270269 / 2008-10-16 - Inny: Jednostka badawczo-rozwojowa / Instytut Nawozów Sztucznych w Puławach (Puławy)

Zgodny z tuszem 14N1618E (Nr 150XL) Żółty Wydajny marki FullPrint

Cena: 39.36 PLN

Przedmiot zamówienia: dostawa spektrometru optycznego ze wzbudzeniem w plazmie indukcyjnie sprzężonej z poziomą orientacją plazmy (ICP-OES-Axialny) wraz z mikrofalowym systemem przygotowania próbek. Wyposażenie dodatkowe zgodnie z sekcją III SIWZ.

Opis zamówienia

Przedmiotem zamówienia jest:
Dostawa spektrometru optycznego ze wzbudzeniem w plazmie indukcyjnie sprzężonej z poziomą orientacją plazmy (ICP OES Axialny) wraz z mikrofalowym systemem przygotowania próbek.

I. Równoczesny spektrometr ICP OES z poziomą orientacją plazmy

Generator wysokich częstotliwości:
- częstotliwość falowa: 40 MHz
- układ chłodzenia: powietrzny
- zakres regulacji mocy: 700 do 1700W kontrolowana z oprogramowania
- stabilność dostarczanej mocy: lepiej niż 0,1 procent
- efektywność sprzężenia fal ponad 75 procent
- automatyczna kontrola zapalania i gaszenia plazmy
- ustawianie optymalnych parametrów w zależności od analizowanych próbek, indywidualnie zapisywane w każdej metodzie

Układ optyczny:
- komputerowo optymalizowana optyka echelleowska bez elementów ruchomych zapewniająca uzyskiwanie niskich poziomów detekcji i maksymalnej stabilności
- polychromator o długości 400 mm stabilizowany w temperaturze 35 stopni C w celu zapewnienia doskonałej stabilności. Składający się z precyzyjnie wykonanego pryzmatu oraz echeleowskiej siatki dyfrakcyjnej o gęstości 94,74 linii na mm.
- układ płukania polychromatora z możliwością chwilowego intensywnego przepłukania (boost purge) w celu możliwości analizy w zakresie poniżej 185 nm


Detektor CCD:
- detektor CCD z matrycą wykonaną w technologii I-MAP odwzorowującą echellogram w pełnym zakresie pomiarowym 167 - 785 nm
- mocowany na bazie chłodzonej trzystopniowym układem Peltier do temperatury -35 stopni C w celu minimalizacji prądu przy braku promieniowania i zminimalizowaniu szumów.
- technologia umożliwiająca jednoczesną integrację sygnałów bardzo intensywnych i bardzo niskich przy zachowaniu optymalnego stosunku sygnału do szumu.
- oznaczanie maksymalnie niskich poziomów detekcji i zabezpiecza przed przekroczeniem maksymalnego sygnału (over-range)
- częstotliwość sczytywania informacji z matrycy co najmniej 1 MHz.
- całkowity czas kompletnego odczytu informacji z detektora co najwyżej 1 sek.
- system zabezpieczenia przelania sygnału (anti-blooming) na każdym pikselu umożliwiający jednoczesne oznaczanie pierwiastków na skrajnie różnych poziomach stężeń.

Konfiguracja plazmy:
- automatyczna optymalizacja ustawień parametrów plazmy zgodnie z wprowadzonymi parametrami
- horyzontalnie zorientowana plazma z poziomym układem obserwacji
- poziomo ustawiona dysza plazmy z programowalnym w płaszczyznach X Y kątem obserwacji polepszający poziom wykrywalności i zwiększający czułość
- chłodzony wodą interfejs chroniący przed obserwacją chłodnych stref plazmy, redukujący wpływ czynników zakłócających oraz umożliwiający analizę próbek o wyższej zawartości rozpuszczonego ciała stałego i rozszerzający zakres liniowości wykonywanych oznaczeń w porównaniu z konwencjonalnymi układami typu dual view
- wysokość okna obserwacji ustawiana indywidualnie i zapisywana w metodzie dla poszczególnych pierwiastków.

