Informacje o przetargach publicznych.
Site Search

179559 / 2013-09-06 - Uczelnia publiczna / Wydział Mechatroniki Politechniki Warszawskiej (Warszawa)

Ogłoszenie zawiera informacje aktualizacyjne dotyczące publikacji w biuletynie 1 z dnia 2013-07-04 pod pozycją 132933. Zobacz ogłoszenie 132933 / 2013-07-04 - Uczelnia publiczna.

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 179559

Data publikacji: 2013-09-06

Nazwa: Wydział Mechatroniki Politechniki Warszawskiej

Ulica: ul. św. Andrzeja Boboli

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 02-525

Województwo / kraj: warszawskie

Numer telefonu: 0-22 234-85-89

Numer faxu: 0-22 849-99-36

Regon: 00000155433000

Typ ogłoszenia: ZP-403

Numer biuletynu: 1

Numer pozycji: 132933

Data wydania biuletynu: 2013-07-04

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Czy zamówienie było ogłoszone w BZP: Tak

Rok ogłoszenia: 2013

Pozycja ogłoszenia: 132933

Czy w BZP zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie: Nie

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Dostawa modułowego stanowiska dydaktycznego

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia: Dostawa modułowego stanowiska dydaktycznego

Kody CPV:
385700001 (Przyrządy i aparatura nastawcza i kontrolna)

Kod trybu postepowania: PN

Czy zamówienie dotyczy programu UE: Nie

Nazwa wykonawcy:
National Instruments Poland Sp. z o.o. Salzburg Center

Adres pocztowy wykonawcy: ul. Grójecka 5

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 02-025

ID województwa: 6

Województwo / kraj: mazowieckie

Data udzielenie zamówienia: 19/08/2013

Liczba ofert: 1

Liczba odrzuconych ofert: 0

Szacunkowa wartość zamówienia: 57154,00

Cena wybranej oferty: 57651,77

Cena minimalna: 57651,77

Cena maksymalna: 57651,77

Kod waluty: 1

Waluta (PLN): PLN

Podobne przetargi

132933 / 2013-07-04 - Uczelnia publiczna

Wydział Mechatroniki Politechniki Warszawskiej - Warszawa (warszawskie)
CPV: 385700001 (Przyrządy i aparatura nastawcza i kontrolna)
Dostawa modułowego stanowiska dydaktycznego do prototypowania i testowania obwodów elektronicznych