85834 / 2011-04-20 - Uczelnia publiczna / Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej (Warszawa)
Sonda Langmuira
Opis zamówienia
Przedmiotem zamówienia jest sonda Langmuira - fabrycznie nowe urządzenie do diagnostyki plazmy niskotemperaturowej. Urządzenie umożliwiać powinno wyznaczenie następujących wielkości fizycznych: gęstości jonów i elektronów , temperatura elektronów, EEDF (rozkład gęstości energii elektronów), potencjał plazmy, potencjał pływający, długość ekranowania Debye a, opisujących stan plazmy generowanej pod obniżonym ciśnieniem w warunkach: 1. wzbudzania plazmy w urządzeniu do wytwarzania warstw metodą pulsującego rozpylania magnetronowego (PMS - Pulse Magnetron Sputtering) przy zasilaniu magnetronu - źródła plazmy w metodzie PMS napięciem o częstotliwości do 100 kHz modulowanym częstotliwością do 2 kHz, 2. wzbudzania plazmy w urządzeniu do wytwarzania warstw metodą IPD (Impulse Plasma Deposition), w której plazma powstaje w sposób cyklicznie powtarzający się w częstotliwością rzędu 10 Hz w koaksjalnym akceleratorze plazmy pod wpływem rozładowania baterii kondensatorów następującego każdorazowo w okresie czasu rzędu 10-4 s. W odniesieniu do cech pomiarowych sondy i systemu kontroli urządzenie powinno: a) zapewniać pomiar wymienionych wyżej parametrów plazmy w zakresie napięć od -200 V do + 100 V i prądu od 20 mikroamperów do 1 A z szybkością skanowania nie mniejszą niż 15 scan/s w warunkach wyzwalania poziomem lub zboczem sygnału wyzwalającego (narastającego, malejącego) z rozdzielczością czasową nie mniejsza niż 60 ns oraz pasmem częstotliwości sygnału do 3 MHz a także możliwością wyboru opóźnienia rozpoczęcia pomiaru względem sygnału wyzwalania, b) zapewniać późniejszą rozbudowę o możliwość wyboru trybu pracy urządzenia: akwizycja i obróbka danych podczas skanowania w całym zakresie napięć lub akwizycja i obróbka danych dla wybranej wartości napięcia z podanego wyżej zakresu, c) zapewniać całkowicie zautomatyzowaną akwizycję danych z szybkością nie mniejszą niż 62000 points/s w pasmie nie gorszym niż 1 MHz, d) zapewniać możliwość automatycznego, sterowanego przemieszczania sondy wzdłuż osi z na odległość nie mniejszą niż 250 mm, e) zapewniać pełną kontrolę (systemu akwizycji i obróbki danych, wyznaczania wielkości fizycznych opisujących stan plazmy, systemu przemieszczania sondy wzdłuż osi z) z poziomu komputera PC przy wykorzystaniu integralnego oprogramowania kompatybilnego z systemem Windows, f) zapewniać taką konstrukcję urządzenia, aby umożliwić jego dołączenia do komory próżniowej przy wykorzystaniu próżnioszczelnego systemu mocowania, g) posiadać elektrodę kompensacji sygnału RF, aby w znaczący sposób skompensować sygnał RF w przestrajanych obwodach o wysokiej impedancji, h) posiadać sondę odniesienia dla kompensacji niskoczęstotliwościowych fluktuacji powodujących dryfowanie potencjału plazmy w reaktorach z niezbyt dobrze zdefiniowanym potencjałem ziemi i możliwymi niestabilnościami zasilania, i) urządzenie powinno posiadać minimum jedno wejście sygnału RS485.
