131404 / 2009-05-04 - Uczelnia publiczna / Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej (Warszawa)

Oryginalny wywoływacz 6LA27227000 Czarny marki Toshiba

Cena: 165.13 PLN

Spektrofotometr FTIR

Opis zamówienia

Przedmiotem zamówienia jest dostawa na Wydział Inżynierii Materiałowej Politechniki Warszawskiej fabrycznie nowego spektrofotometru FTIR.

Parametry techniczne wymagane:
1. Zakres spektralny, co najmniej 7800 - 350 cm-1;
2. Maksymalna rozdzielczość optyczna lepsza niż 0,4 cm-1;
3. Rozdzielczość nominalna ustawiana w zakresie 0,5-32 cm-1;
4. Szczelny i osuszany układ optyczny z okienkami KBr pokrywanymi BaF2 oddzielającymi optykę od przedziału próbek;
5. Podłączenia do opcjonalnego przedmuchu spektrometru i przedziału próbek osuszonym gazem;
6. Szumy mniejsze niż 1,3x10-5 Abs (peak-to-peak, pomiar 1 minuta przy rozdzielczości 4cm-1, detektor DLaTGS);
7. Interferometr justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł interferometru;
8. Układ optyczny wykorzystujący monolityczne lustra wzorcowe;
9. Ogniskowanie wiązki centralnie w komorze pomiarowej aparatu;
10. Justowanie interferometru na maksimum energii z poziomu oprogramowania;
11. Ceramiczne trwałe źródło promieniowania z możliwością pracy w trybach: normalnym i ekonomicznym - poza czasem pomiaru;
12. Beamsplitter Ge/KBr;
13. Detektor DLaTGS;
14. Maksymalna szybkość skanowania nie gorsza niż 40 skanów/s przy rozdzielczości 16cm-1;
15. Precyzja długości fali: nie gorsza niż 0,01 cm-1;
16. Komunikacja spektrometru z komputerem przez szybkie złącze USB 2.0;
17. Panel sterowania na aparacie z przyciskami do szybkiego uruchomienia najczęściej wykonywanych, (co najmniej 5 przycisków w tym jeden programowalny przez użytkownika);
18. Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu eliminujący wprowadzanie wysokiego napięcia (prądu zmiennego 230V) do aparatu i zapewniający podwyższoną stabilność termiczną systemu;
19. Automatyczne rozpoznawanie przez system akcesoriów pomiarowych takich jak moduł do pomiarów transmisyjnych, przystawki ATR, przystawki rozproszeniowe i inne;
20. Wkłady osuszające w metalowej obudowie z możliwością regeneracji w suszarce. Wymiana wkładów osuszających bez zdejmowania obudowy aparatu. Wskaźnik poziomu wilgotności na wierzchu aparatu;
21. Wbudowana na stałe w aparat automatyczna przystawka do testowania spektrometru z kołem z wzorcami, sterowana z poziomu oprogramowania, zawierająca co najmniej następujące wzorce:
- folia polistyrenowa o precyzyjnie podanej grubości;
- filtr szklany typu NG11;
22. Przystawka pomiarowa do pomiarów transmisyjnych, wyposażona w co najmniej 3 szyny prowadzące do mocowania standardowych akcesoriów transmisyjnych. Przystawka powtarzalnie mocowana w przedziale pomiarowym i integrująca się z obudową spektrometru - po założeniu uszczelniająca drogę optyczną i jednocześnie włączona w system przedmuchu;
23. Zestaw do przygotowania i pomiaru próbek metodą pastylek w KBr;
24. Możliwość rozbudowy o drugi pełnowymiarowy przedział pomiarowy;
25. Sterowanie przez zewnętrzny komputer PC wchodzący w wyposażenie spektrometru FTIR, pracujący w systemie Windows. 32-bitowe oprogramowanie dostarczane przez producenta spektrometru kompatybilne z Windows XP Pro, Vista. Musi być w pełni kompatybilne z systemami operacyjnymi w języku polskim. Pełny program obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i angielskim. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu do Windows i przez wybór opcji regionalnych w panelu sterowania Windows. Musi zapewniać:
- możliwość tworzenia i przeszukiwania bibliotek widm;
- logowanie użytkowników z różnymi poziomami dostępu;
- funkcję automatycznego doboru wzmocnienia sygnału;
- podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office);
- moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji;
- moduł spektralnej interpretacji widm;
- automatyczną korekcję zawartości CO2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych;
- wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w czasie pomiaru);
- automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu;
- aktywną diagnostykę w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu;
- wydruki widm według dowolnie zdefiniowanych szablonów raportów: wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów;
- archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu;
- funkcje przetwarzania i prezentacji widm: wyświetlanie wielu widm jednocześnie, nakładanie widm, powiększanie dowolnego fragmentu widma, zmianę formatu z absorbancji na % transmitancji oraz na odwrót, przekształcanie do innych formatów np. Kubelka-Munk, korekcję linii podstawowej, wygładzanie widma, odejmowanie widm, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych;
- funkcje analizy widm: znajdowanie i zaznaczanie pików, wyznaczanie absorbancji bezwzględnej oraz absorbancji netto, wyznaczanie pola powierzchni piku - bezwzględnego oraz netto, kursor spektralny;
- moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujący algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej - co najmniej następujące:
a) do analiz ilościowych:
- Prawo Lamberta-Beera;
- CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów).
b) do analiz klasyfikacyjnych:
- Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm);
- Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa);
- QC compare (analiza korelacyjna widm uśrednionych.

