Informacje o przetargach publicznych.
Site Search

243832 / 2009-07-17 - Uczelnia publiczna / Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych (Warszawa)

Dostawa stanowiska do pomiarów spektrofluorymetrycznych
Postępowanie numer WEiTI/127/DZP/2009/1035

Opis zamówienia

Przedmiotem zamówienia jest dostawa do Instytutu Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej stanowiska do pomiarów spektrofulorymetrycznych wraz z instalacją, uruchomieniem, przetestowaniem, przeszkoleniem użytkowników i gwarancją na okres minimum 12 miesięcy (czas gwarancji liczony jest od daty podpisania przez obie strony protokołu pozytywnego odbioru końcowego). Aparatura powinna być dostarczona do siedziby Użytkowników tj.: Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, 00-662 Warszawa, ul. Koszykowa 75, pokój 032 i na miejscu, uruchomiona i przetestowana a użytkownik przeszkolony w zakresie obsługi i konserwacji. Dodatkowo Wykonawca przeszkoli u Zamawiającego co najmniej 5 osób wskazanych przez Zamawiającego w zakresie obsługi stanowiska.

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 243832

Data publikacji: 2009-07-17

Nazwa:
Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych

Ulica: ul. Nowowiejska 15/19

Numer domu: 15/19

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 00-665

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 0-22 234 51 01

Numer faxu: 0-22 234 58 97

Adres strony internetowej: www.pw.edu.pl

Regon: 00000155400000

Typ ogłoszenia: ZP-400

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dostawa stanowiska do pomiarów spektrofluorymetrycznych
Postępowanie numer WEiTI/127/DZP/2009/1035

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa do Instytutu Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej stanowiska do pomiarów spektrofulorymetrycznych wraz z instalacją, uruchomieniem, przetestowaniem, przeszkoleniem użytkowników i gwarancją na okres minimum 12 miesięcy (czas gwarancji liczony jest od daty podpisania przez obie strony protokołu pozytywnego odbioru końcowego). Aparatura powinna być dostarczona do siedziby Użytkowników tj.: Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, 00-662 Warszawa, ul. Koszykowa 75, pokój 032 i na miejscu, uruchomiona i przetestowana a użytkownik przeszkolony w zakresie obsługi i konserwacji. Dodatkowo Wykonawca przeszkoli u Zamawiającego co najmniej 5 osób wskazanych przez Zamawiającego w zakresie obsługi stanowiska.

Kody CPV:
384332104 (Spektrometry emisyjne)

Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie

Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie

Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Tak

Czas: O

Okres w miesiącach: 2

Informacja na temat wadium: Zamawiający nie przewiduje wniesienia wadium

opis_war:
O udział w postępowaniu mogą ubiegać się Wykonawcy którzy:
1) Posiadają uprawnienia do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli ustawy nakładają obowiązek posiadania takich uprawnień
2) Posiadają niezbędną wiedzę i doświadczenie oraz dysponują potencjałem technicznym i osobami zdolnymi do wykonania zamówienia lub przedstawią pisemne zobowiązanie innych podmiotów do udostępnienia potencjału technicznego i osób zdolnych do wykonania zamówienia
3) Znajdują się w sytuacji ekonomicznej i finansowej zapewniającej wykonanie zamówienia, w oparciu o art. 22 ust.1.
4) Nie podlegają wykluczeniu z postępowania o udzielenie zamówienia zgodnie z art. 24 ust. 1 i 2 ustawy pzp, Ocena spełniania warunków udziału w postępowaniu będzie prowadzona na podstawie treści złożonych oświadczeń lub dokumentów wymaganych zgodnie rozporządzeniem Prezesa Rady Ministrów z dnia 19 maja 2006 r. w sprawie rodzajów dokumentów potwierdzających spełnianie warunków udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia publicznego, jakich może żądać zamawiający od wykonawcy Dz. U. z 2006 r. Nr 87, poz. 605 w brzmieniu nadanym przez rozporządzenie Prezesa Rady Ministrów z dnia 16 października 2008 r. zmieniające rozporządzenie w sprawie rodzajów dokumentów, jakich może żądać zamawiający od wykonawcy, oraz form, w jakich te dokumenty mogą być składane Dz.U. Nr 188, poz. 1155
Sposób oceny - na podstawie złożonych dokumentów: spełnia/nie spełnia

inf_osw:
A) Oświadczenie o spełnianiu warunków określonych w art. 22 ust. 1 ustawy na formularzu zgodnym z treścią załącznika nr 2 do SIWZ, a w przypadku nie posiadania potencjału technicznego i osób zdolnych do wykonania zamówienia, załączają pisemne zobowiązanie innych podmiotów do udostępnienia potencjału technicznego i osób zdolnych do wykonania zamówienia.
B) Aktualny odpis z właściwego rejestru albo aktualne zaświadczenie o wpisie do ewidencji działalności gospodarczej, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru lub zgłoszenia do ewidencji działalności gospodarczej, wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert.
C) Załącznik Oferty będący załącznikiem do SIWZ