Układ wprowadzenia próbki:
- pompa perystaltyczna trzykanałowa z regulowaną prędkością - pełna kontrola z oprogramowania
- Układ do próbek wodnych zawierający:
1. nebulizer szklany: SeaSpray
2. komora mgielna: cyklonowa szklana double-pass high precision z odpowiednim uchwytem
3. Palnik: kwarcowy jednoczęściowy - 2 sztuki
4. wężyki do próbek i ścieków - dwa opakowania po 12 szt.
- Układ do próbek zawierających kwas fluorowodorowy zawierający:
1. nebulizer inertny typu V-groove
2. komora mgielna: interna komora mgielna typu Szturman-Master z odpowiednim uchwytem
3. Palnik rozbieralny z aluminiową dyszą o średnicy 1,8mm
4. wężyki do próbek i ścieków - dwa opakowania po 12 szt.

Kontrola przepływu gazów:
- przepływ gazu do plazmy: sterowany z oprogramowania
- przepływ gazu pomocniczego: sterowany z oprogramowania
- przepływ gazu do nebulizera z mass flow kontrolerem: sterowany z oprogramowania

Oprogramowanie:
- łatwy w obsłudze i przyjazny dla użytkownika pakiet oprogramowania w języku polskim lub angielskim
- możliwość wykorzystania pomocnego asystenta tworzenia (Wizards) krok po kroku metod analitycznych i sekwencji oraz korzystania z powszechnie używanych metod przykładowych.
- kontrola przepływu gazów, pozycji obserwacji plazmy, zapalania gaszenia plazmy, mocy generatora RF, systemu zabezpieczeń oraz monitoringu parametrów pracy
- możliwość wyboru szeregu technik korekcji tła
- szybka automatyczna technika dopasowania krzywych kalibracyjnych w celu dekonwolucji analizowanych widm w czasie rzeczywistym
- automatyczna optymalizacja parametrów pracy aparatu
- technologia zaworu 4-ro drożnego przed nebulizerem umożliwiająca znaczne skrócenie czasu płukania pomiędzy kolejnymi analizami zwiększając przez to wydajność aparatu
- asystent umożliwiający rozszerzenie dynamicznego zakresu liniowego oraz automatycznej walidacji wyników
- możliwość wykorzystania modułu TRS (Time Resolved Signal) w celu podłączenia aparatu np. z HPLC i analizy wyników w czasie rzeczywistym
- możliwość ustawiania liczby powtórzeń w zależności od typu analizowanej próbki (standard kalibracyjny, roztwór kontroli jakości - QC control, analit)
- rutynowe metody kalibracji wielo-pierwiastkowej standardem zewnętrznym i metody dodatku wzorca
- modyfikowalne przez użytkownika protokoły kontroli jakości wyników (QCP protocol) w celu spełnienia wymagań zdefiniowanych przez użytkownika
- w pełni edytowalna lista nazw próbek z dodatkowymi polami opisu
- możliwość definiowania współczynnika korekcji objętościowego/wagowego rozcieńczenia w zależności od stężenia dla próbek i standardów QC
- bazo-danowy system (oparty na MS SQL Server) zapisywania metod i wyników w celu bezpiecznego, szybkiego i łatwego dostępu do danych
- wyświetlanie graficzne sygnału spektrum, wyniku i krzywej kalibracyjnej w czasie rzeczywistym
- możliwość wykonania analiz retrospektywnych uzyskanych wyników
- szeroki zakres możliwości raportowania i eksportu wyników z edytowalnymi ustawieniami przez użytkownika
- graficzna wizualizacja statusu systemu oraz zestaw narzędzi do diagnostyki instrumentu
- wszechstronny system pomocy zawierający wiele filmów wyjaśniających sposoby postępowania i rozwiązywania problemów
- możliwość zainstalowania dodatkowego softwareu w celu spełnienia wymagań nakładanych przez amerykańską agencję FDA - 21 CFR Part 11

