Informacje o przetargach publicznych.
Site Search

324259 / 2008-11-20 - Inny: Instytut naukowo-badawczy / Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk (Warszawa)

Ogłoszenie zawiera informacje aktualizacyjne dotyczące publikacji w biuletynie 1 z dnia 2008-10-23 pod pozycją 237094. Zobacz ogłoszenie 237094 / 2008-10-23 - Inny: Instytut naukowo-badawczy.

Numer biuletynu: 1

Pozycja w biuletynie: 324259

Data publikacji: 2008-11-20

Nazwa: Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk

Ulica: al. Lotników 32/46

Numer domu: 32/46

Miejscowość: Warszawa

Kod pocztowy: 02-668

Województwo / kraj: mazowieckie

Numer telefonu: 022 8436601 w. 3535

Numer faxu: 022 8430926

Adres strony internetowej: www.ifpan.edu.pl/przetragi

Regon: 00032606100000

Typ ogłoszenia: ZP-403

Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak

Czy zamówienie było ogłoszone w BZP: Tak

Rok ogłoszenia: 2008

Pozycja ogłoszenia: 237094

Czy w BZP zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie: Nie

Ogłoszenie dotyczy: 1

Rodzaj zamawiającego: Inny: Instytut naukowo-badawczy

Inny rodzaj zamawiającego: Instytut naukowo-badawczy

Numer biuletynu: 1

Numer pozycji: 237094

Data wydania biuletynu: 2008-10-23

Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
DZPIE/014/2008 - Urządzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej (LEED+AES).

Rodzaj zamówienia: D

Przedmiot zamówienia:
1. Urządzenie musi zapewniać uzyskiwanie, rejestrowanie oraz zapamiętywanie przy pomocy komputera obrazów dyfrakcji niskoenergetycznych elektronów (LEED) oraz pomiar spektroskopii elektronów Augera (AES). System optyki elektronowej LEED-Auger z: - wysokorozdzielczym analizatorem 4-siatkowym o transmisji co najmniej 80% - zintegrowanym działem elektronowym o energii elektronów co najmniej do 3keV i prądzie wiązki nie mniejszym niż 2 mikroA przy 100 eV dla LEED i 100 mikroA przy 3 kV dla AES - zapewniające możliwość pomiaru w odległości 277 mm od kołnierza flanszy mocującej - odległością pracy (do próbki) nie mniej niż 6.5 mm - mikro-metalową osłoną magnetyczną - montowany na kołnierzu DN 100CF - dopuszczalną temperaturą wygrzewania nie mniejszą niż 150 stopni Celciusza - przygotowany do pracy zarówno w trybie LEED jak i AES Zasilacz cyfrowy do obsługi LEED i AES o parametrach: - sterowanie napięciem wiązki co najmniej w zakresie 0-3000 V - maksymalny prąd emisji - nie mniej niż 200 mikroA - napięcie ekranujące sterowane co najmniej w zakresie 0-5 kV Cyfrowy regulator AES o parametrach: - generator napięcia narastającego: 0-2000V z modulacją falową, - modulator: 0.5-20 Vpk-pk ampl, częstotliwość-1.47 kHz, - lock-in: współczynniki czułości: 10, 100, 1000 oraz 1, 2, 4, 8, stałe czasowe: 0.1, 0.5, 1, 3 s, - aplikacja sterująca z komputera PC poprzez port RS232 lub przez port USB, - separowany galwanicznie przedwzmacniacz o wzmocnieniu 500, -zmacniacz wraz z oprogramowaniem. Oprogramowanie do akwizycji danych pomiarowych AES Oprogramowanie i wyposażenie do akwizycji danych pomiarowych LEED - Kamera CCD z niezbędnym wyposażeniem optycznym (soczewki itp.), elektronicznym (n.p. zasilacz) oraz montażowym (n.p. uchwyt do zamontowania na spektrometrze LEED-Auger) - Oprogramowanie (typu frame grabber) do sczytywania i rejestracji obrazów z kamery CCD, pracujące na komputerze typu PC pod systemem operacyjnym MS Windows XP. - Oprogramowanie (pracujące na komputerze typu PC pod systemem operacyjnym MS Windows XP) zapewniające co najmniej zdalną kontrolę zasilacza do obsługi LEED. Zapewniona możliwość rozbudowy zakupionej wersji o moduły rozszerzające analizę obrazów co najmniej na tworzenie charakterystyk I-V wybranych punktów obrazu. 2. Inne warunki - Sprzedający zapewnia dostawę, instalację na istniejącym układzie UHV, uruchomienie, szkolenie obsługi, gwarancję (minimum 12 miesięcy po podpisaniu protokołu odbioru) oraz serwis całego systemu. Sprzedający dostarczy wszystkie niezbędne części próżniowe (przedłużki, redukcje itp.) do systemu i zainstaluje je na standardowym kołnierzu DN 100CF istniejącego układu próżniowego, przy odległości próbki od czoła kołnierza wynoszącej 277 mm. - Sprzedający dostarczy pełną dokumentację umożliwiającą bezpieczną i skuteczną obsługę oraz wykorzystanie wszystkich dostarczonych urządzeń. Cała dokumentacja musi być w języku polskim lub angielskim. Obsługa wszystkich urządzeń musi być możliwa przy wykorzystaniu języka polskiego lub angielskiego (dotyczy to w szczególności opisu elementów sterujących na urządzeniach, napisów ostrzegawczych itp.). - Sprzedający gwarantuje dostępność części zamiennych przez co najmniej 7 lat.

