90587 / 2015-06-19 - Inny: instytut badawczy / Instytut Spawalnictwa (Gliwice)

Dostawa aparatury laboratoryjnej do badań nieniszczących

Opis zamówienia

poniżej art.11 pkt.8 PZP;
poniżej art.11 pkt 8 PZP

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 90587

Data publikacji: 2015-06-19

Nazwa: Instytut Spawalnictwa

Ulica: ul. Bł. Czesława 16/18

Numer domu: 16/18

Miejscowość: Gliwice

Kod pocztowy: 44-100

Województwo / kraj: śląskie

Numer telefonu: 032 2310011 w. 293

Adres strony internetowej: is.gliwice.pl

Regon: 00003150300000

Typ ogłoszenia: ZP-400

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Inny: instytut badawczy

Inny rodzaj zamawiającego: instytut badawczy

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dostawa aparatury laboratoryjnej do badań nieniszczących

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
poniżej art.11 pkt.8 PZP;
poniżej art.11 pkt 8 PZP

Kody CPV:
385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)

Czy zamówienie jest podzielone na części: Tak

Ilość części: 2

Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie

Czy jest dialog: Nie

Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie

Zaliczka: Nie

Uprawnienia:
O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy spełniają warunki, dotyczące posiadania uprawnień do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli przepisy prawa nakładają obowiązek ich posiadania. Ocena spełniania warunków udziału w postępowaniu będzie dokonana na zasadzie spełnia/nie spełnia.1. . Szkolenie prowadzone przez specjalistę NDT z uprawnieniami 3-go stopnia w metodzie UT.

Oświadczenie wykluczenia nr 1: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 2: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 3: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 4: Tak

Dokumenty grupy kapitałowej: Tak

III.7 osoby niepełnosprawne: Nie

Kod trybu postepowania: PN

Kod kryterium cenowe: B

Znaczenie kryterium 1: 90

Nazwa kryterium 2:
dodatkowe wyposazenie ( za każdy element np. dodatkowa sonda) 2 pkt.

Znaczenie kryterium 2: 10

Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia: siedzibie Zamawiającego

Data składania wniosków, ofert: 26/06/2015

Godzina składania wniosków, ofert: 13:00

Miejsce składania: w siedzibie Zamawiającego pokój nr 306

On: O

Termin związania ofertą, liczba dni: 30

Czy unieważnienie postępowania: Nie

Numer części zamówienia: 1

Nazwa:
Dostawa aparatury laboratoryjnej do badań nieniszczących

Opis:
Każdy z defektoskopów musi spełniać następujące wymagania:
a. Waga: maximum 1,8 kg
b. Czas pracy na baterii: minimum 15-16 godzin
c. Zakres temperatur pracy: -10 do 50 stopni Celsjusza
d. Ekran: kolorowy LCD o przekątnej minimum 5,7cala
e. Impuls nadajnika: regulowany impuls prostokątny 100-400 V
f. Zakres częstotliwości pracy: 0,2 - 26,5 MHz
g. Zakres obserwacji: do 26628 m/s
h. Bramki pomiarowe: 2 niezależne bramki pomiarowe
i. Pomiary: wyświetlanie 5 pomiarów jednocześnie
j. Wbudowane wykresy DGS/AVG
k. Funkcja DAC/TCG
l. Możliwość pracy w trybie pełnego ekranu (bez widocznego menu)
m. Zgodny z normą PN-EN 12688-1
n. Filtry cyfrowe: 30 filtrów
o. Wyjście na ekran/rzutnik: standardowe wyjście VGA
p. Pamięć zewnętrzna: karta SD do 64 GB
q. Możliwość tworzenia raportów w urządzeniu (raport zawierający: pomiary, A-skan i parametry urządzenia) i zapisywania ich na karcie SD
r. Możliwość zapisywania sekwencji video z badania z częstotliwością 60Hz: do 8 minut nagrania
s. Możliwość oznaczenia flagą na sekwencji video momentu ze znalezionym defektem
t. Odporność na trudne warunki pracy: testowany na upadki zgodnie z MIL-STD-810G 516.6, zaprojektowany zgodnie z wymaganiami IP66
Defektoskop musi znajdować się w walizce transportowej z baterią i ładowarką/zasilaczem sieciowym, kartą pamięci SD, certyfikatem kalibracyjnym
2. Każdy z defektoskopów musi zawierać minimalne wyposażenie w:
a. - głowicę prostą pojedyńczą średnicy 10 mm częstotliwośc 4,0MHz
b. - 2szt głowic kątowych 4 MHz, 8x9mm, 70 stopni, boczne Lemo-00
c. - głowicę kątowa 4 MHz, 8x9mm, 60 stopni, boczne Lemo-00
d. - głowicę kątowa 4 MHz, 8x9mm, 45 stopni, boczne Lemo-00
e. - głowicę kątowa 2 MHz, 8x9mm, 70 stopni, boczne Lemo-00
f. - głowicę normalną 4 MHz, średnica przetwornika 10 mm, boczne Lemo-00
3. Wykonawca musi zapewnić: 1 dzień szkolenia z obsługi defektoskopu. Szkolenie prowadzone przez specjalistę NDT z uprawnieniami 3-go stopnia w metodzie UT.


poniżej art.11 pkt.8 PZP

Kody CPV:
385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)

Czas: O

Okres trwania zamówienia w dniach: 70

Kod kryterium cenowe: B

Znaczenie kryterium 1: 90

Nazwa kryterium 2:
dodatkowe wyposazenie ( za każdy element np. dodatkowa sonda) 2 pkt.

