49472 / 2012-02-20 - Podmiot prawa publicznego / Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk (Warszawa)
Dodatkowe wyposażenie skaningowego mikroskopu elektronowego FEI Nova 450 NanoSEM
Opis zamówienia
Dostawa, instalacja, uruchomienie i przetestowanie dodatkowego wyposażenia i oprogramowania skaningowego mikroskopu elektronowego FEI Nova 450 NanoSEM.
1. Podkolumnowy niskopróżniowy detektor elektronów wtórnych
Niskopróżniowy detektor elektronów wtórnych umożliwiający uzyskiwanie odwzorowania preparatów w warunkach niskiej próżni z soczewką obiektywu pracującą w trybie immersyjnym. Przy pomocy tego detektora, montowanego pod soczewką końcową powinna być możliwa ultra-wysokorozdzielcza rejestracja obrazów próbek nieprzewodzących lub szybko zanieczyszczających się.
2. Detektor niskopróżniowy pierścieniowy
Detektor elektronów wstecznie rozproszonych zoptymalizowany do pracy w trybie niskiej próżni, redukujący efekt rozpraszania się wiązki elektronowej w środowisku gazu roboczego (tzw. zjawisko (beam skirt) oraz umożliwiający precyzyjną analizę EDX w niskiej próżni.
3. Zintegrowany z mikroskopem SEM system do czyszczenia powierzchni próbek.
Urządzenie zintegrowane z komora mikroskopu SEM. Przeznaczone do czyszczenia powierzchni preparatu plazmą niskoenergetyczną w celu usunięcia zanieczyszczeń węglowodorowych przy wysokorozdzielczym obrazowaniu preparatu. Urządzenie sterowane z poziomu oprogramowania mikroskopu.
4. Oprogramowanie do łatwiej nawigacji po powierzchni preparatu
Specjalistyczne oprogramowanie współpracujące z mikroskopami SEM, pozwalające operatorowi mikroskopu na poruszanie się w obszarze stolika z badanym preparatem przy użyciu zdjęcia tego stolika zaimportowanego z zewnętrznego źródła takiego jak np. mikroskop optyczny. Dodatkowo oprogramowanie powinno umożliwiać tworzenia wysokorozdzielczej wielkoformatowej (złożonej z poszczególnych segmentów) mapy elektronowej danego obszaru oglądanego preparatu, z możliwością zapisania takiego zdjęcia w pliku na dysku komputera.
5. Konsola sterująca do mikroskopu SEM Nova 450 NanoSEM.
Panel do manualnego sterowania parametrami mikroskopu FEI Nova 450 NanoSEM, takimi jak: ustawianie ostrości, powiększenie, kontrast, jasność, przesuwanie wiązki i korekcja astygmatyzmu.
Numer biuletynu: 1
Pozycja w biuletynie: 49472
Data publikacji: 2012-02-20
Nazwa: Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
Ulica: ul. Kasprzaka 44/52
Numer domu: 44/52
Miejscowość: Warszawa
Kod pocztowy: 01-224
Województwo / kraj: mazowieckie
Numer telefonu: 22 3433151
Numer faxu: 22 3433333
Adres strony internetowej: www.ichf.edu.pl
Regon: 00032604900000
Typ ogłoszenia: ZP-400
Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak
Ogłoszenie dotyczy: 1
Rodzaj zamawiającego: Podmiot prawa publicznego
Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dodatkowe wyposażenie skaningowego mikroskopu elektronowego FEI Nova 450 NanoSEM
Rodzaj zamówienia: D
Przedmiot zamówienia:
Dostawa, instalacja, uruchomienie i przetestowanie dodatkowego wyposażenia i oprogramowania skaningowego mikroskopu elektronowego FEI Nova 450 NanoSEM.
1. Podkolumnowy niskopróżniowy detektor elektronów wtórnych
Niskopróżniowy detektor elektronów wtórnych umożliwiający uzyskiwanie odwzorowania preparatów w warunkach niskiej próżni z soczewką obiektywu pracującą w trybie immersyjnym. Przy pomocy tego detektora, montowanego pod soczewką końcową powinna być możliwa ultra-wysokorozdzielcza rejestracja obrazów próbek nieprzewodzących lub szybko zanieczyszczających się.
