Informacje o przetargach publicznych.
Site Search

369974 / 2013-09-12 - Inny: Instytut badawczy / Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych (Warszawa)

Dostawa elipsometru spektralnego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie

Opis zamówienia

Przedmiotem zamówienia jest dostawa (rozumiana jako sprzedaż, dostarczenie do siedziby zamawiającego, montaż, zainstalowanie, uruchomienie oraz przetestowanie) kompletnego, fabrycznie nowego, elipsometru spektralnego do pomiaru warstw przezroczystych i częściowo przezroczystych jedno- i wielo- warstwowych próbek na większości rodzajów podłoży krystalicznych i metalicznych wraz z wyposażeniem. Szczegółowe parametry techniczne urządzenia stanowiącego przedmiot niniejszego zamówienia określa załącznik nr 1 do specyfikacji istotnych warunków zamówienia pt. Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia. Zmówienie obejmuje również przeszkolenie wskazanych pracowników Zamawiającego w zakresie obsługi zamawianych urządzeń.

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 369974

Data publikacji: 2013-09-12

Nazwa: Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Ulica: ul. Wólczyńska 133

Numer domu: 133

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 01-919

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 022 8353041 w. 407

Regon: 00003902500000

Typ ogłoszenia: ZP-400

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Inny: Instytut badawczy

Inny rodzaj zamawiającego: Instytut badawczy

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dostawa elipsometru spektralnego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa (rozumiana jako sprzedaż, dostarczenie do siedziby zamawiającego, montaż, zainstalowanie, uruchomienie oraz przetestowanie) kompletnego, fabrycznie nowego, elipsometru spektralnego do pomiaru warstw przezroczystych i częściowo przezroczystych jedno- i wielo- warstwowych próbek na większości rodzajów podłoży krystalicznych i metalicznych wraz z wyposażeniem. Szczegółowe parametry techniczne urządzenia stanowiącego przedmiot niniejszego zamówienia określa załącznik nr 1 do specyfikacji istotnych warunków zamówienia pt. Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia. Zmówienie obejmuje również przeszkolenie wskazanych pracowników Zamawiającego w zakresie obsługi zamawianych urządzeń.

Kody CPV:
385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)

Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie

Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie

Czy jest dialog: Nie

Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie

Czas: O

Okres trwania zamówienia w dniach: 168

Zaliczka: Nie

Wiedza i doświadczenie:
Zamawiający dokona oceny spełnienia przez wykonawców warunków udziału w postępowaniu na podstawie dokumentacji złożonej przez wykonawców stosując kryterium spełnia - nie spełnia

Oświadczenie nr 4: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 1: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 2: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 3: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 4: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

III.7 osoby niepełnosprawne: Nie

Kod trybu postepowania: PN

Czy zmiana umowy: Tak

Zmiana umowy:
W szczególnie uzasadnionych przypadkach zamawiający dopuszcza istotne zmiany treści umowy w przypadku:
1. Zmiany powszechnie obowiązujących przepisów prawa, w zakresie mającym wpływ na realizację przedmiotu zamówienia lub świadczenia stron.
2. Zaistnienia obiektywnych, niezależnych od stron przeszkód w realizacji umowy (siła wyższa) w terminie umownym.
3. Zmiany stawki podatku od towarów i usług (VAT) - w tym przypadku może ulec zmianie wynagrodzenie wykonawcy o kwotę wynikającą ze zmienionych stawek ww. podatku obowiązujących w dacie powstania obowiązku podatkowego w trakcie trwania umowy.
Ponadto zamawiający dopuszcza zmianę treści umowy w zakresie:
1. Zmiany typu/modelu urządzeń lub rodzaju materiałów stanowiących przedmiot zamówienia pod warunkiem, że dostarczone materiały/urządzenia będą w ocenie Zamawiającego o parametrach technicznych wyraźnie lepszych od oferowanych pierwotnie a zmiana ta nie spowoduje zwiększenia ceny oferty.
2. Zmniejszenia ceny wykonania zamówienia bez zmiany pozostałych warunków jego realizacji np. z tytułu udzielenia dodatkowych rabatów.
Zmiana umowy w każdym przypadku wymaga formy pisemnej.

Kod kryterium cenowe: A

Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
budynek nr 2, pok. 164
ul. Wólczyńska 133
01-919 Warszawa

Data składania wniosków, ofert: 26/09/2013

Godzina składania wniosków, ofert: 10:45

Miejsce składania:
budynek nr 2, pok. 162
ul. Wólczyńska 133
01-919 Warszawa

On: O

Termin związania ofertą, liczba dni: 30

Czy unieważnienie postępowania: Nie

Podobne przetargi

148159 / 2013-07-19 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska - Wydział Fizyki - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa stacji próbnikowej z osprzętem do pomiarów elektrycznych dla Wydziału Fizyki PW

