267768 / 2008-12-30 - Podmiot prawa publicznego / Instytut Podstawowych Problemów Techniki Polskiej Akademii Nauk (Warszawa)

Ogłoszenie zawiera informacje aktualizacyjne dotyczące publikacji w biuletynie 1 z dnia 2008-10-14 pod pozycją 232880. Zobacz ogłoszenie 232880 / 2008-10-14 - Podmiot prawa publicznego.

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 267768

Data publikacji: 2008-12-30

Nazwa:
Instytut Podstawowych Problemów Techniki Polskiej Akademii Nauk

Ulica: ul. Świętokrzyska 21

Numer domu: 21

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 00-049

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: (022) 826 65 08

Numer faxu: (022) 826 98 15

Regon: 00032602600000

Typ ogłoszenia: ZP-403

Numer biuletynu: 1

Numer pozycji: 232880

Data wydania biuletynu: 2008-10-14

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Czy zamówienie było ogłoszone w BZP: Tak

Rok ogłoszenia: 2008

Pozycja ogłoszenia: 232880

Czy w BZP zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie: Nie

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Podmiot prawa publicznego

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Przetarg na dostawę: 1). systemu przestrzennego pomiaru pól odkształceń metoda elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI; 2). zestawu pomiarowego cyfrowego mikrometru optycznego; 3). zestawu ekstensometrów do pomiarów wysokotemperaturowych

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa wysokiej klasy, fabrycznie nowego: 1). systemu przestrzennego pomiaru odkształceń metodą elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI, wyposażonego w trójwymiarową głowicę optyczną z dioda laserową, kamerą CCD do rejestracji obrazów oraz optykę oświetlenia; 2). zestawu pomiarowego cyfrowego mikrometru optycznego (digital optical micrometer), przeznaczonego do bezdotykowych pomiarów wielkości geometrycznych, takich jak średnica przedmiotu osiowosymetrycznego, odległość pomiędzy krawędziami przedmiotu lub odległość pomiędzy przedmiotami; 3). dwóch ekstensometrów
wysokotemperaturowych do pomiarów zmian odkształceń próbki w kierunku równoległym do kierunku obciążenia (wydłużenie) oraz w kierunku poprzecznym (przewężenie)

Szacunkowa wartość zamówienia: 347250.00

Kod waluty: 1

Waluta (PLN): PLN

Kod trybu postepowania: PN

Czy zamówienie dotyczy programu UE: Nie

Nazwa:
Dostawa systemu przestrzennego pomiaru odkształceń metodą elektronicznej interferometrii
plamkowej ESPI

Nr częsci: 1

Data udzielenie zamówienia: 17/11/2008

Liczba ofert: 1

Nazwa wykonawcy: ELHYS Sp. z o.o

Adres pocztowy wykonawcy: ul. Naukowa 45

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 02-463

ID województwa: 6

Województwo / kraj: mazowieckie

Cena wybranej oferty: 245900.00

Cena minimalna: 245900.00

Cena maksymalna: 245900.00

Kod waluty: 1

Waluta (PLN): PLN

Nazwa:
Dostawa zestawu pomiarowego cyfrowego mikrometru optycznego

Nr częsci: 2

Data udzielenie zamówienia: 17/11/2008

Liczba ofert: 1

Nazwa wykonawcy: KEYENCE Deutschland GmbH

Adres pocztowy wykonawcy: Siemensstr. 1

Miejscowość: 63263 Neu-Isenburg

ID województwa: 37

Województwo / kraj: Niemcy

Cena wybranej oferty: 54000.00

Cena minimalna: 54000.00

Cena maksymalna: 54000.00

Kod waluty: 1

Waluta (PLN): PLN

Nazwa:
Dostawa dwóch ekstensometrów wysokotemperaturowych

Nr częsci: 3

Data udzielenie zamówienia: 17/11/2008

Liczba ofert: 1

Nazwa wykonawcy: ELHYS Sp. z o.o.

Adres pocztowy wykonawcy: ul. Naukowa 45

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 02-463

ID województwa: 6

Województwo / kraj: mazowieckie

Cena wybranej oferty: 47350.00

Cena minimalna: 47350.00

Cena maksymalna: 47350.00

Kod waluty: 1

Waluta (PLN): PLN

Kody CPV:
384100002 (Przyrządy pomiarowe)

Podobne przetargi