2. Detektor niskopróżniowy pierścieniowy
Detektor elektronów wstecznie rozproszonych zoptymalizowany do pracy w trybie niskiej próżni, redukujący efekt rozpraszania się wiązki elektronowej w środowisku gazu roboczego (tzw. zjawisko (beam skirt) oraz umożliwiający precyzyjną analizę EDX w niskiej próżni.
3. Zintegrowany z mikroskopem SEM system do czyszczenia powierzchni próbek.
Urządzenie zintegrowane z komora mikroskopu SEM. Przeznaczone do czyszczenia powierzchni preparatu plazmą niskoenergetyczną w celu usunięcia zanieczyszczeń węglowodorowych przy wysokorozdzielczym obrazowaniu preparatu. Urządzenie sterowane z poziomu oprogramowania mikroskopu.
4. Oprogramowanie do łatwiej nawigacji po powierzchni preparatu
Specjalistyczne oprogramowanie współpracujące z mikroskopami SEM, pozwalające operatorowi mikroskopu na poruszanie się w obszarze stolika z badanym preparatem przy użyciu zdjęcia tego stolika zaimportowanego z zewnętrznego źródła takiego jak np. mikroskop optyczny. Dodatkowo oprogramowanie powinno umożliwiać tworzenia wysokorozdzielczej wielkoformatowej (złożonej z poszczególnych segmentów) mapy elektronowej danego obszaru oglądanego preparatu, z możliwością zapisania takiego zdjęcia w pliku na dysku komputera.
5. Konsola sterująca do mikroskopu SEM Nova 450 NanoSEM.
Panel do manualnego sterowania parametrami mikroskopu FEI Nova 450 NanoSEM, takimi jak: ustawianie ostrości, powiększenie, kontrast, jasność, przesuwanie wiązki i korekcja astygmatyzmu.
Kody CPV:
385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie
Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie
Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie
Czas: O
Okres w miesiącach: 4
Informacja na temat wadium: wadium nie jest wymagane
Zaliczka: Nie
Oświadczenie wykluczenia nr 1: Tak
Oświadczenie wykluczenia nr 2: Tak
Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak
inne_dokumenty:
Dokładny opis techniczny oferowanego sprzętu potwierdzającego spełnienie wymagań zawartych w opisie przedmiotu zamówienia.
III.7 osoby niepełnosprawne: Nie
Kod trybu postepowania: PN
Czy zmiana umowy: Nie
Kod kryterium cenowe: A
Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie
Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
Instytut Chemii Fizycznej PAN
01-224 Warszawa
ul. Kasprzaka 44/52
pokój nr 36
Data składania wniosków, ofert: 09/03/2012
Godzina składania wniosków, ofert: 11:00
Miejsce składania:
Instytut Chemii Fizycznej PAN
01-224 Warszawa
ul. Kasprzaka 44/52
pokój nr 36
On: O
Termin związania ofertą, liczba dni: 30
Informacje dodatkowe:
Zakup w ramach programu NOBLESSE - NanOtechnology, Biomaterials and aLternative Energy Source for ERA integration- FP7-REGPOT-2011_1 no 285949
Czy unieważnienie postępowania: Nie
Podobne przetargi
201728 / 2010-07-08 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Technologii Elektronowej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Dostawa stołowego mikroskopu elektronowego SEM wraz z komputerem
313695 / 2011-11-30 - Inny: instytut badawczy
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Dostawa laboratoryjnego skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
393748 / 2013-09-27 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Dostawa doposażenia skaningowego elektronowego mikroskopu transmisyjnego Hitachi HD2700 w tryby pracy przy napięciach przyśpieszających 80 i 120 kV.
211263 / 2011-08-04 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Wysokich Ciśnień PAN - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Dostawa fabrycznie nowego stołowego skaningowego mikroskopu elektronowego z systemem mikroanalizy EDS i oprzyrządowaniem
60300 / 2016-03-17 - Inny: Instytut Badawczy
Państwowy Instytut Geologiczny - Państwowy Instytut Badawczy - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Zakup i dostawa systemu EDS do skaningowego mikroskopu elektronowego typu stolikowego HITACHI TM 3030.
