne z Win XP, Win Vista, Win 7 oraz ze standardowymi aplikacjami systemu Windows
Numer biuletynu: 1
Pozycja w biuletynie: 210526
Data publikacji: 2012-06-20
Nazwa: Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Ulica: ul. Kasprzaka 44/52
Numer domu: 44/52
Miejscowość: Warszawa
Kod pocztowy: 01-224
Województwo / kraj: mazowieckie
Numer telefonu: 22 3433151
Numer faxu: 22 3433333
Adres strony internetowej: www.ichf.edu.pl
Regon: 00032604900000
Typ ogłoszenia: ZP-400
Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak
Ogłoszenie dotyczy: 1
Rodzaj zamawiającego: Podmiot prawa publicznego
Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Profilometr optyczny
Rodzaj zamówienia: D
Przedmiot zamówienia:
Dostawa, zainstalowanie i uruchomienie fabrycznie nowego profilometru optycznego o następujących parametrach:
- umożliwia wykonywanie pomiarów struktury powierzchni przezroczystych polimerów (poliwęglan (PC), polidimetylosiloksan (PDMS), polipropylen(PP)) i szkła.
- posiada optyczny i bezkontaktowy system pomiaru
- umożliwia badanie głębokości i szerokości struktur powierzchni oraz uskoków powierzchni
- umożliwia pomiar objętości elementów powierzchni
- umożliwia obliczanie pola badanej powierzchni
- umożliwia obliczanie powierzchni przekroju poprzecznego
- stół XY z przesunięciem min. 100 mm x 100 mm
- posiada co najmniej dwie głowice czujnika bezstykowego, jedna o zakresie pomiarowym na osi Z 2 - 3 mm, a druga o zakresie pomiarowym na osi Z 100 - 150 µm
- wyposażone w urządzenie sterujące - komputer o minimalnych parametrach: procesor 2,4 GHz, pamięć RAM 2 GB, karta graficzna o pamięci 500 MB, dysk twardy 80 GB (SATA), nagrywarka CD/DVD ± RW (SATA), system operacyjny Windows 7, monitor LCD 19, klawiatura, mysz, karta sieciowa
- posiadające oprogramowanie umożliwiające:
- kontrolę pracy profilometru
-obserwację obrazu badanej powierzchni
- dokładne badanie uskoków powierzchni
- obliczanie objętości elementów powierzchni
- obliczanie pola badanej powierzchni
- obliczanie powierzchni przekroju poprzecznego badanych elementów powierzchni
- rejestracje danych i analizę wyników w wymiarze 2D i 3D wraz z pomiarem chropowatości
- prezentowanie wyników w kolorze w wymiarze 2D i 3D, wzdłuż osi X, wzdłuż osi Y
- eksportowanie wyników w postaci map bitowych
- eksportowanie wyników do formatu ASCII (oraz Mathlab)
- korekcja powierzchni na podstawie 3 punktow wyznaczanych przez użytkownika
- posiadające oprogramowanie kompatybilne z Win XP, Win Vista, Win 7 oraz ze standardowymi aplikacjami systemu Windows
Kody CPV:
385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie
Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie
Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie
Czas: O
Okres w miesiącach: 3
Informacja na temat wadium: nie jest wymagane
Zaliczka: Nie
Oświadczenie wykluczenia nr 1: Tak
Oświadczenie wykluczenia nr 2: Tak
Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak
inne_dokumenty:
Dokładny opis techniczny oferowanego sprzętu z podaniem parametrów
III.7 osoby niepełnosprawne: Nie
Kod trybu postepowania: PN
Czy zmiana umowy: Nie
Kod kryterium cenowe: B
Znaczenie kryterium 1: 65
Nazwa kryterium 2: dodatkowe parametry urządzenia
Znaczenie kryterium 2: 35
Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie
Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
Instytut Chemii Fizycznej PAN
01-224 Warszawa
ul. Kasprzaka 44/52
pokój nr 36
Data składania wniosków, ofert: 09/07/2012
Godzina składania wniosków, ofert: 11:00
Miejsce składania:
Instytut Chemii Fizycznej PAN
01-224 Warszawa
ul. Kasprzaka 44/52
pokój nr 36
On: O
Termin związania ofertą, liczba dni: 30
Informacje dodatkowe:
Zakup finansowany z Projektu pt.: Microfluidic Combinatorial On Demand Systems: a Platform for High-Throughput Screening in Chemistry and Biotechnology-
Akronim: microCODE
Czy unieważnienie postępowania: Nie
Podobne przetargi
501358 / 2013-12-05 - Inny: Podmiot prawa publicznego
Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa do siedziby Zamawiającego fabrycznie nowego, nieużywanego:
a) dalmierza laserowego (część I zamówienia),
b) miernika pola elektromagnetycznego (część II zamówienia),
c) nanowoltomierza selektywnego (część III zamówienia),
d) analogowego modułu pomiarowego wysokich napięć (część IV zamówienia),
e) interrogatora optycznego (część V zamówienia),
f) przenośnego kalibratora drgań (część VI zamówienia).