Kod trybu postepowania: PN

Kod kryterium cenowe: A

Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie

Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
Politechnika Warszawska, Dział Zamówień Publicznych WEiTI PW, Gmach Elektroniki ul. Nowowiejska 15/19, 00-665 Warszawa, pokój numer 101. od pn - pt w godz. 10:00 - 15:00

Data składania wniosków, ofert: 27/07/2009

Godzina składania wniosków, ofert: 15:00

Miejsce składania:
Politechnika Warszawska, Dział Zamówień Publicznych WEiTI PW, Gmach Elektroniki ul. Nowowiejska 15/19, 00-665 Warszawa, pokój numer 101

On: O

Termin związania ofertą, liczba dni: 30

Informacje dodatkowe:
Przetarg realizowany na potrzeby projektu Przetarg realizowany na potrzeby projektu CENTRUM NANOFOTONIKI - POIG.02.02.00-00-004/08-00) -Projekt współfinansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka

Podobne przetargi

278006 / 2009-08-13 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384332104 (Spektrometry emisyjne)
Dostawa stanowiska do pomiarów spektrofluorymetrycznych Postępowanie numer WEiTI/127/DZP/2009/1035

226654 / 2013-06-13 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384332104 (Spektrometry emisyjne)
Przenośny fluorescencyjny spektrometr rentgenowski (XRF), oznaczenie sprawy WIM/ZP/11/2013

86762 / 2016-04-13 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski Wydział Chemii - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384332104 (Spektrometry emisyjne)
Dostawa czytnika płytkowego fluorescencji z funkcją pomiarów anizotropii fluorescencji oraz dozowania reagentów wraz z dedykowanym stanowiskiem do procesowania danych dla Wydziału Chemii Uniwersytetu Warszawskiego

128394 / 2016-05-20 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski Wydział Chemii - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384332104 (Spektrometry emisyjne)
Dostawa czytnika płytkowego fluorescencji z funkcją pomiarów anizotropii fluorescencji oraz dozowania reagentów wraz z dedykowanym stanowiskiem do procesowania danych dla Wydziału Chemii Uniwersytetu Warszawskiego

526056 / 2013-12-18 - Inny: Podmiot prawa publicznego

Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384332104 (Spektrometry emisyjne)
Dostawa do siedziby Zamawiającego fabrycznie nowego, nieużywanego spektrometru emisyjnego typu Spectroil M wraz z robotem - 1 kpl.

117092 / 2011-05-17 - Administracja rzÄ…dowa terenowa

Okręgowy Urząd Probierczy - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384332104 (Spektrometry emisyjne)
Dostawa, instalacja i uruchomienie spektrometru fluorescencji rentgenowskiej do nieniszczącej analizy stopów metali szlachetnych

112084 / 2016-05-05 - Administracja rzÄ…dowa centralna

Okręgowy Urząd Probierczy - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384332104 (Spektrometry emisyjne)
Dostawa, instalacja i uruchomienie nowego spektrometru fluorescencji rentgenowskiej do nieniszczącej analizy stopów metali szlachetnych

447678 / 2013-11-04 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384332104 (Spektrometry emisyjne)
Przenośny fluorescencyjny spektrometr rentgenowski (XRF), oznaczenie sprawy WIM/ZP/24/2013

275094 / 2013-07-15 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384332104 (Spektrometry emisyjne)
Przenośny fluorescencyjny spektrometr rentgenowski (XRF), oznaczenie sprawy WIM/ZP/11/2013

328158 / 2012-09-03 - Administracja rzÄ…dowa centralna

Okręgowy Urząd Probierczy - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384332104 (Spektrometry emisyjne)
Dostawa, instalacja i uruchomienie nowego spektrometru fluorescencji rentgenowskiej do nieniszczącej analizy stopów metali szlachetnych .

94293 / 2011-03-23 - Uczelnia publiczna

Politechnika Radomska im. K. Pułaskiego - Radom (mazowieckie)
CPV: 384332104 (Spektrometry emisyjne)
Dostawa elipsometru ze specjalistycznym stołem przystosowanym do wymagań urządzenia wraz z dowozem, uruchomieniem oraz przeszkoleniem trzech pracowników Politechniki Radomskiej.

83694 / 2016-04-11 - Administracja rzÄ…dowa centralna

Okręgowy Urząd Probierczy - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384332104 (Spektrometry emisyjne)
Dostawa, instalacja i uruchomienie nowego spektrometru fluorescencji rentgenowskiej do nieniszczącej analizy stopów metali szlachetnych.

189193 / 2011-07-11 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384332104 (Spektrometry emisyjne)
Dostawa dodatkowego trybu pomiaru zaniku fluorescencji z detektorem stroboskopowym oraz siatki dyfrakcyjnej uzupełnienia do układu spektrofluorometrycznego - zamówienie uzupełniające

501340 / 2013-12-05 - Inny: Podmiot prawa publicznego

Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 384332104 (Spektrometry emisyjne)
Dostawa do siedziby Zamawiającego fabrycznie nowego, nieużywanego: a) spektrometru emisyjnego typu Spectroil M wraz z robotem - część I zamówienia, b) automatycznego gęstościomierza do badań olejów zużytych - część II zamówienia.