137715 / 2010-05-28 - Inny: jednostka badawczo-rozwojowa
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Dostawa i uruchomienie śluzy do mikroskopu Carl Zeiss Workstation NEON40 Auriga wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
405794 / 2012-10-18 - Inny: instytut badawczy
Narodowe Centrum Badań Jądrowych - Otwock (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Dostawa wraz z przeszkoleniem z zakresu obsługi mikroskopu skaningowego - szt.1.
366694 / 2010-11-12 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Kompaktowy mikroskop skaningowy
443364 / 2013-10-30 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Dostawa doposażenia skaningowego elektronowego mikroskopu transmisyjnego Hitachi HD2700 w tryby pracy przy napięciach przyśpieszających 80 i 120 kV
141853 / 2009-08-28 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy - Radom (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Dostawa mikroskopu tunelowego STM, numer sprawy BT/11/2009
174927 / 2012-08-14 - Uczelnia publiczna
Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
DOSTAWA ELEMENTÓW DOPOSAŻENIA MIKROSKOPU QUANTA 3D FEG FIRMY FEI
172071 / 2011-06-21 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Wysokich Ciśnień PAN - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Dostawa fabrycznie nowego stołowego skaningowego mikroskopu elektronowego z systemem mikroanalizy EDS i oprzyrządowaniem
81824 / 2012-03-16 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Dodatkowe wyposażenie skaningowego mikroskopu elektronowego FEI Nova 450 NanoSEM
170439 / 2009-10-06 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy - Radom (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Dostawa mikroskopu tunelowego STM, numer sprawy BT/11/2009
226395 / 2012-10-24 - Uczelnia publiczna
Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
DOSTAWA UKÅADU KRIOGENICZNEGO DO CIEKÅEGO AZOTU - DOPOSAÅ»ENIE
MIKROSKOPU QUANTA 3D FEG FIRMY FEI
102571 / 2010-04-28 - Inny: jednostka badawczo - rozwojowa
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Dostawa i uruchomienie śluzy do mikroskopu Carl Zeiss Workstation NEON40 Auriga wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
224105 / 2012-10-22 - Uczelnia publiczna
Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
DOSTAWA ELEMENTÓW DOPOSAŻENIA MIKROSKOPU QUANTA 3D FEG FIRMY FEI
468180 / 2013-11-18 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Materiały eksploatacyjne do Skanujących Mikroskopów
Elektronowych,(oznaczenie sprawy WIM/ZP/28/2013)
39568 / 2011-03-09 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska Wydział Inżynierii Chemicznej i Procesowej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
DOSTAWA SKANINGOWEGO MIKROSKOPU ELEKTRONOWEGO
17454 / 2016-01-26 - Inny: Instytut Badawczy
Państwowy Instytut Geologiczny - Państwowy Instytut Badawczy - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Zakup i dostawa systemu EDS do skaningowego mikroskopu elektronowego typu stolikowego HITACHI TM 3030
313886 / 2011-09-30 - Inny: Instytu badawczy
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
DostawÄ™ laboratoryjnego skaningowego mikroskopu
elektronowego wraz z wyposażeniem dla
Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
274039 / 2012-12-31 - Uczelnia publiczna
Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
DOSTAWA UKÅADU KRIOGENICZNEGO DO CIEKÅEGO AZOTU - DOPOSAÅ»ENIE MIKROSKOPU QUANTA 3D FEG FIRMY FEI.
369490 / 2012-09-27 - Inny: instytut badawczy
Narodowe Centrum Badań Jądrowych - Otwock (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Dostawa mikroskopu skaningowego
55810 / 2010-03-02 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
Postępowanie numer WEiTI/202/DZP/2009/1035
Skaningowy mikroskop elektronowy
16554 / 2011-02-03 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska Wydział Inżynierii Chemicznej i Procesowej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385111001 (Skanujące mikroskopy elektronowe)
dostawa skaningowego mikroskopu elektronowego