Wyposażenie dodatkowe:
- Zamknięty układ chłodzenia odpowiedni do oferowanego spektrometru
- Wentylator wyciągowy o mocy odpowiedniej do oferowanego spektrometru, zasilanie 230V na 50Hz
- Okap wyciągowy odpowiedni do oferowanego spektrometru
- Minimum 12 miesięczna gwarancja (serwis w Polsce)

- Komputer klasy PC o parametrach nie gorszych niż:

ZESTAW KOMPUTEROWY - nowy

procesor: Intel Pentium Core 2 Duo 2x2.2GHz FSB 800MHz
pamięć Cash L2: min. 2048 KB
pamięć operacyjna: min. 2GB
napęd optyczny: DVD-RW+ na - DL
dysk twardy: min 200GB SATA II
karta grafiki: zintegrowana z płytą główną
karta sieciowa: zintegrowana z płytą główną 10 na 100 na 1000
karta dźwiękowa: zintegrowana z płytą główną
obudowa: Midi Tower
klawiatura: PS na 2
myszka: optyczna
system operacyjny: MS Windows XP Prof. SP2
możliwość zainstalowania: MS Office 2007 BASIC PL OEM

MONITOR LCD - nowy

Przekątna ekranu: 19
Format obrazu: 4 na 3
Rozdzielczość: 1280 razy 1024 pikseli
Jasność: min. 300cd na m2
Kontrast: min. 700 do 1
Czas reakcji: max. 5 ms
Inne właściwości: matowy ekran

DRUKARKA - nowa

Typ: laserowa kolor
Max. Rozmiar papieru A4
Rozdzielczość: mono 600 razy 600 dpi
kolor 600 razy 600 dpi
Zainstalowana pamięć: min. 96 MB
Prędkość wydruku: mono min. 12 str. na min.
kolor min. 8 str. na min.
Złącza zewnętrzne: USB 2.0, Ethernet 10 na 100Mbps

- Zasilanie 230V, 50 Hz
- Minimum 12 miesięczna gwarancja (serwis w Polsce)
- Certyfikaty CE

II. Mineralizator mikrofalowy

Parametry minimalne:
- Moc magnetronu minimum 1600W
- Bezpośrednia kontrola temperatury oraz ciśnienia w naczyniu referencyjnym
- Naczynia zabezpieczone membranami bezpieczeństwa
- Rotor segmentowy minimum 14 pozycyjny na naczynia ciśnieniowe 100 ml
- Możliwość mineralizacji jednoczesnej we wszystkich 14 pozycjach rotora
- Maksymalna temperatura mineralizacji co najmniej 260 C
- Maksymalne ciśnienie mineralizacji co najmniej 500 psi
- Dwa kompletne zestawy teflonowych naczyń ciśnieniowych do mineralizacji tj.
co najmniej 2 razy 13 sztuk kompletnych naczyń standardowych oraz dwa kompletne naczynia referencyjne (kontrolne)
- System wyciągowy zintegrowany w piecu do mineralizacji
- Zasilanie 230V, 50 Hz
- Minimum 12 miesięczna gwarancja (serwis w Polsce)
- Certyfikaty CE

