222259 / 2011-08-18 - Uczelnia publiczna / Wojskowa Akademia Techniczna (Warszawa)

Zgodny z tuszem T080440 Żółty marki FullPrint

Cena: 18.45 PLN

DOSTAWA MIKROSKOPOWEGO SYSTEMU DO POMIARU PARAMETRÓW (GRUBOŚĆ, TRANSMISJA, ABSORBANCJA) WARSTW OPTYCZNYCH Z INSTALACJĄ I SZKOLENIEM

Opis zamówienia

1.1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopowego systemu do pomiaru parametrów (grubość, transmisja, absorbancja) warstw optycznych z instalacją i szkoleniem.

1. Stabilny statyw w konfiguracji mikroskopu odwróconego
2. 4 porty optyczne: 1 do nasadki okularowej oraz 3 porty do podłączenia innych urządzeń
3. Możliwość dobudowy dwóch dodatkowych portów
4. Zmieniacz powiększeń 1,5X
5. Zakres ruchu w osi Z: 8 mm
6. Możliwości montażu okularów o powiększeniach: 10x, 12,5x i 15x
7. Śruby ustawiania ostrości widzenia MIKRO/MAKRO z regulacją oporu ruchu
8. Układu fluorescencji 12-sto gniazdowej montowany w mikroskopie w sposób kaskadowy jedna nad drugą po 6 gniazd w piętrze, z dwoma niezależnymi wejściami do każdego z gniazd
9. Możliwość montażu nasadek bino i trinookularowych
10. Możliwość motoryzacji układu ostrości Z i stołu X-Y
11. Miska obiektywowa 6-cio gniazdowa
12. Stolik mechaniczny X-Y o zakresie ruchu 126x84mm
13. Możliwość obserwacji w technikach Jasne, Ciemne Pole, Fluorescencja,
14. Układ oświetlenia do światła przechodzącego i odbitego z lampą halogenową o mocy 100W
15. Gniazda do montażu filtrów konwersyjnych światła
16. Zestaw obiektywów o parametrach nie gorszych niż:
a) CFI LU Plan FLUOR Epi 10X, (NA/WD : 0.30/17.50mm)
b) CF LU Plan FLUOR Epi 50X, (NA/WD : 0.80/1.00mm)
c) CF LU Plan FLUOR Epi 100X, (NA/WD : 0.90/1.00mm)
17. Kamera kolorowa o parametrach nie gorszych
a. Głowice z matrycą CCD o rozdzielczości nie mniejszej niż 5,07 mln efektywnych pikseli
b. Czas ekspozycji 1/1000 - 60 sekund
c. Kontrola ekspozycji: Automatyczna; Ręczna;
d. Pomiar ekspozycji z całego pola, oraz punktowy
e. Rozdzielczość zapisu: 2560x1920; 1280x960; 640x480 pikseli
f. Format zapisu: BMP, TIFF, JPEG, JPEG2000
g. Przesył obrazu do komputera na żywo z szybkością określoną dla każdej rozdzielczości i nie mniejsza niż
i. 2560 x 1920 - 4.4 klatek/sekundę
ii. 1280 x 960 - 12 Klatek/sekundę
iii. 640 x 480 - 12 Klatek/sekundę
h. Przesyłania obrazu do komputera za pomocą złącza FireWire typ B
i. Pojedynczy sterownik z możliwością obsługi dwóch głowic z możliwością ich przełączania w oprogramowaniu do analizy obrazu
18. Stół optyczny specjalizowany
19. Oprogramowanie do analizy obrazu:
a. Pełne sterowanie kamerą - rozdzielczości, balans bieli, wzmocnienia, sposób pomiaru ekspozycji
b. W menu sterowania kamera wbudowany zestaw gotowych ustawień kontrastu w tym dla światła odbitego w tym - Jasne pole, Ciemne pole, DIC, metalografia
c. archiwizacja i wizualizacja wyników w postaci tabel i wykresów,
d. pojedyncze (stop-klatka) i sekwencyjne pobieranie obrazu (klatki obrazu w ustalonych odstępach czasowych),
e. możliwość składania obrazów wielkoformatowych próbek nie mieszczących się w polu widzenia danego obiektywu przy zachowaniu wszystkich parametrów optycznych, oraz w obrazie wielkoformatowym automatyczne obliczanie i kompensowanie w przypadku niezbyt dokładnego ustawienia następnego
f. pomiary ręczne na obrazie żywym (nie zamrożonym),
g. manualne pomiary: np. pola powierzchni, długości, średnic (średniej, Fereta), obwodu, kąta,
h. łatwa kalibracja obrazu w jednostkach metrycznych w sposób ręczny i całkowicie automatyczny z wykorzystaniem stolika zmotoryzowanego
i. wbudowana baza danych obiektywów producenta mikroskopu i zestaw sterowników do jego zdalnej kontroli
j. automatyczna kontrola balansu bieli w całym polu
k. statystyka przeprowadzonych pomiarów (średnia, odchylenie standardowe, minimum, maksimum i odpowiednie wykresy z ich dalszą edycją; liczba wielkości ze wspomnianą wyżej statystyką, gęstość i udział procentowy obiektów w polu lub wybranych polach),
l. generowanie dowolnych raportów z pomiarów wraz z obrazem w wewnętrznym edytorze,
m. praca w środowisku Windows XP i Vista, oraz Windows 7 w wersjach 32 i 64 bit

