Informacje o przetargach publicznych.
Site Search

151993 / 2011-05-31 - Uczelnia publiczna / Wojskowa Akademia Techniczna (Warszawa)

DOSTAWA FABRYCZNIE NOWEGO ELIPSOMETRU SPEKTROSKOPOWEGO DO POMIARÓW WŁAŚCIWOŚCI OPTYCZNYCH I GRUBOŚCI CIENKICH WARSTW W ZAKRESIE DŁUGOŚCI FAL PRZYNAJMNIEJ 250-1600 NM, Z OPROGRAMOWANIEM, WYPOSAŻENIEM, SPRZĘTEM KOMPUTEROWYM, ZAMONTOWANIEM, URUCHOMIENIEM, TESTAMI I PRZESZKOLENIEM W SIEDZIBIE ZAMAWIAJĄCEGO

Opis zamówienia

Przedmiotem zamówienia jest dostawa fabrycznie nowego elipsometru spektroskopowego do pomiarów właściwości optycznych i grubości cienkich warstw w zakresie długości fal przynajmniej 250-1600 nm, z oprogramowaniem, wyposażeniem, sprzętem komputerowym, zamontowaniem, uruchomienie, testami i przeszkoleniem w siedzibie zamawiającego.
Zestawienie wymaganych parametrów technicznych w załączniku Nr 5 do SIWZ

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 151993

Data publikacji: 2011-05-31

Nazwa: Wojskowa Akademia Techniczna

Ulica: ul. Kaliskiego 2

Numer domu: 2

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 00-908

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 022 6837865

Numer faxu: 022 6837977

Adres strony internetowej: www.wat.edu.pl

Regon: 01212290000000

Typ ogłoszenia: ZP-400

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
DOSTAWA FABRYCZNIE NOWEGO ELIPSOMETRU SPEKTROSKOPOWEGO DO POMIARÓW WŁAŚCIWOŚCI OPTYCZNYCH I GRUBOŚCI CIENKICH WARSTW W ZAKRESIE DŁUGOŚCI FAL PRZYNAJMNIEJ 250-1600 NM, Z OPROGRAMOWANIEM, WYPOSAŻENIEM, SPRZĘTEM KOMPUTEROWYM, ZAMONTOWANIEM, URUCHOMIENIEM, TESTAMI I PRZESZKOLENIEM W SIEDZIBIE ZAMAWIAJĄCEGO

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa fabrycznie nowego elipsometru spektroskopowego do pomiarów właściwości optycznych i grubości cienkich warstw w zakresie długości fal przynajmniej 250-1600 nm, z oprogramowaniem, wyposażeniem, sprzętem komputerowym, zamontowaniem, uruchomienie, testami i przeszkoleniem w siedzibie zamawiającego.
Zestawienie wymaganych parametrów technicznych w załączniku Nr 5 do SIWZ

Kody CPV:
385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)

Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie

Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie

Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie

Czas: O

Okres trwania zamówienia w dniach: 112

Zaliczka: Nie

Oświadczenie wykluczenia nr 1: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 2: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 7: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

inne_dokumenty:
1)Formularz ofertowy stanowiący załącznik nr 1 do SIWZ,
2)Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia stanowiący załącznik nr 3 do SIWZ,
3)pełnomocnictwo do podpisania oferty, jeżeli nie wynika ono z załączonych dokumentów wymaganych postanowieniami pkt 5 SIWZ.
4)oświadczenia i dokumenty, w formie oryginału lub kserokopii wymienione w pkt 5 SIWZ.