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 270269

Data publikacji: 2008-10-16

Nazwa: Instytut Nawozów Sztucznych w Puławach

Ulica: Aleja Tysiąclecia Państwa Polskiego 13A

Numer domu: 13A

Miejscowość: Puławy

Kod pocztowy: 24-110

Województwo / kraj: lubelskie

Numer telefonu: 081 473 15 24

Numer faxu: 081 473 14 88

Adres strony internetowej: www.ins.pulawy.pl

Regon: 00004161900000

Typ ogłoszenia: ZP-400

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Ogłoszenie dotyczy: 1

Adres internetowy dynamicznego systemu zakupów: Nie dotyczy

Rodzaj zamawiającego: Inny: Jednostka badawczo-rozwojowa

Inny rodzaj zamawiającego: Jednostka badawczo-rozwojowa

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Przedmiot zamówienia: dostawa spektrometru optycznego ze wzbudzeniem w plazmie indukcyjnie sprzężonej z poziomą orientacją plazmy (ICP-OES-Axialny) wraz z mikrofalowym systemem przygotowania próbek. Wyposażenie dodatkowe zgodnie z sekcją III SIWZ.

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest:
Dostawa spektrometru optycznego ze wzbudzeniem w plazmie indukcyjnie sprzężonej z poziomą orientacją plazmy (ICP OES Axialny) wraz z mikrofalowym systemem przygotowania próbek.

I. Równoczesny spektrometr ICP OES z poziomą orientacją plazmy

Generator wysokich częstotliwości:
- częstotliwość falowa: 40 MHz
- układ chłodzenia: powietrzny
- zakres regulacji mocy: 700 do 1700W kontrolowana z oprogramowania
- stabilność dostarczanej mocy: lepiej niż 0,1 procent
- efektywność sprzężenia fal ponad 75 procent
- automatyczna kontrola zapalania i gaszenia plazmy
- ustawianie optymalnych parametrów w zależności od analizowanych próbek, indywidualnie zapisywane w każdej metodzie

Układ optyczny:
- komputerowo optymalizowana optyka echelleowska bez elementów ruchomych zapewniająca uzyskiwanie niskich poziomów detekcji i maksymalnej stabilności
- polychromator o długości 400 mm stabilizowany w temperaturze 35 stopni C w celu zapewnienia doskonałej stabilności. Składający się z precyzyjnie wykonanego pryzmatu oraz echeleowskiej siatki dyfrakcyjnej o gęstości 94,74 linii na mm.
- układ płukania polychromatora z możliwością chwilowego intensywnego przepłukania (boost purge) w celu możliwości analizy w zakresie poniżej 185 nm


Detektor CCD:
- detektor CCD z matrycą wykonaną w technologii I-MAP odwzorowującą echellogram w pełnym zakresie pomiarowym 167 - 785 nm
- mocowany na bazie chłodzonej trzystopniowym układem Peltier do temperatury -35 stopni C w celu minimalizacji prądu przy braku promieniowania i zminimalizowaniu szumów.
- technologia umożliwiająca jednoczesną integrację sygnałów bardzo intensywnych i bardzo niskich przy zachowaniu optymalnego stosunku sygnału do szumu.
- oznaczanie maksymalnie niskich poziomów detekcji i zabezpiecza przed przekroczeniem maksymalnego sygnału (over-range)
- częstotliwość sczytywania informacji z matrycy co najmniej 1 MHz.
- całkowity czas kompletnego odczytu informacji z detektora co najwyżej 1 sek.
- system zabezpieczenia przelania sygnału (anti-blooming) na każdym pikselu umożliwiający jednoczesne oznaczanie pierwiastków na skrajnie różnych poziomach stężeń.

Konfiguracja plazmy:
- automatyczna optymalizacja ustawień parametrów plazmy zgodnie z wprowadzonymi parametrami
- horyzontalnie zorientowana plazma z poziomym układem obserwacji
- poziomo ustawiona dysza plazmy z programowalnym w płaszczyznach X Y kątem obserwacji polepszający poziom wykrywalności i zwiększający czułość
- chłodzony wodą interfejs chroniący przed obserwacją chłodnych stref plazmy, redukujący wpływ czynników zakłócających oraz umożliwiający analizę próbek o wyższej zawartości rozpuszczonego ciała stałego i rozszerzający zakres liniowości wykonywanych oznaczeń w porównaniu z konwencjonalnymi układami typu dual view
- wysokość okna obserwacji ustawiana indywidualnie i zapisywana w metodzie dla poszczególnych pierwiastków.