161390 / 2013-04-23 - Inny: Państwowy Instytut Badawczy

Centrum Naukowo-Badawcze Ochrony Przeciwpożarowej - Józefów k/Otwocka (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa sprzętu kontrolno-pomiarowego do badania korozji zewnętrznej gaśnic przenośnych i przewoźnych wg PN-EN 3-7 oraz PN-EN 1866-1

436046 / 2013-10-25 - Uczelnia publiczna

Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
STANOWISKO DO ZAPISU SIATEK BRAGGA WE WŁÓKNACH ŚWIATŁOWODOWYCH

151993 / 2011-05-31 - Uczelnia publiczna

Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
DOSTAWA FABRYCZNIE NOWEGO ELIPSOMETRU SPEKTROSKOPOWEGO DO POMIARÓW WŁAŚCIWOŚCI OPTYCZNYCH I GRUBOŚCI CIENKICH WARSTW W ZAKRESIE DŁUGOŚCI FAL PRZYNAJMNIEJ 250-1600 NM, Z OPROGRAMOWANIEM, WYPOSAŻENIEM, SPRZĘTEM KOMPUTEROWYM, ZAMONTOWANIEM, URUCHOMIENIEM, TESTAMI I PRZESZKOLENIEM W SIEDZIBIE ZAMAWIAJĄCEGO

421122 / 2014-12-30 - Podmiot prawa publicznego

Narodowy Instytut Zdrowia Publicznego-Państwowy Zakład Higieny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Leasing operacyjny urządzenia umożliwiającego przeprowadzanie ilościowej reakcji PCR w czasie rzeczywistym

302289 / 2008-11-06 - Inny: Jednostka badawczo-rozwojowa

Instytut Energetyki Jednostka Badawczo-Rozwojowa - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa kompletnego systemu skanujÄ…cego do digitalizacji laserowej i kontaktowej powierzchni metalu

391384 / 2011-11-22 - Podmiot prawa publicznego

Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy - Radom (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa zestawu do bezstykowego, światłowodowego pomiaru temperatury, numer sprawy: BA/18/2011

210630 / 2012-06-20 - Podmiot prawa publicznego

Wojskowy Instytut Higieny i Epidemiologii im. gen. Karola Kaczkowskiego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa sprzętu laboratoryjnego dla Ośrodka Diagnostyki i Zwalczania Zagrożeń Biologicznych WIHiE w Puławach

252651 / 2012-11-29 - Inny: Instytut badawczy

Instytut Tele- i Radiotechniczny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa stanowiska do badań urządzeń i podzespołów elektronicznych w dwóch strefach temperaturowych

235646 / 2011-08-08 - Inny: Instytut naukowo-badawczy

Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
DZPIE/016/2011 - Doposażenie systemu Nano Workstation ZEISS Neon 40 o rentgenowski spektrometr energii EDX (Energy Dispersive XRay Spectroscopy) oraz zakup systemu katodoluminescencji CL

304186 / 2015-11-10 - Administracja rzÄ…dowa centralna

Generalna Dyrekcja Dróg Krajowych i Autostrad Oddział w Warszawie - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Zakup i dostawa aparatury kontrolnej i badawczej do Wydziału Technologii - Laboratorium Drogowego Generalnej Dyrekcji Dróg Krajowych i Autostrad Oddział w Warszawie z siedzibą w m. Opacz Kolonia ul. Środkowa 35C, w podziale na 9 zadań:

193094 / 2014-06-06 - Inny: instytut badawczy

Instytut Energetyki Oddział Techniki Grzewczej i Sanitarnej w Radomiu - Radom (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa w ramach Laboratorium Bezpieczeństwa Sprzętu AGD w ramach projektu Wspieranie powiązań i rozwój produktów branży AGD współfinansowanego przez Unię Europejską ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego Działanie 5.1. Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka 2007-2013

271016 / 2013-07-11 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski Wydział Biologii - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Przetarg nieograniczony na sprzedaż i dostawę systemu do transfekcji motoda balistyczną Wb/37/05/13

433548 / 2012-11-06 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski Wydział Biologii - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Przetarg nieograniczony nr WB/CENT-27/12 na zakup zmywarki do skzła laboratoryjnego

72747 / 2012-03-29 - Podmiot prawa publicznego

Instytut Wysokich Ciśnień PAN - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa fabrycznie nowego analizatora widma optycznego oraz fabrycznie nowego źródła światła białego typu superkontinuum na stanowisko do charakteryzacji struktur laserów półprzewodnikowych

420144 / 2013-10-16 - Inny: Instytut badawczy

Państwowy Instytut Geologiczny - Państwowy Instytut Badawczy - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa piknometru helowego dla Państwowego Instytutu Geologicznego-Państwowego Instytutu Badawczego

21208 / 2010-01-25 - Inny: jednostka badawczo rozwojowa

Instytut Chemii i Techniki JÄ…drowej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa Fluorescencyjnego czytnika mikropłytek w ramach projektu pt. Opracowanie wieloparametrowego testu triage do oceny narażenia ludności na promieniowanie jonizujące