355155 / 2008-12-08 - Inny: jednostka badawczo-rozwojowa / Instytut Obróbki Plastycznej (Poznań)

Zgodny z tuszem GI-490 Żółty marki FullPrint

Cena: 17.22 PLN

Stanowisko do pomiaru chropowatości i konturu

Opis zamówienia

Stanowisko do pomiaru chropowatości i konturu

1. Pomiar chropowatości:
1.1. Opis stanowiska:
-minimalna długość pomiarowa X: co najmniej 60mm
-prostoliniowość X: co najmniej 0,2 µm na dł. 60 mm
-próbkowanie w osi X: co najmniej 100 punktów na mikrometr
-możliwość pomiaru przy dowolnie podawanych prędkościach przesuwu w zakresie 0,01 - 3 mm/s
-kolumna pomiarowa: o wysokości co najmniej 800 mm, zmotoryzowana
-granitowa płyta pomiarowa o wymiarach minimum 600x500 mm z rowkiem teowym
-maksymalny zakres fizyczny głowicy do pomiaru chropowatości Z: nie mniej niż 1200 µm
-minimalna rozdzielczość Z głowicy do pomiaru chropowatości: nie więcej niż 3 nm
-promień końcówki pomiarowej: nie większy od 5 µm
-możliwość pomiaru przy głowicy obróconej o 90 stopni wokół osi pionowej
-możliwość obrotu głowicy pomiarowej na kolumnie co najmniej +/- 45 stopni
-elektronika oparta o komputer PC z monitorem TFT i drukarką oraz standardowymi akcesoriami

1.2. Oprogramowanie sterujące i obliczające pracujące w języku polskim, w środowisku Windows i umożliwiające:
-wykonanie profilu i analizę parametrów chropowatości R, falistości W i profilu niefiltrowanego P
-wykonanie profilu i analizę parametrów falistości dominującej pierwszej WD1 i drugiej WD2 oraz udziału materiałowego Rk
-tworzenie programów pomiarowych
-pomiar wszystkich standardowo używanych parametrów i funkcji opisu nierówności powierzchni
-powiększanie dowolnego wycinka profilu
-tworzenie indywidualnych interfejsów użytkowników
-wycinanie profilu
-analizę Fouriera
-pomiar odcinka pomiarowego o dowolnie wybranej długości w zakresie pomiarowym
-analizę i wyznaczenie wybranych parametrów zarówno dla pełnego zarejestrowanego odcinka, jak również dla wybranej części zmierzonego profilu
-wykorzystanie wszystkich powszechnie stosowanych filtrów stosowanych w pomiarach chropowatości
-wprowadzenie tolerancji analizowanych parametrów
-wyznaczenie krzywej udziału materiałowego
-wyznaczenie krzywej rozkładu amplitudowego
2. Pomiar konturu
2.1. Opis stanowiska:
-minimalna długość pomiarowa X: co najmniej 60 mm
-prostoliniowość X: co najmniej 0,2 µm na dł. 60 mm
-próbkowanie w osi X: co najmniej 100 punktów na mikrometr
-możliwość pomiaru przy dowolnie podawanych prędkościach przesuwu w zakresie 0,01 - 3 mm/s
-maksymalny zakres fizyczny głowicy do pomiaru konturu Z: nie mniej niż 1200 µm
-możliwość podłączenia do oferowanej jednostki posuwowej głowicy o zakresie co najmniej 60 mm przy minimalnej rozdzielczości Z nie więcej niż 50 nm w całym zakresie pomiarowym,
-możliwość dodatkowego pomiaru mikrokonturu głowicą standardowo wykorzystywaną do pomiaru chropowatości
2.2. Oprogramowanie sterujące i obliczające pracujące w języku polskim, w środowisku Windows i umożliwiające:
-obliczanie cech geometrycznych: długości, promienie, kąty, itp.
-tworzenie układu referencyjnego
-tworzenie elementów wynikowych z cech geometrycznych (punktu przecięcia, linie teoretyczne, itp.)
-importu profili nominalnych z plików typu CAD i porównania profilu zmierzonego z nominalnym
-przeprowadzenie przez operatora kalibracji (zmiany współczynników)
-tworzenia własnych programów pomiarowych
-obliczanie elementów specjalnych,

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 355155

Data publikacji: 2008-12-08

Nazwa: Instytut Obróbki Plastycznej

Ulica: ul. Jana Pawła II 14

Numer domu: 14

Miejscowość: Poznań

Kod pocztowy: 61-139

Województwo / kraj: wielkopolskie

Numer telefonu: 061 6570720

Numer faxu: 061 6570721

Adres strony internetowej: inop@inop.poznan.pl

Regon: 00003240200000

Typ ogłoszenia: ZP-400

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Inny: jednostka badawczo-rozwojowa

Inny rodzaj zamawiającego: jednostka badawczo-rozwojowa

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Stanowisko do pomiaru chropowatości i konturu