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 222259

Data publikacji: 2011-08-18

Nazwa: Wojskowa Akademia Techniczna

Ulica: ul. Kaliskiego 2

Numer domu: 2

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 00-908

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 022 6837865

Numer faxu: 022 6837977

Adres strony internetowej: www.wat.edu.pl

Regon: 01212290000000

Typ ogłoszenia: ZP-400

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
DOSTAWA MIKROSKOPOWEGO SYSTEMU DO POMIARU PARAMETRÓW (GRUBOŚĆ, TRANSMISJA, ABSORBANCJA) WARSTW OPTYCZNYCH Z INSTALACJĄ I SZKOLENIEM

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
1.1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopowego systemu do pomiaru parametrów (grubość, transmisja, absorbancja) warstw optycznych z instalacją i szkoleniem.

1. Stabilny statyw w konfiguracji mikroskopu odwróconego
2. 4 porty optyczne: 1 do nasadki okularowej oraz 3 porty do podłączenia innych urządzeń
3. Możliwość dobudowy dwóch dodatkowych portów
4. Zmieniacz powiększeń 1,5X
5. Zakres ruchu w osi Z: 8 mm
6. Możliwości montażu okularów o powiększeniach: 10x, 12,5x i 15x
7. Śruby ustawiania ostrości widzenia MIKRO/MAKRO z regulacją oporu ruchu
8. Układu fluorescencji 12-sto gniazdowej montowany w mikroskopie w sposób kaskadowy jedna nad drugą po 6 gniazd w piętrze, z dwoma niezależnymi wejściami do każdego z gniazd
9. Możliwość montażu nasadek bino i trinookularowych
10. Możliwość motoryzacji układu ostrości Z i stołu X-Y
11. Miska obiektywowa 6-cio gniazdowa
12. Stolik mechaniczny X-Y o zakresie ruchu 126x84mm
13. Możliwość obserwacji w technikach Jasne, Ciemne Pole, Fluorescencja,
14. Układ oświetlenia do światła przechodzącego i odbitego z lampą halogenową o mocy 100W
15. Gniazda do montażu filtrów konwersyjnych światła
16. Zestaw obiektywów o parametrach nie gorszych niż:
a) CFI LU Plan FLUOR Epi 10X, (NA/WD : 0.30/17.50mm)
b) CF LU Plan FLUOR Epi 50X, (NA/WD : 0.80/1.00mm)
c) CF LU Plan FLUOR Epi 100X, (NA/WD : 0.90/1.00mm)
17. Kamera kolorowa o parametrach nie gorszych
a. Głowice z matrycą CCD o rozdzielczości nie mniejszej niż 5,07 mln efektywnych pikseli
b. Czas ekspozycji 1/1000 - 60 sekund
c. Kontrola ekspozycji: Automatyczna; Ręczna;
d. Pomiar ekspozycji z całego pola, oraz punktowy
e. Rozdzielczość zapisu: 2560x1920; 1280x960; 640x480 pikseli
f. Format zapisu: BMP, TIFF, JPEG, JPEG2000
g. Przesył obrazu do komputera na żywo z szybkością określoną dla każdej rozdzielczości i nie mniejsza niż
i. 2560 x 1920 - 4.4 klatek/sekundę
ii. 1280 x 960 - 12 Klatek/sekundę
iii. 640 x 480 - 12 Klatek/sekundę
h. Przesyłania obrazu do komputera za pomocą złącza FireWire typ B
i. Pojedynczy sterownik z możliwością obsługi dwóch głowic z możliwością ich przełączania w oprogramowaniu do analizy obrazu
18. Stół optyczny specjalizowany
19. Oprogramowanie do analizy obrazu:
a. Pełne sterowanie kamerą - rozdzielczości, balans bieli, wzmocnienia, sposób pomiaru ekspozycji
b. W menu sterowania kamera wbudowany zestaw gotowych ustawień kontrastu w tym dla światła odbitego w tym - Jasne pole, Ciemne pole, DIC, metalografia
c. archiwizacja i wizualizacja wyników w postaci tabel i wykresów,
d. pojedyncze (stop-klatka) i sekwencyjne pobieranie obrazu (klatki obrazu w ustalonych odstępach czasowych),
e. możliwość składania obrazów wielkoformatowych próbek nie mieszczących się w polu widzenia danego obiektywu przy zachowaniu wszystkich parametrów optycznych, oraz w obrazie wielkoformatowym automatyczne obliczanie i kompensowanie w przypadku niezbyt dokładnego ustawienia następnego
f. pomiary ręczne na obrazie żywym (nie zamrożonym),
g. manualne pomiary: np. pola powierzchni, długości, średnic (średniej, Fereta), obwodu, kąta,
h. łatwa kalibracja obrazu w jednostkach metrycznych w sposób ręczny i całkowicie automatyczny z wykorzystaniem stolika zmotoryzowanego
i. wbudowana baza danych obiektywów producenta mikroskopu i zestaw sterowników do jego zdalnej kontroli
j. automatyczna kontrola balansu bieli w całym polu
k. statystyka przeprowadzonych pomiarów (średnia, odchylenie standardowe, minimum, maksimum i odpowiednie wykresy z ich dalszą edycją; liczba wielkości ze wspomnianą wyżej statystyką, gęstość i udział procentowy obiektów w polu lub wybranych polach),
l. generowanie dowolnych raportów z pomiarów wraz z obrazem w wewnętrznym edytorze,
m. praca w środowisku Windows XP i Vista, oraz Windows 7 w wersjach 32 i 64 bit

