Informacje o przetargach publicznych.
Site Search

254340 / 2010-08-18 - Inny: jednostka badawczo-rozwojowa / Instytut Problemów Jądrowych im. A. Sołtana (Otwock)

Dostawa aparatury pomiarowej

Opis zamówienia

Dostawa aparatury pomiarowej. Zamówienie składa się z dwóch części:
Część I - HV Power Supply, Dual Timer and Counter, Timing Filter Amplifier, Timing Single Channel Analyzer, Delay Amplifier
Część II - Gate and Delay Generator

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 254340

Data publikacji: 2010-08-18

Nazwa: Instytut Problemów Jądrowych im. A. Sołtana

Ulica: Otwock-Świerk

Miejscowość: Otwock

Kod pocztowy: 05-400

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 718 06 14

Numer faxu: 0227180653

Adres strony internetowej: www.ipj.gov.pl

Typ ogłoszenia: ZP-400

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Inny: jednostka badawczo-rozwojowa

Inny rodzaj zamawiającego: jednostka badawczo-rozwojowa

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Dostawa aparatury pomiarowej

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Dostawa aparatury pomiarowej. Zamówienie składa się z dwóch części:
Część I - HV Power Supply, Dual Timer and Counter, Timing Filter Amplifier, Timing Single Channel Analyzer, Delay Amplifier
Część II - Gate and Delay Generator

Czy zamówienie jest podzielone na części: Tak

Ilość części: 2

Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie

Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie

Czas: O

Okres trwania zamówienia w dniach: 84

Informacja na temat wadium: Nie dotyczy

Zaliczka: Nie

Oświadczenie wykluczenia nr 1: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 2: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

III.7 osoby niepełnosprawne: Nie

Kod trybu postepowania: PN

Czy zmiana umowy: Nie

Kod kryterium cenowe: A

Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie

Adres strony internetowej specyfikacji i warunków zamówienia: www.ipj.gov.pl

Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
Instytut Problemów Jądrowych im. Andrzeja Sołtana
Dział Zamówień Publicznych i Umów
05-400 Otwock-Świerk
budynek nr 28 pokój nr 114

Data składania wniosków, ofert: 26/08/2010

Godzina składania wniosków, ofert: 12:00

Miejsce składania:
Instytut Problemów Jądrowych im. Andrzeja Sołtana
05-400 Otwock-Świerk
budynek nr 28 pokój nr 109

On: O

Termin związania ofertą, liczba dni: 30

Informacje dodatkowe:
Projekt AiD w ramach programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka

Czy unieważnienie postępowania: Nie

Numer części zamówienia: 1

Nazwa: aparatura pomiarowa

Opis:
1. HV Power Supply- szt. 4,
2. Dual Timer and Counter - szt 1,
3 Timing Filter Amplifier - szt. 1,
4. Timing Single Channel Analyzer - szt. 2,
5. Delay Amplifier- szt. 2

Kody CPV:
385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)

Czas: O

Okres trwania zamówienia w dniach: 84

Kod kryterium cenowe: A

Numer części zamówienia: 2

Nazwa: Aparatura pomiarowa

Opis: Gate and Delay Generator - szt. 3

Kody CPV:
385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)

Czas: O

Okres trwania zamówienia w dniach: 84

Kod kryterium cenowe: A

Kody CPV:
385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)

Podobne przetargi

501358 / 2013-12-05 - Inny: Podmiot prawa publicznego

Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa do siedziby Zamawiającego fabrycznie nowego, nieużywanego: a) dalmierza laserowego (część I zamówienia), b) miernika pola elektromagnetycznego (część II zamówienia), c) nanowoltomierza selektywnego (część III zamówienia), d) analogowego modułu pomiarowego wysokich napięć (część IV zamówienia), e) interrogatora optycznego (część V zamówienia), f) przenośnego kalibratora drgań (część VI zamówienia).

91731 / 2013-05-28 - Inny: Instytut naukowo-badawczy

Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
DZPIE/005/2013 - Zakup systemu EBIC (wzmacniacz, przepusty prądowe, etc.) do charakteryzacji fotoprądu w komórkach słonecznych

366660 / 2011-11-07 - Inny: Instytut Badawczy

Instytut Gruźlicy i Chorób Płuc - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa komory z laminarnym przepływem powietrza, II klasy bezpieczeństwa mikrobiologicznego, typu biohazard do diagnostyki zakażeń układu oddechowego

282907 / 2013-12-30 - Uczelnia publiczna

Warszawski Uniwersytet Medyczny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa sprzętu laboratoryjnego w podziale na pakiety, znak sprawy: AEZ/S-303/2013

200476 / 2009-06-19 - Uczelnia publiczna

Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego - SZP - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa dwóch komór fitotronowych do uprawy roślin o wysokich wymaganiach świetlnych

276930 / 2015-10-19 - Uczelnia publiczna

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Ciechanowie - Ciechanów (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa, instalacja konfiguracja, uruchomienie oraz przeszkolenie z obsługi urządzeń na potrzeby Państwowej Wyższej Szkoły Zawodowej w Ciechanowie.

156340 / 2012-05-15 - Podmiot prawa publicznego

Wojskowy Instytut Higieny i Epidemiologii im. gen. Karola Kaczkowskiego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa platformy do analizy mikromacierzy dla Ośrodka Diagnostyki i Zwalczania Zagrożeń Biologicznych WIHiE w Puławach

236004 / 2014-07-15 - Inny: Instytut Badawczy

Wojskowy Instytut Techniczny Uzbrojenia - Zielonka (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA DOSTAWA: SYSTEMU DO BADANIA ODPORNOŚCI NA ZABURZENIA PRZEWODZONE WRAZ Z AKCESORIAMI

261890 / 2011-08-26 - Podmiot prawa publicznego

Instytut Technologii Elektronowej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa urządzenia do optycznej analizy mikrosystemów - profilometr optyczny wraz z modułem

220751 / 2011-08-17 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)
Dostawa zestawu do obrazowania 3D do profilometru dla projektu UTWORZENIE GRUPY INNOWACYJNYCH, KOMPLEMENTARNYCH LABORATORIÓW BADAWCZYCH W OBSZARZE MIKRO-, NANO- I OPTOELEKTRONIKI Postępowanie nr WEiTI/109/BZP/2011/1035.