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 131404

Data publikacji: 2009-05-04

Nazwa:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej

Ulica: ul. Wołoska 141

Numer domu: 141

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 02-507

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 022 2348729, 2348741

Numer faxu: 022 2348514

Regon: 00000155400000

Typ ogłoszenia: ZP-400

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Spektrofotometr FTIR

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa na Wydział Inżynierii Materiałowej Politechniki Warszawskiej fabrycznie nowego spektrofotometru FTIR.

Parametry techniczne wymagane:
1. Zakres spektralny, co najmniej 7800 - 350 cm-1;
2. Maksymalna rozdzielczość optyczna lepsza niż 0,4 cm-1;
3. Rozdzielczość nominalna ustawiana w zakresie 0,5-32 cm-1;
4. Szczelny i osuszany układ optyczny z okienkami KBr pokrywanymi BaF2 oddzielającymi optykę od przedziału próbek;
5. Podłączenia do opcjonalnego przedmuchu spektrometru i przedziału próbek osuszonym gazem;
6. Szumy mniejsze niż 1,3x10-5 Abs (peak-to-peak, pomiar 1 minuta przy rozdzielczości 4cm-1, detektor DLaTGS);
7. Interferometr justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł interferometru;
8. Układ optyczny wykorzystujący monolityczne lustra wzorcowe;
9. Ogniskowanie wiązki centralnie w komorze pomiarowej aparatu;
10. Justowanie interferometru na maksimum energii z poziomu oprogramowania;
11. Ceramiczne trwałe źródło promieniowania z możliwością pracy w trybach: normalnym i ekonomicznym - poza czasem pomiaru;
12. Beamsplitter Ge/KBr;
13. Detektor DLaTGS;
14. Maksymalna szybkość skanowania nie gorsza niż 40 skanów/s przy rozdzielczości 16cm-1;
15. Precyzja długości fali: nie gorsza niż 0,01 cm-1;
16. Komunikacja spektrometru z komputerem przez szybkie złącze USB 2.0;
17. Panel sterowania na aparacie z przyciskami do szybkiego uruchomienia najczęściej wykonywanych, (co najmniej 5 przycisków w tym jeden programowalny przez użytkownika);
18. Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu eliminujący wprowadzanie wysokiego napięcia (prądu zmiennego 230V) do aparatu i zapewniający podwyższoną stabilność termiczną systemu;
19. Automatyczne rozpoznawanie przez system akcesoriów pomiarowych takich jak moduł do pomiarów transmisyjnych, przystawki ATR, przystawki rozproszeniowe i inne;
20. Wkłady osuszające w metalowej obudowie z możliwością regeneracji w suszarce. Wymiana wkładów osuszających bez zdejmowania obudowy aparatu. Wskaźnik poziomu wilgotności na wierzchu aparatu;
21. Wbudowana na stałe w aparat automatyczna przystawka do testowania spektrometru z kołem z wzorcami, sterowana z poziomu oprogramowania, zawierająca co najmniej następujące wzorce:
- folia polistyrenowa o precyzyjnie podanej grubości;
- filtr szklany typu NG11;
22. Przystawka pomiarowa do pomiarów transmisyjnych, wyposażona w co najmniej 3 szyny prowadzące do mocowania standardowych akcesoriów transmisyjnych. Przystawka powtarzalnie mocowana w przedziale pomiarowym i integrująca się z obudową spektrometru - po założeniu uszczelniająca drogę optyczną i jednocześnie włączona w system przedmuchu;
23. Zestaw do przygotowania i pomiaru próbek metodą pastylek w KBr;
24. Możliwość rozbudowy o drugi pełnowymiarowy przedział pomiarowy;
25. Sterowanie przez zewnętrzny komputer PC wchodzący w wyposażenie spektrometru FTIR, pracujący w systemie Windows. 32-bitowe oprogramowanie dostarczane przez producenta spektrometru kompatybilne z Windows XP Pro, Vista. Musi być w pełni kompatybilne z systemami operacyjnymi w języku polskim. Pełny program obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i angielskim. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu do Windows i przez wybór opcji regionalnych w panelu sterowania Windows. Musi zapewniać:
- możliwość tworzenia i przeszukiwania bibliotek widm;
- logowanie użytkowników z różnymi poziomami dostępu;
- funkcję automatycznego doboru wzmocnienia sygnału;
- podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office);
- moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji;
- moduł spektralnej interpretacji widm;
- automatyczną korekcję zawartości CO2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych;
- wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w czasie pomiaru);
- automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu;
- aktywną diagnostykę w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu;
- wydruki widm według dowolnie zdefiniowanych szablonów raportów: wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów;
- archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu;
- funkcje przetwarzania i prezentacji widm: wyświetlanie wielu widm jednocześnie, nakładanie widm, powiększanie dowolnego fragmentu widma, zmianę formatu z absorbancji na % transmitancji oraz na odwrót, przekształcanie do innych formatów np. Kubelka-Munk, korekcję linii podstawowej, wygładzanie widma, odejmowanie widm, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych;
- funkcje analizy widm: znajdowanie i zaznaczanie pików, wyznaczanie absorbancji bezwzględnej oraz absorbancji netto, wyznaczanie pola powierzchni piku - bezwzględnego oraz netto, kursor spektralny;
- moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujący algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej - co najmniej następujące:
a) do analiz ilościowych:
- Prawo Lamberta-Beera;
- CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów).
b) do analiz klasyfikacyjnych:
- Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm);
- Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa);
- QC compare (analiza korelacyjna widm uśrednionych.

Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie

Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie

Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie

Czas: D

Data zakończenia: 30/06/2009

opis_war:
O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy spełniają warunki określone w art 22 ust 1 ustawy Prawo Zamówień Publicznych, oraz nie podlegają wykluczeniu z postępowania na podstawie art 24 ust 1 i 2 ustawy pzp. Ocena spełniania w/w warunków dokonana zostanie zgodnie z formułą: spełnia-nie spełnia, w oparciu o informacje zawarte w dokumentach i oświadczeniach stanowiących ofertę, zgodnie z SIWZ

inf_osw:
W celu potwierdzenia, że wykonawca posiada uprawnienie do wykonywania określonej działalności lub czynności oraz nie podlega wykluczeniu na podstawie art. 24 ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. - Prawo zamówień publicznych z udziału w postępowaniu o zamówienie publiczne wykonawca składa następujące oświadczenia i dokumenty: 1. Dokumenty wymagane: - formularz ofertowy z wykorzystaniem wzoru- załącznik nr 1 - aktualny odpis z właściwego rejestru albo aktualne zaświadczenie o wpisie do ewidencji działalności gospodarczej, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru lub zgłoszenia do ewidencji działalności gospodarczej, wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert - dokumenty potwierdzające posiadanie uprawnień/pełnomocnictw osób podpisujących ofertę, o ile fakt nie wynika z przedstawionych dokumentów rejestrowych, - koncesja, zezwolenie lub licencja, jeżeli ustawy nakładają obowiązek posiadania koncesji, zezwolenia lub licencji na podjęcie działalności gospodarczej w zakresie objętym zamówieniem publicznym zwanym dalej ZAMÓWIENIEM, - aktualne zaświadczenie właściwego naczelnika urzędu skarbowego oraz właściwego oddziału Zakładu Ubezpieczeń Społecznych lub Kasy Rolniczego Ubezpieczenia Społecznego potwierdzające odpowiednio, że wykonawca nie zalega z opłacaniem podatków, opłat oraz składek na ubezpieczenie zdrowotne lub społeczne, lub zaświadczenia, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania ofert. W celu potwierdzenia, że wykonawca posiada niezbędną wiedzę i doświadczenie oraz dysponuje potencjałem technicznym i osobami zdolnymi do wykonania zamówienia w postępowaniu o zamówienie publiczne składa następujące dokumenty: -Wykaz wykonanych w okresie ostatnich trzech lat dostaw lub usług, a jeżeli okres prowadzenia działalności jest krótszy - w tym okresie, z podaniem ich wartości, przedmiotu, dat wykonania i odbiorców- załącznik numer: 2. W celu potwierdzenia, że wykonawca znajduje się w sytuacji ekonomicznej i finansowej zapewniającej wykonanie zamówienia w postępowaniu o zamówienie publiczne składa następujące dokumenty: -Polisę lub inny dokument ubezpieczenia potwierdzający, że wykonawca jest ubezpieczony od odpowiedzialności cywilnej w zakresie prowadzonej działalności gospodarczej

Kod trybu postepowania: PN

Kod kryterium cenowe: B

Znaczenie kryterium 1: 80

Nazwa kryterium 2: serwis

Znaczenie kryterium 2: 10

Nazwa kryterium 3: gwarancja

Znaczenie kryterium 3: 10

Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie

Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206).

Data składania wniosków, ofert: 18/05/2009

Godzina składania wniosków, ofert: 11:00

Miejsce składania:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206).

On: D

Termin związania ofertą, data do: 17/06/2009

Informacje dodatkowe:
Zakup w ramach projektu MATLAS finansowanego w ramach Mechanizmu Finansowego Europejskiego Obszaru Gospodarczego (EOG) i Norweskiego Mechanizmu Finansowego 2004-2009

Kody CPV:
384332104 (Spektrometry emisyjne)

Podobne przetargi