184276 / 2012-06-01 - Uczelnia publiczna / Politechnika Warszawska, Wydział Chemiczny (Warszawa)
Dostawa stanowiska do badań oddziaływań molekularnych
Opis zamówienia
Przedmiotem zamówienia jest: 1) fabrycznie nowe, kompletne stanowisko do badania oddziaływań molekularnych na które składa się: a) mikroskop sił atomowych (AFM) zintegrowany z odwróconym mikroskopem optycznym wyposażonym w kostki z filtrami do pomiaru fluorescencji i kolorową kamerę cyfrową z oprogramowaniem pozwalającym na rejestrację obrazu, b) elektroniczny system kontroli z oprogramowaniem do akwizycji, analizy i przetwarzania zebranych danych pomiarowych, stacją roboczą i dodatkowymi akcesoriami, 2) pełna dokumentacja techniczno - eksploatacyjna (dokumentacja techniczna i instrukcja obsługi), 3) wyładowanie i wniesienie dostarczonej aparatury do pomieszczenia wskazanego w SIWZ jako miejsce realizacji zamówienia, 4) montaż, instalacja, uruchomienie, testowanie aparatury oraz instruktaż co najmniej dwóch użytkowników w zakresie obsługi i konserwacji aparatury, 5) usługi autoryzowanego przez producenta mikroskopu sił atomowych serwisu technicznego w okresie gwarancji i okresie pogwarancyjnym zgodnie z wymaganiami opisanymi w SIWZ.
Numer biuletynu: 1
Pozycja w biuletynie: 184276
Data publikacji: 2012-06-01
Nazwa: Politechnika Warszawska, Wydział Chemiczny
Ulica: ul. Noakowskiego 3
Numer domu: 3
Miejscowość: Warszawa
Kod pocztowy: 00-664
Województwo / kraj: mazowieckie
Numer telefonu: 022 6282741, 2347507
Numer faxu: 022 6282741
Adres strony internetowej: www.pw.edu.pl
Regon: 00000155400000
Typ ogłoszenia: ZP-400
Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak
Ogłoszenie dotyczy: 1
Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna
Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dostawa stanowiska do badań oddziaływań molekularnych
Rodzaj zamówienia: D
Przedmiot zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest: 1) fabrycznie nowe, kompletne stanowisko do badania oddziaływań molekularnych na które składa się: a) mikroskop sił atomowych (AFM) zintegrowany z odwróconym mikroskopem optycznym wyposażonym w kostki z filtrami do pomiaru fluorescencji i kolorową kamerę cyfrową z oprogramowaniem pozwalającym na rejestrację obrazu, b) elektroniczny system kontroli z oprogramowaniem do akwizycji, analizy i przetwarzania zebranych danych pomiarowych, stacją roboczą i dodatkowymi akcesoriami, 2) pełna dokumentacja techniczno - eksploatacyjna (dokumentacja techniczna i instrukcja obsługi), 3) wyładowanie i wniesienie dostarczonej aparatury do pomieszczenia wskazanego w SIWZ jako miejsce realizacji zamówienia, 4) montaż, instalacja, uruchomienie, testowanie aparatury oraz instruktaż co najmniej dwóch użytkowników w zakresie obsługi i konserwacji aparatury, 5) usługi autoryzowanego przez producenta mikroskopu sił atomowych serwisu technicznego w okresie gwarancji i okresie pogwarancyjnym zgodnie z wymaganiami opisanymi w SIWZ.
Kody CPV:
385142003 (Mikroskopy z sondą skanującą)
Kod CPV drugiej częsci zamówienia:
385152000 (Mikroskopy fluorescencyjne)
Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie
Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie
Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie
Czas: O
Okres w miesiącach: 3
Informacja na temat wadium: wadium nie jest wymagane
Zaliczka: Nie
Wiedza i doświadczenie:
Zamawiający oceni spełnianie tego warunku na podstawie złożonych dokumentów i oświadczeń wg reguły spełnia/nie spełnia. Zamawiający uzna, że Wykonawca posiada niezbędną wiedzę i doświadczenie jeżeli wykaże, że w ciągu trzech lat przed upływem terminu składania ofert, a jeżeli okres działalności jest krótszy niż trzy lata - w tym okresie, zrealizował co najmniej trzy dostawy mikroskopów sił atomowych (AFM) o parametrach technicznych porównywalnych z parametrami technicznymi mikroskopu AFM wchodzącego w skład przedmiotu zamówienia i o wartości porównywalnej z wartością tego mikroskopu oraz potwierdzi spełnianie tego warunku złożeniem dokumentów, o których mowa w pkt. III.4.1 niniejszego ogłoszenia
Oświadczenie nr 3: Tak
Oświadczenie wykluczenia nr 1: Tak
Oświadczenie wykluczenia nr 2: Tak
Oświadczenie wykluczenia nr 7: Tak
Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak
Dokument potwierdzenia III.5: Tak
Inne dokumenty potwierdzające III.5:
1) Specyfikacja techniczna oferowanej aparatury i wszystkich jej elementów przedstawiona w sposób jednoznaczny tak by możliwe było stwierdzenie: czy oferowana aparatura spełnia wszystkie wymagania minimalne Zamawiającego oraz by możliwe było dokonanie oceny oferty w ramach kryterium parametry techniczne. W specyfikacji technicznej należy bezwzględnie podać dane identyfikujące wszystkie elementy oferowanej aparatury (mikroskopy, kamera, stół antywibracyjny, oprogramowanie) - nazwy producentów, typy/modele/wersje, nr-y katalogowe. 2) Prospekty producentów elementów oferowanej aparatury (w języku polskim lub angielskim lub z tłumaczeniem na język polski jeżeli sporządzone są w innym języku niż polski lub angielski). 3) Opis warunków gwarancji i serwisu przedstawiony w sposób jednoznaczny tak by możliwe było stwierdzenie czy oferowane warunki gwarancji i serwisu spełniają wymagania Zamawiającego. W opisie należy umieścić informację na temat serwisu technicznego - adres, numery telefonu i faksu, pod które należy zgłaszać awarie, adres poczty elektronicznej. 4) Świadectwo autoryzacji serwisu technicznego wystawione przez producenta mikroskopu AFM wchodzącego w skład oferowanej aparatury.