Układ wprowadzenia próbki:
- pompa perystaltyczna trzykanałowa z regulowaną prędkością - pełna kontrola z oprogramowania
- Układ do próbek wodnych zawierający:
1. nebulizer szklany: SeaSpray
2. komora mgielna: cyklonowa szklana double-pass high precision z odpowiednim uchwytem
3. Palnik: kwarcowy jednoczęściowy - 2 sztuki
4. wężyki do próbek i ścieków - dwa opakowania po 12 szt.
- Układ do próbek zawierających kwas fluorowodorowy zawierający:
1. nebulizer inertny typu V-groove
2. komora mgielna: interna komora mgielna typu Szturman-Master z odpowiednim uchwytem
3. Palnik rozbieralny z aluminiową dyszą o średnicy 1,8mm
4. wężyki do próbek i ścieków - dwa opakowania po 12 szt.

Kontrola przepływu gazów:
- przepływ gazu do plazmy: sterowany z oprogramowania
- przepływ gazu pomocniczego: sterowany z oprogramowania
- przepływ gazu do nebulizera z mass flow kontrolerem: sterowany z oprogramowania

Oprogramowanie:
- łatwy w obsłudze i przyjazny dla użytkownika pakiet oprogramowania w języku polskim lub angielskim
- możliwość wykorzystania pomocnego asystenta tworzenia (Wizards) krok po kroku metod analitycznych i sekwencji oraz korzystania z powszechnie używanych metod przykładowych.
- kontrola przepływu gazów, pozycji obserwacji plazmy, zapalania gaszenia plazmy, mocy generatora RF, systemu zabezpieczeń oraz monitoringu parametrów pracy
- możliwość wyboru szeregu technik korekcji tła
- szybka automatyczna technika dopasowania krzywych kalibracyjnych w celu dekonwolucji analizowanych widm w czasie rzeczywistym
- automatyczna optymalizacja parametrów pracy aparatu
- technologia zaworu 4-ro drożnego przed nebulizerem umożliwiająca znaczne skrócenie czasu płukania pomiędzy kolejnymi analizami zwiększając przez to wydajność aparatu
- asystent umożliwiający rozszerzenie dynamicznego zakresu liniowego oraz automatycznej walidacji wyników
- możliwość wykorzystania modułu TRS (Time Resolved Signal) w celu podłączenia aparatu np. z HPLC i analizy wyników w czasie rzeczywistym
- możliwość ustawiania liczby powtórzeń w zależności od typu analizowanej próbki (standard kalibracyjny, roztwór kontroli jakości - QC control, analit)
- rutynowe metody kalibracji wielo-pierwiastkowej standardem zewnętrznym i metody dodatku wzorca
- modyfikowalne przez użytkownika protokoły kontroli jakości wyników (QCP protocol) w celu spełnienia wymagań zdefiniowanych przez użytkownika
- w pełni edytowalna lista nazw próbek z dodatkowymi polami opisu
- możliwość definiowania współczynnika korekcji objętościowego/wagowego rozcieńczenia w zależności od stężenia dla próbek i standardów QC
- bazo-danowy system (oparty na MS SQL Server) zapisywania metod i wyników w celu bezpiecznego, szybkiego i łatwego dostępu do danych
- wyświetlanie graficzne sygnału spektrum, wyniku i krzywej kalibracyjnej w czasie rzeczywistym
- możliwość wykonania analiz retrospektywnych uzyskanych wyników
- szeroki zakres możliwości raportowania i eksportu wyników z edytowalnymi ustawieniami przez użytkownika
- graficzna wizualizacja statusu systemu oraz zestaw narzędzi do diagnostyki instrumentu
- wszechstronny system pomocy zawierający wiele filmów wyjaśniających sposoby postępowania i rozwiązywania problemów
- możliwość zainstalowania dodatkowego softwareu w celu spełnienia wymagań nakładanych przez amerykańską agencję FDA - 21 CFR Part 11

