283423 / 2010-10-12 - Uczelnia publiczna / Politechnika ÅšlÄ…ska (Gliwice)

Zgodny z tonerem TK340 (TK-340) Czarny marki FullPrint

Cena: 166.05 PLN

Ogłoszenie zawiera informacje aktualizacyjne dotyczące publikacji w biuletynie 1 z dnia 2010-08-11 pod pozycją 217093. Zobacz ogłoszenie 217093 / 2010-08-11 - Uczelnia publiczna.

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 283423

Data publikacji: 2010-10-12

Nazwa: Politechnika Śląska

Ulica: ul. Akademicka 2A

Numer domu: 2A

Miejscowość: Gliwice

Kod pocztowy: 44-100

Województwo / kraj: śląskie

Numer telefonu: (032) 237 13 34, 2371335

Numer faxu: 0322371334, 2372255, 2372660

Adres strony internetowej: www.polsl.pl

Typ ogłoszenia: ZP-403

Numer biuletynu: 1

Numer pozycji: 217093

Data wydania biuletynu: 2010-08-11

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Czy zamówienie było ogłoszone w BZP: Tak

Rok ogłoszenia: 2010

Pozycja ogłoszenia: 217093

Czy w BZP zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie: Nie

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dostawa mikroskopu oddziaływań międzyatomowych AFM do badań nanometrycznych. Oznaczenie sprawy OZ/D/128/TB/10.

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa jednego mikroskopu oddziaływań międzyatomowych AFM (Atomic Force Microscope) do badań nanometrycznych dla Politechniki Śląskiej. Mikroskop ten, określany również jako mikroskop sił międzyatomowych, służyć będzie do badania materiałów,
a zwłaszcza ich powierzchni z dokładnością zbliżoną do wielkości pojedynczego atomu. Mikroskop powinien umożliwiać również modyfikację struktury materiałów na poziomie atomowym, a także uzyskać mapy obrazujące zarówno ukształtowanie powierzchni jak też jej własności takie jak: tarcie, adhezja, rozkład ładunku elektrostatycznego, czy struktura domen magnetycznych. Ponadto mikroskop powinien umożliwiać obrazowanie ścian domenowych w ferroelektrykach, przeprowadzanie pomiaru w powietrzu, cieczy, oraz możliwość badania materiałów nieprzewodzących ładunków elektrycznych. Zamawiany mikroskop (AFM) przeznaczony będzie do pracy na dużych próbkach ze skanowaniem sondą, w trybie kontaktowym oraz bezkontaktowym. Powinien posiadać możliwość badania zarówno próbek przewodzących jak i nieprzewodzących, wyposażony w sprzęt i oprogramowanie umożliwiające wizualizację wyników badań oraz możliwość rozbudowy konfiguracji i dostępnych technik pomiarowych. Mikroskop wyposażony w zmotoryzowany przesuw stolika w osi Z oraz w osiach XY. Mikroskop wyposażony w aktywny stolik antywibracyjny oraz komorę akustyczna otwieraną. System mocowania próbek z możliwością wykorzystania podciśnienia (z możliwością regulacji siły mocowania) wraz z osprzętem towarzyszącym niezbędnym do jego działania. Akcesoria niezbędne do standardowego użytkowania mikroskopu. (CPV: 38.51.42.00-3 Mikroskopy z sondą skanującą).

Kody CPV:
385142003 (Mikroskopy z sondą skanującą)

Kod trybu postepowania: PN

Czy zamówienie dotyczy programu UE: Nie

Nazwa wykonawcy: Schaefer Technologie GMBH

Adres pocztowy wykonawcy: Robert Bosch str.31

Miejscowość: Langen

ID województwa: 37

Województwo / kraj: Niemcy

Nazwa:
Dostawa mikroskopu oddziąływań międzyatomowych AFM do badań nanometrycznych

Nr częsci: 1

Data udzielenie zamówienia: 05/10/2010

Liczba ofert: 2

Liczba odrzuconych ofert: 1

Szacunkowa wartość zamówienia: 350819,67

Cena wybranej oferty: 359000,00

Cena minimalna: 359000,00

Cena maksymalna: 359000,00

Kod waluty: 1

Waluta (PLN): PLN

Podobne przetargi