41805 / 2014-02-28 - Uczelnia publiczna / Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki Dział Zamówień Publicznych (Kraków)

Zgodny z tonerem 42127405 Żółty marki FullPrint

Cena: 129.15 PLN

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 41805

Data publikacji: 2014-02-28

Nazwa:
Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki Dział Zamówień Publicznych

Ulica: ul. Warszawska 24

Numer domu: 24

Miejscowość: Kraków

Kod pocztowy: 31-155

Województwo / kraj: małopolskie

Numer telefonu: 12 628 26 56; 628 22 20

Numer faxu: 12 6282072

Adres strony internetowej: www.pk.edu.pl

Regon: 00000156003300

Typ ogłoszenia: ZP-408

Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dostawa Spektrometru FT-IR z wyposażeniem do analiz procesu fotosieciowania polimerów

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Spektrometr FT-IR z wyposażeniem do analiz procesu sieciowania polimerów- wymagane parametry techniczne:
1. Zakres spektralny, co najmniej 7 800 - 375 cm-1
2. Maksymalna rozdzielczość optyczna lepsza niż 0.4 cm-1
3. Rozdzielczość nominalna ustawiana w zakresie 0.5-32 cm-1
4. Szczelny i osuszany układ optyczny z okienkami KBr pokrywanymi BaF2 oddzielającymi optykę od przedziału próbek
5. Podłączenia do opcjonalnego przedmuchu spektrometru i przedziału próbek osuszonym gazem
6. Szumy mniejsze niż 1.3x10-5 Abs (peak-to-peak, pomiar 1 minuta przy rozdzielczości 4cm-1, detektor DLaTGS)
7. Interferometr justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł interferometru
8. Układ optyczny wykorzystujący monolityczne lustra wzorcowe
9. Ogniskowanie wiązki centralnie w komorze pomiarowej aparatu
10. Justowanie interferometru na maksimum energii z poziomu oprogramowania
11. Ceramiczne trwałe źródło promieniowania IR z możliwością pracy w trybach: normalnym i ekonomicznym - poza czasem pomiaru
12. Źródła promieniowania typu plug-and-play w oprawkach zachowujących wyjustowane położenie, łatwo wymienne przez użytkownika bez otwierania obudowy spektrometru
13. Beamsplitter KBr/Ge na zakres co najmniej 7800 - 350 cm-1
14. Detektor DLaTGS na zakres co najmniej 7800 - 350 cm-1
15. Maksymalna szybkość skanowania nie gorsza niż 40 skanów/s przy rozdzielczości 16 cm-1
16. Precyzja długości fali: 0.01 cm-1
17. Komunikacja spektrometru z komputerem przez szybkie złącze USB 2.0
18. Panel sterowania na aparacie z przyciskami do szybkiego uruchomienia najczęściej wykonywanych (co najmniej 5 przycisków w tym jeden programowalny przez użytkownika)
19. Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu eliminujący wprowadzanie wysokiego napięcia (prądu zmiennego 230V) do aparatu i zapewniający podwyższoną stabilność termiczną systemu
20. Automatyczne rozpoznawanie przez system akcesoriów pomiarowych takich jak moduł do pomiarów transmisyjnych, przystawki ATR, przystawki rozproszeniowe i inne
21. Wkłady osuszające w metalowej obudowie z możliwością regeneracji w suszarce. Wymiana wkładów osuszających bez zdejmowania obudowy aparatu. Wskaźnik poziomu wilgotności na wierzchu aparatu
22. Wbudowana na stałe w aparat automatyczna przystawka do testowania spektrometru z kołem z wzorcami, sterowana z poziomu oprogramowania, zawierająca co najmniej następujące wzorce:
- folia polistyrenowa o grubości ok. 38µm (1.5mil)
- filtr szklany typu NG11
23. Przystawka pomiarowa do pomiarów transmisyjnych, wyposażona w co najmniej 3 szyny prowadzące do mocowania standardowych akcesoriów transmisyjnych. Przystawka powtarzalnie mocowana w przedziale pomiarowym i integrująca się z obudową spektrometru - po założeniu uszczelniająca drogę optyczną i jednocześnie włączona w system przedmuchu
24. Możliwość rozbudowy o drugi pełnowymiarowy przedział pomiarowy, możliwość sprzężenia z analizatorem termograwimetrycznym, możliwość rozbudowy o mikroskop IR
25. Sterowanie przez zewnętrzny komputer PC pracujący w systemie Windows. 32/64-bitowe oprogramowanie dostarczane przez producenta spektrometru kompatybilne z Windows XP Pro, Vista, 7. Musi być w pełni kompatybilne z systemami operacyjnymi w języku polskim. Pełny program obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i angielskim. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu do Windows i przez wybór opcji regionalnych w panelu sterowania Windows. Musi zapewniać:
- możliwość tworzenia i przeszukiwania bibliotek widm,
- logowanie użytkowników z różnymi poziomami dostępu,
- funkcję automatycznego doboru wzmocnienia sygnału,
- podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office)
- moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji
- moduł spektralnej interpretacji widm
- automatyczną korekcję zawartości CO2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych
- wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w czasie pomiaru)
- automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu
- aktywną diagnostykę w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu
- wydruki widm według dowolnie zdefiniowanych szablonów raportów: wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów
- archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu
- funkcje przetwarzania i prezentacji widm: wyświetlanie wielu widm jednocześnie, nakładanie widm, powiększanie dowolnego fragmentu widma, zmianę formatu z absorbancji na % transmitancji oraz na odwrót, przekształcanie do innych formatów np. Kubelka-Munk, korekcję linii podstawowej, wygładzanie widma, odejmowanie widm, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych
- funkcje analizy widm: znajdowanie i zaznaczanie pików, wyznaczanie absorbancji bezwzględnej oraz absorbancji netto, wyznaczanie pola powierzchni piku - bezwzględnego oraz netto, kursor spektralny
- oprogramowanie do pomiarów kinetycznych z wyświetlaniem rekonstrukcji Gram-Schmidta w czasie rzeczywistym i modułem do wykresów trójwymiarowych
- moduł oprogramowania do analiz do analiz chemometrycznych obejmujący algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej - co najmniej następujące:
do analiz ilościowych
Prawo Lamberta-Beera
CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów)
do analiz klasyfikacyjnych
Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm)
Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa)
QC compare (analiza korelacyjna widm uśrednionych
26. Wyposażenie do monitorowania procesów sieciowania polimerów promieniowaniem UV obejmujące przystawkę horyzontalną do pomiarów transmisyjnych, umożliwiającą umieszczenie próbek w poziomie oraz zapewniającą łatwy dostęp źródła promieniowania UV do próbki. W zestawie źródło promieniowania wyposażone w lampę rtęciowo-ksenonową na zakres co najmniej 300 - 450 nm, zapewniającą natężenie promieniowania nie mniejsze niż 4,5 W/cm2 przy długości 365 nm oraz światłowód kwarcowy. Lampa wyposażona w panel sterowania z wyświetlaczem ciekłokrystalicznym umożliwiającym programowanie i zapisywanie w pamięci warunków naświetlania, tj. natężenia promieniowania, czasu oraz sposobu narostu promieniowania, jak również kontrolę i wyświetlanie rzeczywistego natężenia promieniowania padającego na próbkę. W zestawie jednorazowe karty z okienkami z KBr o średnicy 9.5 mm - co najmniej 25 szt. oraz uchwyt na okienka o wymiarach 25x4 mm
27. Zestaw komputerowy nie gorszy niż: Procesor Intel i5, 3 GB RAM, HDD 500GB SATA, monitor 19cali LCD, DVD-RW, mysz optyczna, klawiatura, Windows 7 (PL), 4 x USB 2.0, drukarka kolorowa laserowa