inne_dokumenty:
1) Pełnomocnictwo do podpisania oferty, o ile nie wynika ono z innych dokumentów złożonych wraz z ofertą. 2) Pisemne zobowiązanie podmiotów do oddania Wykonawcy do dyspozycji niezbędnych zasobów na okres korzystania z nich przy wykonywaniu zamówienia, jeżeli Wykonawca zamierza korzystać z zasobów tych podmiotów na zasadach określonych w art. 26 ust. 2b Pzp.
III.7 osoby niepełnosprawne: Nie
Kod trybu postepowania: PN
Czy zmiana umowy: Tak
Zmiana umowy:
Istotne zmiany umowy w stosunku do treści oferty, mogą zostać wprowadzone w szczególnie uzasadnionych okolicznościach i dotyczyć mogą: 1) wartości podatku VAT w sytuacji gdy nastąpi urzędowa zmiana stawki podatku VAT; 2) terminu realizacji umowy w sytuacji gdy ze względów organizacyjnych lub losowych Zamawiający zmuszony będzie do przesunięcia terminu dostawy, montażu, instalacji, testowania lub instruktażu.
Kod kryterium cenowe: B
Znaczenie kryterium 1: 80
Nazwa kryterium 2: Parametry techniczne
Znaczenie kryterium 2: 20
Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie
Adres strony internetowej specyfikacji i warunków zamówienia: www.zamowienia.pw.edu.pl/wykaz
Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
Politechnika Warszawska Wydział Chemiczny, 00-664 Warszawa, ul. Noakowskiego 3, p. 51, faks: 22 234-71-01, e-mail: oknoa@ch.pw.edu.pl
Data składania wniosków, ofert: 15/06/2012
Godzina składania wniosków, ofert: 09:30
Miejsce składania:
Politechnika Warszawska Wydział Chemiczny, 00-664 Warszawa, ul. Noakowskiego 3, p. 162 (Biuro Dziekana)
On: O
Termin związania ofertą, liczba dni: 30
Czy unieważnienie postępowania: Nie
Podobne przetargi
396546 / 2013-10-01 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385142003 (Mikroskopy z sondą skanującą)
OprzyrzÄ…dowanie do mikroskopu MultiMode 8
454094 / 2012-11-16 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385142003 (Mikroskopy z sondą skanującą)
Dostawa modułu do mikroskopu MultiMode AFM NanoScope V, pozwalającego na
ilościową charakterystykę właściwości mechanicznych badanego materiału wraz z
niezbędnym oprogramowaniem, komputerem sterującym, elektroniką
247036 / 2012-07-11 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska, Wydział Chemiczny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385142003 (Mikroskopy z sondą skanującą)
Dostawa stanowiska do badań oddziaływań molekularnych
26342 / 2012-01-27 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385142003 (Mikroskopy z sondą skanującą)
Kontroler NanoScope V wraz z oprogramowaniem ScanAsyst-HR
382364 / 2012-10-04 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385142003 (Mikroskopy z sondą skanującą)
Dostawa modułu do mikroskopu MultiMode AFM NanoScope V, pozwalającego na ilościową charakterystykę właściwości mechanicznych badanego materiału wraz z niezbędnym oprogramowaniem, komputerem sterującym, elektroniką
183220 / 2009-06-08 - Inny: jednostka badawczo-rozwojowa
Instytut Technologii Elektronowej - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385142003 (Mikroskopy z sondą skanującą)
Dostawa mikroskopu ze skanujÄ…cÄ… sondÄ… SPM
421466 / 2013-10-16 - Podmiot prawa publicznego
Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385142003 (Mikroskopy z sondą skanującą)
OprzyrzÄ…dowanie do mikroskopu MultiMode 8