265930 / 2009-08-04 - Uczelnia publiczna / Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych (Warszawa)
Urządzenie do charakteryzacji źródeł sterowanych napięciowo
Postępowanie numer WEiTI/168/DZP/2009/1035
Opis zamówienia
Urządzenie do charakteryzacji źródeł sterowanych napięciowo - Signal Source Analyzer
Numer biuletynu: 1
Pozycja w biuletynie: 265930
Data publikacji: 2009-08-04
Nazwa:
Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych
Ulica: ul. Nowowiejska 15/19
Numer domu: 15/19
Miejscowość: Warszawa
Kod pocztowy: 00-665
Województwo / kraj: mazowieckie
Numer telefonu: 0-22 234 51 01
Numer faxu: 0-22 234 58 97
Adres strony internetowej: www.pw.edu.pl
Regon: 00000155400000
Typ ogłoszenia: ZP-400
Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak
Ogłoszenie dotyczy: 1
Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna
Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Urządzenie do charakteryzacji źródeł sterowanych napięciowo
Postępowanie numer WEiTI/168/DZP/2009/1035
Rodzaj zamówienia: D
Przedmiot zamówienia:
Urządzenie do charakteryzacji źródeł sterowanych napięciowo - Signal Source Analyzer
Kody CPV:
384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie
Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie
Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie
Czas: O
Okres w miesiącach: 1
Informacja na temat wadium: Zamawiający nie przewiduje wniesienia wadium
opis_war:
O udział w postępowaniu mogą ubiegać się Wykonawcy którzy:
1) Posiadają uprawnienia do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli ustawy nakładają obowiązek posiadania takich uprawnień;
2) Posiadają niezbędną wiedzę i doświadczenie oraz dysponują potencjałem technicznym i osobami zdolnymi do wykonania zamówienia lub przedstawią pisemne zobowiązanie innych podmiotów do udostępnienia potencjału technicznego i osób zdolnych do wykonania zamówienia ;
3) Znajdują się w sytuacji ekonomicznej i finansowej zapewniającej wykonanie zamówienia, w oparciu o art. 22 ust.1.;
4) Nie podlegają wykluczeniu z postępowania o udzielenie zamówienia zgodnie z art. 24 ust. 1 i 2 ustawy pzp, Ocena spełniania warunków udziału w postępowaniu będzie prowadzona na podstawie treści złożonych oświadczeń lub dokumentów wymaganych zgodnie rozporządzeniem Prezesa Rady Ministrów z dnia 19 maja 2006 r. w sprawie rodzajów dokumentów potwierdzających spełnianie warunków udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia publicznego, jakich może żądać zamawiający od wykonawcy (Dz. U. z 2006 r. Nr 87, poz. 605) w brzmieniu nadanym przez rozporządzenie Prezesa Rady Ministrów z dnia 16 października 2008 r. zmieniające rozporządzenie w sprawie rodzajów dokumentów, jakich może żądać zamawiający od wykonawcy, oraz form, w jakich te dokumenty mogą być składane (Dz.U. Nr 188, poz. 1155). Sposób oceny - na podstawie złożonych dokumentów: spełnia/nie spełnia.
inf_osw:
A) Oświadczenie o spełnianiu warunków określonych w art. 22 ust. 1 ustawy na formularzu zgodnym z treścią załącznika nr 2 do SIWZ, a w przypadku nie posiadania potencjału technicznego i osób zdolnych do wykonania zamówienia, załączają pisemne zobowiązanie innych podmiotów do udostępnienia potencjału technicznego i osób zdolnych do wykonania zamówienia.
B) Aktualny odpis z właściwego rejestru albo aktualne zaświadczenie o wpisie do ewidencji działalności gospodarczej, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru lub zgłoszenia do ewidencji działalności gospodarczej, wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert.