Wyposażenie dodatkowe:
- Zamknięty układ chłodzenia odpowiedni do oferowanego spektrometru
- Wentylator wyciągowy o mocy odpowiedniej do oferowanego spektrometru, zasilanie 230V na 50Hz
- Okap wyciągowy odpowiedni do oferowanego spektrometru
- Minimum 12 miesięczna gwarancja (serwis w Polsce)

- Komputer klasy PC o parametrach nie gorszych niż:

ZESTAW KOMPUTEROWY - nowy

procesor: Intel Pentium Core 2 Duo 2x2.2GHz FSB 800MHz
pamięć Cash L2: min. 2048 KB
pamięć operacyjna: min. 2GB
napęd optyczny: DVD-RW+ na - DL
dysk twardy: min 200GB SATA II
karta grafiki: zintegrowana z płytą główną
karta sieciowa: zintegrowana z płytą główną 10 na 100 na 1000
karta dźwiękowa: zintegrowana z płytą główną
obudowa: Midi Tower
klawiatura: PS na 2
myszka: optyczna
system operacyjny: MS Windows XP Prof. SP2
możliwość zainstalowania: MS Office 2007 BASIC PL OEM

MONITOR LCD - nowy

Przekątna ekranu: 19
Format obrazu: 4 na 3
Rozdzielczość: 1280 razy 1024 pikseli
Jasność: min. 300cd na m2
Kontrast: min. 700 do 1
Czas reakcji: max. 5 ms
Inne właściwości: matowy ekran

DRUKARKA - nowa

Typ: laserowa kolor
Max. Rozmiar papieru A4
Rozdzielczość: mono 600 razy 600 dpi
kolor 600 razy 600 dpi
Zainstalowana pamięć: min. 96 MB
Prędkość wydruku: mono min. 12 str. na min.
kolor min. 8 str. na min.
Złącza zewnętrzne: USB 2.0, Ethernet 10 na 100Mbps

- Zasilanie 230V, 50 Hz
- Minimum 12 miesięczna gwarancja (serwis w Polsce)
- Certyfikaty CE

II. Mineralizator mikrofalowy

Parametry minimalne:
- Moc magnetronu minimum 1600W
- Bezpośrednia kontrola temperatury oraz ciśnienia w naczyniu referencyjnym
- Naczynia zabezpieczone membranami bezpieczeństwa
- Rotor segmentowy minimum 14 pozycyjny na naczynia ciśnieniowe 100 ml
- Możliwość mineralizacji jednoczesnej we wszystkich 14 pozycjach rotora
- Maksymalna temperatura mineralizacji co najmniej 260 C
- Maksymalne ciśnienie mineralizacji co najmniej 500 psi
- Dwa kompletne zestawy teflonowych naczyń ciśnieniowych do mineralizacji tj.
co najmniej 2 razy 13 sztuk kompletnych naczyń standardowych oraz dwa kompletne naczynia referencyjne (kontrolne)
- System wyciągowy zintegrowany w piecu do mineralizacji
- Zasilanie 230V, 50 Hz
- Minimum 12 miesięczna gwarancja (serwis w Polsce)
- Certyfikaty CE

Kody CPV:
384330009 (Spektrometry)

Kod CPV drugiej częsci zamówienia:
302130005 (Komputery osobiste)

Kod CPV trzeciej częsci zamówienia:
302313000 (Monitory ekranowe)

Kod CPV czwartej częsci zamówienia:
302321108 (Drukarki laserowe)

Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie

Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie

Czas: D

Data zakończenia: 31/12/2008

Informacja na temat wadium: Zamawiający nie wymaga wniesienia wadium.

opis_war:
1. Warunki udziału w postępowaniu
O udzielenie zamówienie mogą ubiegać się oferenci, którzy spełnią następujące warunki:
1) posiadają uprawnienia do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli ustawy nakładają obowiązek poosiadania takich uprawnień;
2) posiadają niezbędna wiedzę i doświadczenie oraz potencjał techniczny, a także dysponują osobami zdolnymi do wykonania zamówienia;
3) znajdują się w sytuacji ekonomicznej i finansowej zapewniającej wykonanie zamówienia;
4) nie podlegają wykluczeniu z postępowania o udzielenie zamówienia.