28. Pozostałe warunki:
- dostawa, instalacja i przeszkolenie Użytkowników
- gwarancja min. 12 miesięcy, gwarancja na laser i interferometer co najmniej 5 lat
- zapewnienie części zamiennych - co najmniej 8 lat

szacunkowa_wart_zam: Tak

Kod trybu postepowania: WR

zamowienie_pprawna_hid: c;

zamowienie_pprawna: art. 67 ust. 1 pkt 1 lit. a

zamowienie_uzasadnienie:
Dostawy moga być świadczone tylko przez jednego Wykonawcę.

W związku z realizacją projektu SONATA NCN UMO-2012/07/D/ST5/02300 (Synteza bimolekularnych fotoinicjatorów kationowych i badania mechanistycznych aspektów fotogenerowania mocnych kwasów protonowych w procesach synergistycznego oddziaływania soli oniowych oraz sensybilizatorów lub koinicjatorów), istnieje możliwość zrealizowania zakupu Spektrometru FT-IR z wyposażeniem do analiz procesu fotosieciowania polimerów w skład których wchodzić będą spektrometr FT-IR, lampa średniociśnieniowa (to jest źródło promieniowania wyposażone w lampę rtęciowo-ksenonową na zakres co najmniej 300 - 450 nm, zapewniającą natężenie promieniowania nie mniejsze niż 4,5 W/cm2 przy długości 365 nm oraz światłowód kwarcowy), przystawka horyzontalna do pomiarów transmisyjnych, umożliwiająca umieszczenie próbek w poziomie oraz zapewniająca łatwy dostęp źródła promieniowania UV do próbki oraz jednorazowe karty z okienkami z KBr o średnicy 9.5 mm - co najmniej 25 szt. oraz uchwyt na okienka o wymiarach 25x4 mm.
Jedynym dostawcą tego typu konfiguracji wymienionych komponentów stanowiących integralną część stanowiska do pomiarów sieciowania kompozycji polimerowych przy wykorzystaniu spektrometru FT-IR jest SpectroLAB ul.Warszawska 100/102, 05-092 Łomianki.

Nazwa wykonawcy: Spectro-LAB

Adres pocztowy wykonawcy: ul.Warszawska 100/102

Miejscowość: Łomianki

Kod pocztowy: 05-092

ID województwa: 6

Województwo / kraj: mazowieckie

Kody CPV:
384330009 (Spektrometry)

Podobne przetargi