Kody CPV:
385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)

Szacunkowa wartość zamówienia: 98360.65

Kod waluty: 1

Waluta (PLN): PLN

Kod trybu postepowania: PN

Czy zamówienie dotyczy programu UE: Nie

Data udzielenie zamówienia: 14/11/2008

Liczba ofert: 1

Nazwa wykonawcy: PRREVAC Sp. z o.o.

Adres pocztowy wykonawcy: Raciborska 61

Miejscowość: Rogów

Kod pocztowy: 44-362

ID województwa: 11

Województwo / kraj: śląskie

Cena wybranej oferty: 97131.15

Cena minimalna: 97131.15

Cena maksymalna: 97131.15

Kod waluty: 1

Waluta (PLN): PLN

Podobne przetargi

209547 / 2014-10-03 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska, Wydział Chemiczny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Dostawa proszkowego dyfraktometru rentgenowskiego wraz z układem chłodzenia

237094 / 2008-10-23 - Inny: Instytut naukowo-badawczy

Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
DZPIE/014/2008 - UrzÄ…dzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej (LEED+AES).

369574 / 2010-11-16 - Inny: Instytut naukowo-badawczy

Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
DZPIE/037/2010 - UrzÄ…dzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej (LEED+AES)

406514 / 2010-12-13 - Inny: Instytut naukowo-badawczy

Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
DZPIE/037/2010 - UrzÄ…dzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej (LEED+AES)

42147 / 2009-02-25 - Uczelnia publiczna

Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
DOSTAWA DYFRAKTOMETRU RENTGENOWSKIEGO DO BADAŃ PROSZKOWYCH ZE SPRZĘTEM UZUPEŁNIAJĄCYM ORAZ ZAMONTOWANIEM I URUCHOMIENIEM SYSTEMU

5638 / 2014-01-07 - Uczelnia publiczna

Uniwersytet Warszawski Wydział Chemii - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Usługa hotelarska w zakresie organizacji konferencji Annual User group Meeting of Bio-NMR (AUM) dla Wydziału Chemii Uniwersytetu Warszawskiego

3408 / 2016-01-05 - Inny: Instytut badawczy

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Dostawa dyfraktometru rentgenowskiego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie

401058 / 2011-11-29 - Inny: Instytut Badawczy

Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Dostawa oraz instalacja dyfraktometru rentgenowskiego dla Zakładu Nanotechnologii Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych w Warszawie

340594 / 2015-12-13 - Inny: Instytut badawczy

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Dostawa dyfraktometru rentgenowskiego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie

50331 / 2012-03-02 - Inny: Instytut Badawczy

Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Dostawa oraz instalacja dyfraktometru rentgenowskiego dla Zakładu Nanotechnologii Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych w Warszawie

248831 / 2014-12-01 - Uczelnia publiczna

Politechnika Warszawska, Wydział Chemiczny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Dostawa proszkowego dyfraktometru rentgenowskiego wraz z układem chłodzenia