2. Ocena spełnienia warunków w postępowaniu o zamówienie publiczne
Z ubiegania się o udzielenie zamówienia publicznego wyklucza się:
1) wykonawców, którzy nie spełniają warunków udziału w postępowaniu o zamówienie publiczne, o których mowa w art. 24 ust. 1 Prawa zamówień publicznych;
2) wykonawców, którzy wykonywali czynności związane z przygotowaniem prowadzonego postępowania, lub posługiwali się w celu sporządzenia oferty osobami uczestniczącymi w dokonywaniu tych czynności, z wyjątkiem autorów miejscowych planów zagospodarowania przestrzennego, jeżeli przedmiotem postępowania o udzielenie zamówienia są prace projektowe wynikające z miejscowych planów zagospodarowania przestrzennego, sporządzonych przez tych autorów;
3) wykonawców, którzy złożyli nieprawdziwe informacje mające wpływ na wynik prowadzonego postępowania;
4) wykonawców, którzy nie złożyli oświadczenia o spełnianiu warunków udziału w postępowaniu lub dokumentów potwierdzających spełnianie tych warunków;
5) wykonawców, którzy nie wnieśli wadium, w tym również na przedłużony okres związania ofertą, lub nie zgodzili się na przedłużenie okresu związania ofertą.
Ocena spełnienia warunków odbywać się będzie na zasadzie: spełnia/nie spełnia.
Zamawiający odrzuca ofertę, która:
1) jest niezgodna z ustawą;
2) jej treść nie odpowiada treści specyfikacji istotnych warunków zamówienia;
3) jej złożenie stanowi czyn nieuczciwej konkurencji w rozumieniu przepisów o zwalczaniu nieuczciwe konkurencji;
4) zawiera rażąco niską cenę w stosunku do przedmiotu zamówienia;
5) została złożona przez wykonawcę wykluczonego z udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia lub niezaproszonego do składania ofert;
6) zawiera omyłki rachunkowe w obliczeniu ceny, których nie można poprawić na podstawie art. 88, lub błędy w obliczeniu ceny;
7) w terminie 7 dni od dnia otrzymania zawiadomienia wykonawca nie zgodził się na poprawienie omyłki rachunkowej w obliczeniu ceny;
8) jest nieważna na podstawie odrębnych przepisów.

inf_osw:
W celu potwierdzenia, że wykonawca posiada uprawnienie do wykonywania określonej działalności lub czynności oraz nie podlega wykluczeniu na podstawie art. 24 ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. - Prawo zamówień publicznych, wykonawca składa następujące dokumenty:

