235582 / 2010-08-03 - Inny: jednostka badawczo-rozwojowa / Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. Ignacego Mościckiego (Warszawa)
Ogłoszenie zawiera informacje aktualizacyjne dotyczące publikacji w biuletynie 1 z dnia 2010-06-14 pod pozycją 166670. Zobacz ogłoszenie 166670 / 2010-06-14 - Inny: jednostka badawczo-rozwojowa.
Numer biuletynu: 1
Pozycja w biuletynie: 235582
Data publikacji: 2010-08-03
Nazwa:
Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. Ignacego Mościckiego
Ulica: ul. Rydygiera 8
Numer domu: 8
Miejscowość: Warszawa
Kod pocztowy: 01-793
Województwo / kraj: mazowieckie
Numer telefonu: 022 5682000
Numer faxu: 022 5682390
Regon: 00004516100000
Typ ogłoszenia: ZP-403
Numer biuletynu: 1
Numer pozycji: 166670
Data wydania biuletynu: 2010-06-14
Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak
Czy zamówienie było ogłoszone w BZP: Tak
Rok ogłoszenia: 2010
Pozycja ogłoszenia: 166670
Czy w BZP zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie: Nie
Ogłoszenie dotyczy: 1
Rodzaj zamawiającego: Inny: jednostka badawczo-rozwojowa
Inny rodzaj zamawiającego: jednostka badawczo-rozwojowa
Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
NE-3/223/0166/10/MT - dwustanowiskowy aparat do oznaczania powierzchni właściwej ciał stałych.
Rodzaj zamówienia: D
Przedmiot zamówienia:
Dostawa fabrycznie nowego dwustanowiskowego aparatu do oznaczania powierzchni właściwej ciał stałych, zwanego dalej aparaturą, wraz z uwzględnieniem instalacji, montażu, uruchomienia aparatury oraz przeszkolenia pracowników Zamawiającego w zakresie jej obsługi i konserwacji.
Kody CPV:
384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Kod trybu postepowania: PN
Czy zamówienie dotyczy programu UE: Nie
Nazwa wykonawcy: SYL
Adres pocztowy wykonawcy: ul. Pyskowicka 12
Miejscowość: Niewiesze
Kod pocztowy: 44-172
ID województwa: 11
Województwo / kraj: śląskie
Nazwa:
Aparat do oznaczania powierzchni właściwej ciał stałych
Data udzielenie zamówienia: 02/08/2010
Liczba ofert: 2
Liczba odrzuconych ofert: 0
Szacunkowa wartość zamówienia: 89000,00
Cena wybranej oferty: 89000,00
Cena minimalna: 89000,00
Cena maksymalna: 90700,18
Kod waluty: 1
Waluta (PLN): PLN
Podobne przetargi
103193 / 2013-06-07 - Administracja rzÄ…dowa centralna
Główny Urząd Miar - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa wzmacniacza pomiarowego - wzmacniacza sygnału mostka tensometrycznego,
1 szt. - poniżej 130 000 EUR
83468 / 2011-04-19 - Uczelnia publiczna
Politechnika Radomska im. K. Pułaskiego - Radom (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa aparatu do pomiaru napięcia powierzchniowego i kąta zwilżania metodą analizy kształtu kropli ze specjalistycznym stołem przystosowanym do wymagań urządzenia wraz z dowozem, uruchomieniem oraz przeszkoleniem trzech pracowników
Politechniki Radomskiej.
100618 / 2009-04-09 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska, Wydział Chemiczny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa aparatury do badania wytrzymałości mechanicznej o nośności 10 kN
328852 / 2013-08-14 - Uczelnia publiczna
Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego - SZP - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa aparatu do oceny aktywności wody w ramach Projektu BIOPRODUKTY, innowacyjne technologie wytwarzania prozdrowotnych produktów piekarskich i makaronu o obniżonej kaloryczności.