Numer biuletynu: 1
Pozycja w biuletynie: 85834
Data publikacji: 2011-04-20
Nazwa:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej
Ulica: ul. Wołoska 141
Numer domu: 141
Miejscowość: Warszawa
Kod pocztowy: 02-507
Województwo / kraj: mazowieckie
Numer telefonu: 022 2348729, 2348741
Numer faxu: 022 2348514
Regon: 00000155400000
Typ ogłoszenia: ZP-400
Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak
Ogłoszenie dotyczy: 1
Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna
Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Sonda Langmuira
Rodzaj zamówienia: D
Przedmiot zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest sonda Langmuira - fabrycznie nowe urządzenie do diagnostyki plazmy niskotemperaturowej. Urządzenie umożliwiać powinno wyznaczenie następujących wielkości fizycznych: gęstości jonów i elektronów , temperatura elektronów, EEDF (rozkład gęstości energii elektronów), potencjał plazmy, potencjał pływający, długość ekranowania Debye a, opisujących stan plazmy generowanej pod obniżonym ciśnieniem w warunkach: 1. wzbudzania plazmy w urządzeniu do wytwarzania warstw metodą pulsującego rozpylania magnetronowego (PMS - Pulse Magnetron Sputtering) przy zasilaniu magnetronu - źródła plazmy w metodzie PMS napięciem o częstotliwości do 100 kHz modulowanym częstotliwością do 2 kHz, 2. wzbudzania plazmy w urządzeniu do wytwarzania warstw metodą IPD (Impulse Plasma Deposition), w której plazma powstaje w sposób cyklicznie powtarzający się w częstotliwością rzędu 10 Hz w koaksjalnym akceleratorze plazmy pod wpływem rozładowania baterii kondensatorów następującego każdorazowo w okresie czasu rzędu 10-4 s. W odniesieniu do cech pomiarowych sondy i systemu kontroli urządzenie powinno: a) zapewniać pomiar wymienionych wyżej parametrów plazmy w zakresie napięć od -200 V do + 100 V i prądu od 20 mikroamperów do 1 A z szybkością skanowania nie mniejszą niż 15 scan/s w warunkach wyzwalania poziomem lub zboczem sygnału wyzwalającego (narastającego, malejącego) z rozdzielczością czasową nie mniejsza niż 60 ns oraz pasmem częstotliwości sygnału do 3 MHz a także możliwością wyboru opóźnienia rozpoczęcia pomiaru względem sygnału wyzwalania, b) zapewniać późniejszą rozbudowę o możliwość wyboru trybu pracy urządzenia: akwizycja i obróbka danych podczas skanowania w całym zakresie napięć lub akwizycja i obróbka danych dla wybranej wartości napięcia z podanego wyżej zakresu, c) zapewniać całkowicie zautomatyzowaną akwizycję danych z szybkością nie mniejszą niż 62000 points/s w pasmie nie gorszym niż 1 MHz, d) zapewniać możliwość automatycznego, sterowanego przemieszczania sondy wzdłuż osi z na odległość nie mniejszą niż 250 mm, e) zapewniać pełną kontrolę (systemu akwizycji i obróbki danych, wyznaczania wielkości fizycznych opisujących stan plazmy, systemu przemieszczania sondy wzdłuż osi z) z poziomu komputera PC przy wykorzystaniu integralnego oprogramowania kompatybilnego z systemem Windows, f) zapewniać taką konstrukcję urządzenia, aby umożliwić jego dołączenia do komory próżniowej przy wykorzystaniu próżnioszczelnego systemu mocowania, g) posiadać elektrodę kompensacji sygnału RF, aby w znaczący sposób skompensować sygnał RF w przestrajanych obwodach o wysokiej impedancji, h) posiadać sondę odniesienia dla kompensacji niskoczęstotliwościowych fluktuacji powodujących dryfowanie potencjału plazmy w reaktorach z niezbyt dobrze zdefiniowanym potencjałem ziemi i możliwymi niestabilnościami zasilania, i) urządzenie powinno posiadać minimum jedno wejście sygnału RS485.
Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie
Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie
Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie
Czas: D
Data zakończenia: 30/06/2011
Zaliczka: Nie
Uprawnienia:
Ocena spełnienia warunków udziału w postępowaniu zostanie dokonana wg formuły spełnia/nie spełnia, na podstawie - złożonych przez Wykonawców oświadczeń i dokumentów.
Wiedza i doświadczenie:
Ocena spełnienia warunków udziału w postępowaniu zostanie dokonana wg formuły spełnia/nie spełnia, na podstawie - złożonych przez Wykonawców oświadczeń i dokumentów.
Potencjał techniczny:
Ocena spełnienia warunków udziału w postępowaniu zostanie dokonana wg formuły spełnia/nie spełnia, na podstawie - złożonych przez Wykonawców oświadczeń i dokumentów.