Dokumenty wymagane:
1) formularz ofertowy z wykorzystaniem wzoru - załącznik nr 1
2) formularz cenowy z wykorzystaniem wzoru - załącznik nr 2
3) aktualny odpis z właściwego rejestru albo aktualne zaświadczenie o wpisie do ewidencji działalności gospodarczej, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru lub zgłoszenia do ewidencji działalności gospodarczej, wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert
4) koncesja, zezwolenie lub licencja, jeżeli ustawy nakładają obowiązek posiadania koncesji, zezwolenia lub licencji na podjęcie działalności gospodarczej w zakresie objętym niniejszym zamówieniem
5) aktualna informacja z Krajowego Rejestru Karnego albo równoważne zaświadczenie właściwego organu sądowego lub administracyjnego kraju pochodzenia osoby w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt 4-8 ustawy, wystawiona nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert
6) aktualna informacja z Krajowego Rejestru Karnego w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt 9, wystawiona nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert
7) aktualne zaświadczenie właściwego naczelnika urzędu skarbowego oraz właściwego oddziału Zakładu Ubezpieczeń Społecznych lub Kasy Rolniczego Ubezpieczenia Społecznego potwierdzające odpowiednio, że wykonawca nie zalega z opłacaniem podatków, opłat oraz składek na ubezpieczenie zdrowotne lub społeczne, lub zaświadczenia, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania ofert
8) oświadczenie do postępowania o zamówienie publiczne z art. 22 ust.1 ustawy Prawo zamówień publicznych z wykorzystaniem wzoru - załącznik Nr 3 do SIWZ
9) Wykonawca zamieszkały poza terytorium Rzeczypospolitej Polskiej
Jeżeli wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania poza terytorium Rzeczypospolitej Polskiej, zamiast dokumentów, o których mowa wyżej składa dokument lub dokumenty, wystawione zgodnie z prawem kraju, w którym ma siedzibę lub miejsce zamieszkania, potwierdzające odpowiednio, że:
a) nie otwarto jego likwidacji ani nie ogłoszono upadłości;
b) nie zalega z uiszczaniem podatków, opłat lub składek na ubezpieczenie społeczne lub zdrowotne albo, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu.
c) nie orzeczono wobec niego zakazu ubiegania się o zamówienie;
Dokumenty, o których mowa w pkt 9) lit. a i c powinny być wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert. Dokument, o którym mowa w pkt 9) lit. b, powinien być wystawiony nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert.
Jeżeli w kraju pochodzenia osoby lub w kraju, w którym wykonawca ma siedzibę lub miejsce
zamieszkania, nie wydaje sie powyższych dokumentów oraz informacji z Krajowego Rejestru Karnego w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt 4-8, zastępuje się je dokumentem zawierającym oświadczenie złożone przed notariuszem, właściwym organem sądowym, administracyjnym albo organem samorządu zawodowego lub gospodarczego odpowiednio kraju pochodzenia osoby lub kraju, w którym wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania - do terminów wystawienia w/w dokumentów stosuje się zapis pkt. 9).

Wyżej wymienione dokumenty mogą być złożone w formie oryginałów lub kserokopii potwierdzonych za zgodność przez osobę/osoby uprawnioną do podpisania oferty z dopiskiem-za zgodność z oryginałem. Ocena spełnienia warunków odbywać się będzie na zasadzie: spełnia nie spełnia.

Kod trybu postepowania: PN

Kod kryterium cenowe: B

Znaczenie kryterium 1: 90

Nazwa kryterium 2: Termin dostawy

Znaczenie kryterium 2: 10

Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie

Adres strony internetowej specyfikacji i warunków zamówienia: www.ins.pulawy.pl

Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
INSTYTUT NAWOZÓW SZTUCZNYCH
Al. Tysiąclecia Państwa Polskiego 13A, 24 - 110 Puławy
Kancelaria, pokój nr 156, bud. E-40, poniedziałek - piątek w godz. 7:00 - 15:00

Opis potrzeb dla DK: Nie dotyczy

Informacja o wysokości nagród dla DK: Nie dotyczy

Data składania wniosków, ofert: 24/10/2008

Godzina składania wniosków, ofert: 12:00

Miejsce składania:
INSTYTUT NAWOZÓW SZTUCZNYCH
Al. Tysiąclecia Państwa Polskiego 13A, 24 - 110 Puławy
Kancelaria, pokój nr 156, bud. E-40, poniedziałek - piątek w godz. 7:00 - 15:00

On: on

Termin związania ofertą, liczba dni: 30

Informacje dodatkowe: Nie dotyczy

Podobne przetargi