299338 / 2009-08-31 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Urządzenie do charakteryzacji źródeł sterowanych napięciowo
Postępowanie numer WEiTI/168/DZP/2009/1035
221255 / 2013-10-22 - Administracja rzÄ…dowa centralna
Ministerstwo Administracji i Cyfryzacji - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa kompletnych zestawów urządzeń do pomiaru parametrów transmisyjnych w szerokopasmowych sieciach telekomunikacyjnych opartych o protokół IP
259459 / 2013-12-03 - Uczelnia publiczna
Wydział Mechaniczny Energetyki i Lotnictwa Politechniki Warszawskiej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
dostawa wiskozymetru w związku z realizacją projektu Nowe materiały konstrukcyjne o podwyższonej przewodności cieplnej nr POIG 01.01.02-00-97/09 dla Instytutu Techniki Cieplnej Wydziału Mechanicznego Energetyki i Lotnictwa Politechniki Warszawskiej
328286 / 2014-10-03 - Administracja rzÄ…dowa centralna
Agencja Restrukturyzacji i Modernizacji Rolnictwa - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Zakup 23 odbiorników GNSS z kontrolerami w postaci komputerów polowych
40774 / 2010-02-12 - Inny: jednostka badawczo-rozwojowa
Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. Ignacego Mościckiego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
NE-3/223/003/10/MR
322432 / 2011-10-06 - Inny: Jednostka Wojskowa - Obrona
Jednostka Wojskowa 2420 - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa fabrycznie nowych przyrządów pomiarowych z datą produkcji 2011 rok do Jednostki Wojskowej 2420, sprawa 31/2011/S
348614 / 2015-12-21 - Uczelnia publiczna
Wydział Elektryczny Politechniki Warszawskiej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa aparatury pomiarowo-badawczej dla jednostek Wydziału Elektrycznego Politechniki Warszawskiej
136671 / 2010-05-27 - Inny: Instytut naukowo-badawczy
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
DZPIE/015/2010 - Wyposażenie laboratoryjne i materiały technologiczne
356190 / 2015-12-29 - Inny: Instytut badawczy
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa urządzenia do badań materiałów w dynamicznych warunkach cieplnych wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
356200 / 2015-12-29 - Inny: Instytut badawczy
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa urządzenia do jednoczesnej analizy termicznej wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
393398 / 2009-11-13 - Inny: jednostka badawczo-rozwojowa
Instytut Techniki Budowlanej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa dylatometru sejsmicznego Marchettiego
9360 / 2016-01-13 - Inny: instytut badawczy
Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Przemysłu Poligraficznego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
P15-02 - Dostawa profilometru optycznego - aparatu przeznaczonego do obrazowania powierzchni w oparciu o metodÄ™ chromatycznej mikroskopii konfokalnej.
272786 / 2014-08-14 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
WEiTI/110/BZP/2014/IRE13 Zestaw do modernizacji stanowiska M150 firmy CASCADE do pomiarów ostrzowych elementów elektronicznych.
22909 / 2015-02-19 - Uczelnia publiczna
Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Zestaw wysoko precyzyjnych pryzmatów SMR z akcesoriami
17317 / 2010-01-27 - Podmiot prawa publicznego
Wojskowy Instytut Medyczny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Projekt: TeleMedNet - medyczna platforma naukowo - diagnostyczna - Infrastruktura monitorowania i pomiaru przepustowości sieci
495108 / 2012-12-06 - Inny: Państwowa osoba prawna
UrzÄ…d Dozoru Technicznego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa wyposażenia pomiarowo-badawczego dla Urzędu Dozoru Technicznego, znak sprawy: ZP-DL-95/12
225118 / 2009-07-06 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa zestaw czterech laboratoryjnych mierników mocy z układem sterowania.
Postępowanie numer WEiTI/ 132 /DZP/2009/1035
267768 / 2008-12-30 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Podstawowych Problemów Techniki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Przetarg na dostawę: 1). systemu przestrzennego pomiaru pól odkształceń metoda elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI; 2). zestawu pomiarowego cyfrowego mikrometru optycznego; 3). zestawu ekstensometrów do pomiarów wysokotemperaturowych