Osoby zdolne do zrealizowania zamówienia:
Ocena spełnienia warunków udziału w postępowaniu zostanie dokonana wg formuły spełnia/nie spełnia, na podstawie - złożonych przez Wykonawców oświadczeń i dokumentów.
Sytuacja ekonomiczna:
Ocena spełnienia warunków udziału w postępowaniu zostanie dokonana wg formuły spełnia/nie spełnia, na podstawie - złożonych przez Wykonawców oświadczeń i dokumentów.
Oświadczenie nr 2: Tak
Oświadczenie nr 10: Tak
Oświadczenie wykluczenia nr 1: Tak
Oświadczenie wykluczenia nr 2: Tak
Oświadczenie wykluczenia nr 3: Tak
Oświadczenie wykluczenia nr 4: Tak
Oświadczenie wykluczenia nr 7: Tak
Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak
Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak
Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak
Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak
III.7 osoby niepełnosprawne: Nie
Kod trybu postepowania: PN
Czy zmiana umowy: Nie
Kod kryterium cenowe: B
Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie
Adres strony internetowej specyfikacji i warunków zamówienia: www.zamowienia.pw.edu.pl/wykaz/
Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa (pok.206)
Data składania wniosków, ofert: 09/05/2011
Godzina składania wniosków, ofert: 11:30
Miejsce składania:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa (pok.206)
On: O
Termin związania ofertą, liczba dni: 30
Czy unieważnienie postępowania: Nie
Kody CPV:
385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Znaczenie kryterium 1: 45
Nazwa kryterium 2: Parametry techniczne
Znaczenie kryterium 2: 55
Podobne przetargi
260328 / 2012-07-19 - Inny: Instytut badawczy
Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa do siedziby Zamawiającego fabrycznie nowego, nieużywanego urządzenia do ciągłego pomiaru szorstkości nawierzchni lotniskowych montowanego na przyczepie jednoosiowej - 1 szt
229406 / 2009-07-08 - Inny: jednostka badawczo-rozwojowa
Instytut Transportu Samochodowego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa nanotwardościomierza
170851 / 2013-08-27 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa komponentów mikrofalowych
Postępowanie nr WEITI/87/BZP/2013/1030
322909 / 2008-11-19 - Inny: Instytut Badawczy
Instytut Badawczy Dróg i Mostów - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa aparatu do trójosiowych badań próbek asfaltowych z oprzyrządowaniem oraz instalacją
169520 / 2014-05-20 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Badawczy Leśnictwa - Raszyn (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa i instalacja fabrycznie nowego laserowego analizatora wielkości cząstek, ZP39-149004
163215 / 2014-07-28 - Uczelnia publiczna
Szkoła Główna Służby Pożarniczej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa aparatury naukowo - badawczej: Część 1 - Refraktometr cyfrowy, Część 2 - Przenośny zestaw do pomiaru chemicznego zapotrzebowania tlenu
268131 / 2013-12-10 - Inny: Instytut naukowo badawczy
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
DZPIE/023/2013 - Manipulator i transfer do komory naparowywania metali metodÄ… Joula-Thomsona
185469 / 2009-10-22 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa multireaktora z 4 komorami reakcyjnymi z wyposażeniem (mieszadła, osprzęt grzejno-chłodzący oraz kontrolno-pomiarowy, pompy dozujące, przystawka kalorymetryczna, przystawka do pomiarów IR.
157222 / 2011-06-14 - Inny: jednostka badawczo-rozwojowa
Instytut Transportu Samochodowego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa urządzenia do pomiaru zużycia paliwa.
