221566 / 2013-06-10 - Uczelnia publiczna / Wojskowa Akademia Techniczna (Warszawa)

Oryginalny toner TN324Y (A8DA250) Żółty marki Konica-Minolta

Cena: 612.54 PLN

DOSTAWA STACJI DO POMIARÓW PARAMETRÓW OPTYCZNYCH I ELEKTRYCZNYCH MATERIAŁÓW I PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH W SZEROKIM ZAKRESIE PRECYZYJNIE KONTROLOWANYCH TEMPERATUR (DELIVERY OF VARIABLE TEMPERATURE MICROPROBE SYSTEM TO PROVIDE OPTICAL AND ELECTRICAL MEASURMENTS OF SEMICONDUCTOR MATERIALS AND DEVICES)

Opis zamówienia

Przedmiotem zamówienia jest dostawa stacji do pomiarów parametrów optycznych i elektrycznych materiałów i przyrządów półprzewodnikowych w szerokim zakresie precyzyjnie kontrolowanych temperatur (Delivery of variable temperature microprobe system to provide optical and electrical measurments of semiconductor materials and devices)

Wszystkie parametry szczegółowo opisane w załączniku nr 3 do SIWZ.

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 221566

Data publikacji: 2013-06-10

Nazwa: Wojskowa Akademia Techniczna

Ulica: ul. Kaliskiego 2

Numer domu: 2

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 00-908

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 022 6837865

Numer faxu: 022 6837977

Adres strony internetowej: www.wat.edu.pl

Regon: 01212290000000

Typ ogłoszenia: ZP-400

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
DOSTAWA STACJI DO POMIARÓW PARAMETRÓW OPTYCZNYCH I ELEKTRYCZNYCH MATERIAŁÓW I PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH W SZEROKIM ZAKRESIE PRECYZYJNIE KONTROLOWANYCH TEMPERATUR (DELIVERY OF VARIABLE TEMPERATURE MICROPROBE SYSTEM TO PROVIDE OPTICAL AND ELECTRICAL MEASURMENTS OF SEMICONDUCTOR MATERIALS AND DEVICES)

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa stacji do pomiarów parametrów optycznych i elektrycznych materiałów i przyrządów półprzewodnikowych w szerokim zakresie precyzyjnie kontrolowanych temperatur (Delivery of variable temperature microprobe system to provide optical and electrical measurments of semiconductor materials and devices)

Wszystkie parametry szczegółowo opisane w załączniku nr 3 do SIWZ.

Kody CPV:
385400002 (Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa)

Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie

Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie

Czy jest dialog: Nie

Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie

Czas: O

Okres trwania zamówienia w dniach: 14

Zaliczka: Nie

Oświadczenie wykluczenia nr 1: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 2: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 8: Tak

Dokumenty grupy kapitałowej: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

inne_dokumenty:
Oferta składana przez Wykonawcę winna zawierać:
1) formularz ofertowy stanowiący załącznik nr 1 do SIWZ,
2) szczegółowy opis przedmiotu zamówienia stanowiący załącznik nr 3 do SIWZ,
3) pełnomocnictwo do podpisania oferty, jeżeli nie wynika ono z załączonych dokumentów wymaganych postanowieniami pkt 5 SIWZ.
4) oświadczenia i dokumenty, w formie oryginału lub kserokopii wymienione w pkt 5 SIWZ.

III.7 osoby niepełnosprawne: Nie

Kod trybu postepowania: PN

Kod kryterium cenowe: A

Adres strony internetowej specyfikacji i warunków zamówienia: www.wat.edu.pl

Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA
im. Jarosława Dąbrowskiego
ul. Gen. Sylwestra Kaliskiego 2
00-908 WARSZAWA
Sekcja Zamówień Publicznych, budynek nr 22, pokój nr 6, godz. 08:00-15:00

Data składania wniosków, ofert: 20/06/2013

Godzina składania wniosków, ofert: 09:00

Miejsce składania:
WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA
im. Jarosława Dąbrowskiego
ul. Gen. Sylwestra Kaliskiego 2
00-908 WARSZAWA
Sekcja Zamówień Publicznych, budynek nr 22, pokój nr 6, godz. 08:00-15:00

On: O

Termin związania ofertą, liczba dni: 30

Czy unieważnienie postępowania: Nie

Podobne przetargi