Kody CPV:
331140002 (Urządzenia do spektroskopii)

Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie

Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie

Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie

Czas: O

Okres trwania zamówienia w dniach: 56

Zaliczka: Nie

Oświadczenie wykluczenia nr 1: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 2: Tak

Oświadczenie wykluczenia nr 7: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

Dokumenty podmiotów zagranicznych: Tak

inne_dokumenty:
Oferta składana przez Wykonawcę winna zawierać:
1)Formularz ofertowy stanowiący załącznik nr 1 do SIWZ,
2)Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia stanowiący załącznik nr 3 do SIWZ,
3)Szczegółowy opis oferowanego sprzętu lub specyfikację techniczną w celu weryfikacji wymagań określonych przez Zamawiającego w SIWZ. Zamawiający dopuszcza złożenie karty katalogowej oferowanego sprzętu w języku angielskim.
4)pełnomocnictwo do podpisania oferty, jeżeli nie wynika ono z załączonych dokumentów wymaganych postanowieniami pkt 5 SIWZ.
5)oświadczenia i dokumenty, w formie oryginału lub kserokopii wymienione w pkt 5 SIWZ.

III.7 osoby niepełnosprawne: Nie

Kod trybu postepowania: PN

Czy zmiana umowy: Nie

Kod kryterium cenowe: A

Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie

Adres strony internetowej specyfikacji i warunków zamówienia: www.wat.edu.pl

Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia:
WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA
im. Jarosława Dąbrowskiego
ul. Gen. Sylwestra Kaliskiego 2
00-908 WARSZAWA
Sekcja Zamówień Publicznych, budynek nr 22, pokój nr 6, godz. 08:00-15:00

Data składania wniosków, ofert: 26/08/2011

Godzina składania wniosków, ofert: 09:00

Miejsce składania:
WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA
im. Jarosława Dąbrowskiego
ul. Gen. Sylwestra Kaliskiego 2
00-908 WARSZAWA
Sekcja Zamówień Publicznych, budynek nr 22, pokój nr 6, godz. 08:00-15:00

On: O

Termin związania ofertą, liczba dni: 30

Czy unieważnienie postępowania: Nie

Podobne przetargi