234642 / 2009-07-13 - Uczelnia publiczna
Akademia Wychowania Fizycznego Józefa Piłsudskiego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa przyrządów do pomiaru szybkości, gibkości, równowagi
235235 / 2010-08-31 - Uczelnia publiczna
Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
DOSTAWA URZÄ„DZENIA DO SPAWANIA I NAPAWANIA PLAZMOWEGO I TWARDOÅšCIOMIERZA VICKERS
339494 / 2012-09-10 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Biologii Doświadczalnej im. Marcelego Nenckiego PAN - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Wielofunkcyjny czytnik mikropłytek z dozownikiem, znak sprawy: AZP-2401-20-2/2012
163811 / 2013-08-19 - Podmiot prawa publicznego
Instytut "Pomnik - Centrum Zdrowia Dziecka" - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa aparatu do mikrofluidycznej elektroforezy kwasów nukleinowych i białek oraz aparatu do amplifikacji DNA, w ramach projektu współfinansowanego przez Unię Europejską z Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka na lata 2007-2013 na podstawie umowy o dofinansowanie projektu nr POIG.02.01.00-14-059/09-01
162544 / 2011-06-17 - Inny: Instytut Badawczy
Instytut Chemii Przemysłowej im. prof. Ignacego Mościckiego - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
NE-3/223/120/11/ZD - Dostawa aparatu do badań przepuszczalności gazów
196147 / 2012-09-12 - Uczelnia publiczna
Wydział Mechaniczny Energetyki i Lotnictwa Politechniki Warszawskiej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Zakup systemu dopplerowskiego anemometru laserowego w związku z realizacją projektu Modernizacja i budowa nowej infrastruktury naukowo badawczej Wojskowej Akademii Technicznej i Politechniki Warszawskiej na potrzeby wspólnych numeryczno doświadczalnych badań lotniczych silników turbinowych Nr POIG.02.02.00-14-022/09 dla Instytutu Techniki Lotniczej i Mechaniki Stosowanej Wydziału Mechanicznego Energetyki i Lotnictwa Politechniki Warszawskiej
268663 / 2012-12-19 - Uczelnia publiczna
Wydział Elektryczny Politechniki Warszawskiej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
dostawę aparatury pomiarowo-badawczej dla jednostek Wydziału Elektrycznego Politechniki Warszawskiej.
46815 / 2010-03-03 - Inny: Jednostka Badawczo-Rozwojowa
Instytut Energetyki Jednostka Badawczo-Rozwojowa - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Budowa stanowiska badawczego do prób odporności izolatorów kompozytowych na wyładowania pełzne
120994 / 2011-05-19 - Inny: Instytut naukowo-badawczy
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Wielokątowy detektor rozpraszania światła do układu chromatograficznego
220135 / 2012-10-16 - Uczelnia publiczna
Wydział Mechaniczny Energetyki i Lotnictwa Politechniki Warszawskiej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Zakup systemu tomograficznego pomiaru prędkości 3D w związku z realizacją projektu Modernizacja i budowa nowej infrastruktury naukowo badawczej Wojskowej Akademii Technicznej i Politechniki Warszawskiej na potrzeby wspólnych numeryczno doświadczalnych badań lotniczych silników turbinowych Nr POIG.02.02.00-14-022/09 dla Instytutu Techniki Lotniczej i Mechaniki Stosowanej Wydziału Mechanicznego Energetyki i Lotnictwa Politechniki Warszawskiej
355458 / 2009-10-12 - Inny: Jednostka badawczo-rozwojowa
Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa do siedziby zamawiającego fabrycznie nowych, nieużywanych:
a) oscyloskopu,
b) analizatora widma
254253 / 2013-11-27 - Uczelnia publiczna
Wydział Mechaniczny Energetyki i Lotnictwa Politechniki Warszawskiej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa systemu do pomiaru szybkozmiennych ciśnień z układem akwizycji danych w związku z realizacją projektu Modernizacja i budowa nowej infrastruktury naukowo badawczej Wojskowej Akademii Technicznej i Politechniki Warszawskiej na potrzeby wspólnych numeryczno-doświadczalnych badań lotniczych silników turbinowych Nr POIG.02.02.00-14-022/09 dla Instytutu Techniki Lotniczej i Mechaniki Stosowanej Wydziału Mechanicznego Energetyki i Lotnictwa Politechniki Warszawskiej
149083 / 2013-07-22 - Inny: Instytut Badawczy
Instytut Technologiczno-Przyrodniczy - Raszyn (mazowieckie)
CPV: 385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)
Dostawa aparatury badawczej: Przenośny zestaw do pomiaru i rejestracji stężenia CO2/H2O w powietrzu na bazie analizatora gazów pracującego techniką absorpcji promieniowania podczerwonego (NDIR) w układzie przepływowym