351174 / 2013-08-30 - Podmiot prawa publicznego
Wojskowy Instytut Higieny i Epidemiologii im. gen. Karola Kaczkowskiego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa urządzenia do przeprowadzania reakcji PCR w czasie rzeczywistym (Real-Time) dla Zakładu Farmakologii i Toksykologii WIHiE w Warszawie
122829 / 2010-05-13 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy - Radom (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa systemu do badań wytrzymałościowych materiałów,numer sprawy: BG/09/2010
380792 / 2013-09-19 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Mikroskop metalograficzny, oznaczenie sprawy WIM/ZP/18/2013
189807 / 2013-09-18 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy - Radom (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa systemu napylarek próżniowych, numer sprawy: BW/12/2013
2512 / 2016-01-05 - Inny: Instytut badawczy
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa urządzenia do bezaglomeracyjnej desolwatacji zawiesin zawierających nanoobiekty wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
135368 / 2011-05-31 - Uczelnia publiczna
Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego w Warszawie, Dział Inwestycji i Nadzoru Technicznego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
DOSTAWA I MONTAÅ» APARATURY I URZÄ„DZEŃ BADAWCZYCH DLA CENTRUM NAUKOWO-DYDAKTYCZNEGO WYDZIAÅU BUDOWNICTWA I INÅ»YNIERII ÅšRODOWISKA SGGW - CENTRUM WODNE W WARSZAWIE - ZADAŃ 4
370632 / 2010-11-16 - Inny: Instytut PAN
Instytut Biochemii i Biofizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
DOSTAWA DWÓCH TERMOCYKLERÓW GRADIENTOWYCH WRAZ Z BLOKIEM 1x96 - TG PN 11 10
354896 / 2009-10-12 - Podmiot prawa publicznego
Wojskowy Instytut Medycyny Lotniczej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa elementu systemu z czujnikami optycznymi do pomiaru drgań - komputer przenośny
29275 / 2012-02-03 - Uczelnia publiczna
Warszawski Uniwersytet Medyczny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa sprzętu laboratoryjnego wraz z instalacją oraz szkoleniem, w podziale
na pakiety: Pakiet nr 1 - Dostawa zestawu do elektroforezy DNA, Pakiet nr 2 - Dostawa licznika do automatycznego zliczania komórek, Pakiet nr 3 - Dostawa sterylizatora parowego ze stacją uzdatniania wody, Pakiet nr 4 - Dostawa automatycznej myjni mikropłytek, Pakiet nr 5 - Dostawa wyparek próżniowych. Znak sprawy: AEZ/S-029/2012
86909 / 2015-06-15 - Inny: Państwowy Instytut Badawczy
Centralny Instytut Ochrony Pracy - Państwowy Instytut Badawczy - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
TA/ZP-32/2015 dostawa zestawu do real-time PCR z wyposażeniem
25381 / 2012-01-30 - Inny: instytut badawczy
Instytut Transportu Samochodowego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa linii diagnostycznej
53070 / 2011-03-24 - Inny: Instytut naukowo-badawczy
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
DZPIE/007-2011 - Dwie linie prekursorowe do reaktora ALD
377115 / 2008-12-23 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Hematologii i Transfuzjologii - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa aparatury laboratoryjnej/ zadania 1-5/
403346 / 2013-10-04 - Uczelnia publiczna
Uniwersytet Warszawski Wydział Biologii - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Przetarg nieograniczony nr WB-37/CENT-19W/13 na sprzedaż i dostawę stanowiska pomiarowego
302289 / 2008-11-06 - Inny: Jednostka badawczo-rozwojowa
Instytut Energetyki Jednostka Badawczo-Rozwojowa - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa kompletnego systemu skanujÄ…cego do digitalizacji laserowej i kontaktowej powierzchni metalu
46992 / 2016-03-02 - Uczelnia publiczna
Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa kamery obserwacyjnej oraz biurowego urzÄ…dzenia wielofunkcyjnego
161312 / 2009-05-21 - Inny: Jednostka Badawczo-Rozwojowa
Instytut Lotnictwa - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Zakup wyposażenia do badań metalograficznych: szlifierko-polerki, przecinarki i praski do inkludowania
476700 / 2013-11-21 - Uczelnia publiczna
Uniwersytet Kardynała Stefana Wyszyńskiego w Warszawie - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa urządzeń pomiarowych oraz sprzętu antropologicznego dla Wydziału Filozofii Chrześcijańskiej UKSW w Warszawie
217025 / 2011-08-11 - Inny: Instytut badawczy
Instytut Lotnictwa - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
dostawa systemu do prób statycznych i dynamicznych
255862 / 2009-07-28 - Uczelnia publiczna
Akademia Wychowania Fizycznego Józefa Piłsudskiego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa dynamometrów do pomiaru siły ścisku ręki do Akademii Wychowania Fizycznego J. Piłsudskiego w Warszawie
512790 / 2012-12-14 - Uczelnia publiczna
Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego - SZP - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Stanowisko do pomiaru odkształceń płyt meblowych dla Wydziału Technologii Drewna SGGW w Warszawie
270721 / 2011-10-14 - Inny: instytut badawczy
Państwowy Instytut Geologiczny - Państwowy Instytut Badawczy - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Przedmiotem zamówienia jest: dostawa i instalacja optycznego spektrometru emisyjnego ze wzbudzeniem w plazmie indukcyjnie sprzężonej (ICP-OES) wraz z wyposażeniem dodatkowym i szkoleniem.