III.7 osoby niepełnosprawne: Nie

Kod trybu postepowania: PN

Czy zmiana umowy: Tak

Zmiana umowy:
Dopuszcza się możliwość zmiany przedmiotu zamówienia po podpisaniu umowy, pod warunkiem wycofania z produkcji objętego umową (modelu lub typu) i zastąpienie ich nowocześniejszymi modelami o lepszych parametrach technicznych korzystniejszych dla Zamawiającego z zachowaniem formy pisemnej poprzez wprowadzenie aneksu do umowy

Kod kryterium cenowe: A

Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie

Adres strony internetowej specyfikacji i warunków zamówienia: www.wat.edu.pl

Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
Sekcja Zamówień Publicznych WAT, 00-908 Warszawa, ul. gen. Sylwestra Kaliskiego 2, Budynek Nr 22, pokój Nr 6

Data składania wniosków, ofert: 09/06/2011

Godzina składania wniosków, ofert: 09:00

Miejsce składania:
Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego, 00-908 Warszawa 49, skr. poczt. 50, ul. gen. Sylwestra Kaliskiego 2,
Sekcja Zamówień Publicznych

On: O

Termin związania ofertą, liczba dni: 30

Czy unieważnienie postępowania: Nie

Podobne przetargi

501358 / 2013-12-05 - Inny: Podmiot prawa publicznego

Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa do siedziby Zamawiającego fabrycznie nowego, nieużywanego: a) dalmierza laserowego (część I zamówienia), b) miernika pola elektromagnetycznego (część II zamówienia), c) nanowoltomierza selektywnego (część III zamówienia), d) analogowego modułu pomiarowego wysokich napięć (część IV zamówienia), e) interrogatora optycznego (część V zamówienia), f) przenośnego kalibratora drgań (część VI zamówienia).

132376 / 2013-04-04 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski Wydział Geologii - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa aparatury badawczej do laboratoriów Wydziału Geologii Uniwersytetu Warszawskiego

361807 / 2008-12-12 - Inny: Jednostka Badawczo- Rozwojowa

Centrum Naukowo-Badawcze Ochrony Przeciwpożarowej - Józefów k/Otwocka (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa aparatury pomiarowej do stanowiska do badania wyrobów budowlanych poddanych oddziaływaniu termicznemu pojedynczego płnącego przedmiotu.

403346 / 2013-10-04 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski Wydział Biologii - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Przetarg nieograniczony nr WB-37/CENT-19W/13 na sprzedaż i dostawę stanowiska pomiarowego

54880 / 2015-03-12 - Podmiot prawa publicznego

Instytut Farmaceutyczny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
DOSTAWA STACJI ROBOCZEJ DO SYNTEZ ORAZ URZĄDZENIA DO ROZDRABIANIA SUBSTANCJI STAŁYCH ADZP 240-7/15

93731 / 2014-04-30 - Inny: Instytut naukowo-badawczy

Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
DZPIE/008-III/2014 - Podzespoły do kinetycznych badań optycznych metodą TCSPC

236004 / 2014-07-15 - Inny: Instytut Badawczy

Wojskowy Instytut Techniczny Uzbrojenia - Zielonka (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA DOSTAWA: SYSTEMU DO BADANIA ODPORNOŚCI NA ZABURZENIA PRZEWODZONE WRAZ Z AKCESORIAMI

235646 / 2011-08-08 - Inny: Instytut naukowo-badawczy

Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
DZPIE/016/2011 - Doposażenie systemu Nano Workstation ZEISS Neon 40 o rentgenowski spektrometr energii EDX (Energy Dispersive XRay Spectroscopy) oraz zakup systemu katodoluminescencji CL

261890 / 2011-08-26 - Podmiot prawa publicznego

Instytut Technologii Elektronowej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa urządzenia do optycznej analizy mikrosystemów - profilometr optyczny wraz z modułem

72747 / 2012-03-29 - Podmiot prawa publicznego

Instytut Wysokich Ciśnień PAN - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa fabrycznie nowego analizatora widma optycznego oraz fabrycznie nowego źródła światła białego typu superkontinuum na stanowisko do charakteryzacji struktur laserów półprzewodnikowych

68457 / 2013-05-07 - Inny: instytut badawczy

Państwowy Instytut Geologiczny - Państwowy Instytut Badawczy - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa laboratoryjnego separatora magnetycznego Franz Magnetic Barrier Laboratory Separator - Model LB-1 wraz z wyposażeniem i instrukcją dla użytkownika