Znaczenie kryterium 2: 10

Numer części zamówienia: 2

Nazwa:
Dostawa aparatury laboratoryjenje do badan nieniszczących

Opis:
1. Każdy z defektoskopów musi spełniać następujące wymagania:
a. Defektoskop musi umożliwiać badania w technice klasycznej UT, Phased Array oraz TOFD
b. Konfiguracja Phased Array urządzenia 16:64PR (16 nadajników, max 64 elementowa głowica)
c. Waga urządzenia maximum 3,5 kg
d. Wyjście na 2 enkodery
e. Porty USB: 2 sztuki
f. Przechowywanie danych na standardowych kartach SD
g. Rozmiar ekranu: minimum 8 cali (przekątna)
h. Typ ekranu: dotykowy kolorowy ekran LCD
i. Czas pracy na baterii: minimum 6 godzin
j. Zakres temperatur pracy: -10 do 45 stopni Celsjusza
k. Odporność na trudne warunki pracy: testowany na upadki zgodnie z MIL-STD-810G 516.6, zaprojektowany zgodnie z wymaganiami IP66
l. Napięcie nadajnika: regulowane w zakresie: 40-115 V (tryb Phased Array), 95-340 V (tryb UT/TOFD)
m. Zakres częstotliwości pracy: 0,6 - 18 MHz (tryb Phased Array), 0,22 - 28 MHz (tryb UT/TOFD)
n. Obsługa urządzenia poprzez przyciski i ekran dotykowy
o. Zgodny z normą 12668-1 (tryb UT/TOFD)
p. Możliwość współpracy z głowicami podwójnymi Phased Array
q. Możliwość prowadzenia badań na pełnym ekranie (bez widocznego menu)
r. Mocowanie głowic Phased Array bez śrub
s. Możliwość generowania compound S-skan do badania spoin (tworzenie jednego zobrazowania dla 2 osobnych S-skan, generowanych z jednej głowicy, ale z różnych apertur)
t. Gwarancja 12 miesięcy
2. Każdy z defektoskopów musi zawierać minimalne wyposażenie w:
a. Defektoskop musi znajdować się w walizce transportowej z baterią i ładowarką/zasilaczem sieciowym, 2 foliami ochronnymi na ekran, rysikiem do obsługi ekranu dotykowego, kartą pamięci SD 16BG, pamięcią USB 16GB, instrukcją obsługi w języku polskim i certyfikatem kalibracyjnym
b. Głowica Phased Array, 5MHz, 16 elementów, apertura 9,6x10 mm, kabel 2,5 metra, klin kątowy do badania spoin z możliwością mocowania enkodera
c. Głowica Phased Array specjalna do compund S-skan, 5MHz, 32 elementy, apertura 19,2x10 mm, kabel 2,5 metra, klin kątowy do badania spoin z możliwością mocowania enkodera
d. Mini-enkoder z mocowanie do klina do głowicy Phased Array, kabel 2,5 metra
e. Głowica Phased Array, 5MHz, 64 elementy, apertura 38,4x10 mm, kabel 2,5 metra, klin 0 stopni o wysokości 35mm, możliwość mocowania enkodera do głowicy
f. Skaner do badań TOFD w walizce transportowej, 4 kółka magnetyczne, enkoder, kabel enkodera 5 metrów, 2 uchwyty do głowic TOFD, osłona na kable 5 metrów, system doprowadzenia wody pod głowice
g. Dwie głowice TOFD 15MHz/3mm
h. Dwie głowice TOFD 10MHz/3mm
i. Dwie głowice TOFD 10MHz/6mm
j. Dwie głowice TOFD 5MHz/6mm
k. Dwa kliny do TOFD ze stali nierdzewnej, z możliwością montażu w skanerze i doprowadzeniem wody pod głowicę, kąt fali podłużnej 70 stopni
l. Przedwzmacniacz do TOFD zasilany bateryjnie
m. Dwa kable defektoskop-głowica o długości 2,5 metra
n. Kabel głowica-przedwzmacniacz o długości ok. 0,5 metra
3. Szkolenie: 3 dni szkolenia z obsługi defektoskopu, teorii Phased Array i TOFD, badań praktycznych, kalibracji i analizy wyników. Szkolenie prowadzone przez specjalistę NDT z uprawnieniami 3-go stopnia w metodzie UT.
4. Oprogramowanie :
a. Możliwość tworzenia ustawień defektoskopu z komputera
b. Możliwość tworzenia zaawansowanych ustawień dla defektoskopu (np. dla głowicy podwójnej Phased Array lub do badań z wykorzystaniem compund S-skan)
c. Wizualizacja przebiegu wiązek Phased Array podczas tworzenia ustawień
d. Możliwość tworzenia kształtu spoiny i definiowania badanego materiału
e. Możliwość pełnej analizy zarejestrowanych wyników badań na komputerze (dostęp offline do wszystkich A-skan, tak jak podczas samego badania)
f. Oprogramowanie do analizy wyników badań na komputerze posiada ten sam interfejs obsługi co defektoskop
Wszystkie elementy wyposażenia muszą być w pełni kompatybilne z defektoskopem

poniżej art.11 pkt 8 PZP

Kody CPV:
385000000 (Aparatura kontrolna i badawcza)

Czas: O

Okres trwania zamówienia w dniach: 70

Kod kryterium cenowe: B

Znaczenie kryterium 1: 90

Nazwa kryterium 2:
dodatkowe wyposazenie ( za każdy element np. dodatkowa sonda) 2 pkt.

Znaczenie kryterium 2: 10

Podobne przetargi