C) Załącznik Oferty będący załącznikiem do SIWZ
Kod trybu postepowania: PN
Kod kryterium cenowe: A
Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie
Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
Politechnika Warszawska, Dział Zamówień Publicznych WEiTI PW, Gmach Elektroniki ul. Nowowiejska 15/19, 00-665 Warszawa, pokój numer 101. od pn - pt w godz. 10:00 - 15:00
Data składania wniosków, ofert: 17/08/2009
Godzina składania wniosków, ofert: 11:00
Miejsce składania:
Politechnika Warszawska, Dział Zamówień Publicznych WEiTI PW, Gmach Elektroniki ul. Nowowiejska 15/19, 00-665 Warszawa, pokój numer 101. od pn - pt w godz. 10:00 - 15:00
On: O
Termin związania ofertą, liczba dni: 30
Informacje dodatkowe:
Przetarg realizowany na potrzeby projektu Utworzenie grupy innowacyjnych, komplementarnych laboratoriów badawczych w obszarze mikro-, nano- i optoelektroniki - POIG.02.01.00-14-138/08 -Projekt współfinansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka
Podobne przetargi
133147 / 2015-09-09 - Inny: Państwowy Instytut Badawczy
Centralny Instytut Ochrony Pracy - Państwowy Instytut Badawczy - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
TA/ZP-49/2015 dostawa przyrządów pomiarowych
229053 / 2013-10-31 - Administracja rzÄ…dowa centralna
Główny Urząd Miar - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa polarymetru fotoelektrycznego o rozdzielczości 0,0001°
193159 / 2011-07-14 - Uczelnia publiczna
Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
DOSTAWA SPRZĘTU LABORATORYJNEGO
12710 / 2013-01-09 - Inny: Instytut naukowo-badawczy
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
DZPIE/023/2012 - Miernik długości fali światła z zakresu spektralnego 400 - 1750 nm
46548 / 2009-03-02 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska, Wydział Chemiczny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa aparatury do badania wytrzymałości mechanicznej o nośności 10 kN
291244 / 2015-10-30 - Podmiot prawa publicznego
Metro Warszawskie Sp. z o.o. - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Zaprojektowanie, wykonanie i dostarczenie przenośnego przyrządu do pomiaru wysokości poduszki powietrznej i wysokości pudła wagonu nad poziomem główki szyny wagonów metra typu Metropolis 98B
299338 / 2009-08-31 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Urządzenie do charakteryzacji źródeł sterowanych napięciowo
Postępowanie numer WEiTI/168/DZP/2009/1035
294314 / 2010-09-16 - Inny: szkoła publiczna
Zespół Szkół Elektronicznych i Licealnych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa paneli dydaktycznych
202841 / 2014-09-24 - Uczelnia publiczna
Wydział Mechaniczny Energetyki i Lotnictwa Politechniki Warszawskiej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
dostawę aparatury, przyrządów i systemów pomiarowych dla Instytutu Techniki Lotniczej i Mechaniki Stosowanej Wydziału Mechanicznego Energetyki i Lotnictwa Politechniki Warszawskiej
227581 / 2014-10-29 - Uczelnia publiczna
Wydział Mechaniczny Energetyki i Lotnictwa Politechniki Warszawskiej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
dostawę aparatury, przyrządów i systemów pomiarowych dla Instytutu Techniki Lotniczej i Mechaniki Stosowanej Wydziału Mechanicznego Energetyki i Lotnictwa Politechniki Warszawskiej
240381 / 2014-11-19 - Administracja rzÄ…dowa centralna
Główny Inspektorat Transportu Drogowego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa stacjonarnych urządzeń rejestrujących wykroczenia w ruchu drogowym polegających na przekroczeniu dozwolonej prędkości przez pojazdy
31636 / 2015-02-12 - Uczelnia publiczna
Uniwersytet Kardynała Stefana Wyszyńskiego w Warszawie - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa laboratoryjnej drążarki elektroerozyjnej do automatycznego wykonywania małych precyzyjnych otworów w ramach projektu:
Mazowieckie Centrum Laboratoryjne Nauk Przyrodniczych UKSW źródłem zwiększenia transferu wiedzy ze świata nauki do gospodarki dzięki wzmocnieniu infrastruktury badawczo-rozwojowej
348614 / 2015-12-21 - Uczelnia publiczna
Wydział Elektryczny Politechniki Warszawskiej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa aparatury pomiarowo-badawczej dla jednostek Wydziału Elektrycznego Politechniki Warszawskiej
195157 / 2010-07-21 - Uczelnia publiczna
Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
DOSTAWA SYSTEMÓW REJESTRUJĄCYCH, URZĄDZEŃ BADAWCZYCH I PRZYRZĄDÓW POMIAROWYCH
368008 / 2013-09-11 - Administracja rzÄ…dowa centralna
Główny Urząd Miar - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa polarymetru fotoelektrycznego o rozdzielczości 0,0001°
152428 / 2013-04-17 - Inny: Jednostka Skarbu Państwa
Centrum Wsparcia Teleinformatycznego Sił Zbrojnych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa przyrządów pomiarowych do sieci telekomunikacyjnych
373790 / 2014-11-13 - Inny: Jednostka budżetowa- podsektor rządowy/jednoska wojskowa
Jednostka Wojskowa 4226 - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
DOSTAWA SPRZĘTU METROLOGICZNEGO
514222 / 2012-12-17 - Inny: sp. z o.o.
"TK Telekom" spółka z ograniczoną odpowiedzialnością - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
zakup 4 sztuk reflektometrów (przyrządy pomiarowe)
89667 / 2009-06-08 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Ochrony Åšrodowiska - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
dostawa i montaż sprzętu laboratoryjnego
104047 / 2014-05-14 - Administracja rzÄ…dowa terenowa
Komenda Stołeczna Policji - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Przenośne bezustnikowe urządzenia do badania zawartości alkoholu w wydychanym powietrzu
225118 / 2009-07-06 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Dostawa zestaw czterech laboratoryjnych mierników mocy z układem sterowania.
Postępowanie numer WEiTI/ 132 /DZP/2009/1035
267768 / 2008-12-30 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Podstawowych Problemów Techniki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384100002 (Przyrządy pomiarowe)
Przetarg na dostawę: 1). systemu przestrzennego pomiaru pól odkształceń metoda elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI; 2). zestawu pomiarowego cyfrowego mikrometru optycznego; 3). zestawu ekstensometrów do pomiarów wysokotemperaturowych