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Stanowisko do pomiaru chropowatości i konturu

1. Pomiar chropowatości:
1.1. Opis stanowiska:
-minimalna długość pomiarowa X: co najmniej 60mm
-prostoliniowość X: co najmniej 0,2 µm na dł. 60 mm
-próbkowanie w osi X: co najmniej 100 punktów na mikrometr
-możliwość pomiaru przy dowolnie podawanych prędkościach przesuwu w zakresie 0,01 - 3 mm/s
-kolumna pomiarowa: o wysokości co najmniej 800 mm, zmotoryzowana
-granitowa płyta pomiarowa o wymiarach minimum 600x500 mm z rowkiem teowym
-maksymalny zakres fizyczny głowicy do pomiaru chropowatości Z: nie mniej niż 1200 µm
-minimalna rozdzielczość Z głowicy do pomiaru chropowatości: nie więcej niż 3 nm
-promień końcówki pomiarowej: nie większy od 5 µm
-możliwość pomiaru przy głowicy obróconej o 90 stopni wokół osi pionowej
-możliwość obrotu głowicy pomiarowej na kolumnie co najmniej +/- 45 stopni
-elektronika oparta o komputer PC z monitorem TFT i drukarką oraz standardowymi akcesoriami

1.2. Oprogramowanie sterujące i obliczające pracujące w języku polskim, w środowisku Windows i umożliwiające:
-wykonanie profilu i analizę parametrów chropowatości R, falistości W i profilu niefiltrowanego P
-wykonanie profilu i analizę parametrów falistości dominującej pierwszej WD1 i drugiej WD2 oraz udziału materiałowego Rk
-tworzenie programów pomiarowych
-pomiar wszystkich standardowo używanych parametrów i funkcji opisu nierówności powierzchni
-powiększanie dowolnego wycinka profilu
-tworzenie indywidualnych interfejsów użytkowników
-wycinanie profilu
-analizę Fouriera
-pomiar odcinka pomiarowego o dowolnie wybranej długości w zakresie pomiarowym
-analizę i wyznaczenie wybranych parametrów zarówno dla pełnego zarejestrowanego odcinka, jak również dla wybranej części zmierzonego profilu
-wykorzystanie wszystkich powszechnie stosowanych filtrów stosowanych w pomiarach chropowatości
-wprowadzenie tolerancji analizowanych parametrów
-wyznaczenie krzywej udziału materiałowego
-wyznaczenie krzywej rozkładu amplitudowego
2. Pomiar konturu
2.1. Opis stanowiska:
-minimalna długość pomiarowa X: co najmniej 60 mm
-prostoliniowość X: co najmniej 0,2 µm na dł. 60 mm
-próbkowanie w osi X: co najmniej 100 punktów na mikrometr
-możliwość pomiaru przy dowolnie podawanych prędkościach przesuwu w zakresie 0,01 - 3 mm/s
-maksymalny zakres fizyczny głowicy do pomiaru konturu Z: nie mniej niż 1200 µm
-możliwość podłączenia do oferowanej jednostki posuwowej głowicy o zakresie co najmniej 60 mm przy minimalnej rozdzielczości Z nie więcej niż 50 nm w całym zakresie pomiarowym,
-możliwość dodatkowego pomiaru mikrokonturu głowicą standardowo wykorzystywaną do pomiaru chropowatości
2.2. Oprogramowanie sterujące i obliczające pracujące w języku polskim, w środowisku Windows i umożliwiające:
-obliczanie cech geometrycznych: długości, promienie, kąty, itp.
-tworzenie układu referencyjnego
-tworzenie elementów wynikowych z cech geometrycznych (punktu przecięcia, linie teoretyczne, itp.)
-importu profili nominalnych z plików typu CAD i porównania profilu zmierzonego z nominalnym
-przeprowadzenie przez operatora kalibracji (zmiany współczynników)
-tworzenia własnych programów pomiarowych
-obliczanie elementów specjalnych,

Kody CPV: 332620004

Czy zamówienie jest podzielone na części: Nie

Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: Nie

Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: Nie

Czas: D

Data zakończenia: 31/12/2008

Informacja na temat wadium: nie dotyczy

opis_war:
uczestnicy spełniający warunki zawarte w art.22 Pzp.

inf_osw:
aktualny odpis z właściwego rejestru, oświadczenie o spełnieniu warunków udziału

Kod trybu postepowania: PN

Kod kryterium cenowe: A

Czy wykorzystywana będzie aukcja: Nie

Adres strony internetowej specyfikacji i warunków zamówienia: www.inop.poznan.pl

Adres uzyskania specyfikacji i warunków zamówienia: j/w

Data składania wniosków, ofert: 16/12/2008

Godzina składania wniosków, ofert: 10:00

Miejsce składania:
Siedziba zamawiającego, pokój 126 lub sekretariat

On: on

Termin związania ofertą, liczba dni: 30

Informacje dodatkowe: nie dotyczy

Podobne przetargi