324259 / 2008-11-20 - Inny: Instytut naukowo-badawczy / Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk (Warszawa)
Ogłoszenie zawiera informacje aktualizacyjne dotyczące publikacji w biuletynie 1 z dnia 2008-10-23 pod pozycją 237094. Zobacz ogłoszenie 237094 / 2008-10-23 - Inny: Instytut naukowo-badawczy.
Numer biuletynu: 1
Pozycja w biuletynie: 324259
Data publikacji: 2008-11-20
Nazwa: Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk
Ulica: al. Lotników 32/46
Numer domu: 32/46
Miejscowość: Warszawa
Kod pocztowy: 02-668
Województwo / kraj: mazowieckie
Numer telefonu: 022 8436601 w. 3535
Numer faxu: 022 8430926
Adres strony internetowej: www.ifpan.edu.pl/przetragi
Regon: 00032606100000
Typ ogłoszenia: ZP-403
Czy jest obowiązek publikacji w biuletynie: Tak
Czy zamówienie było ogłoszone w BZP: Tak
Rok ogłoszenia: 2008
Pozycja ogłoszenia: 237094
Czy w BZP zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie: Nie
Ogłoszenie dotyczy: 1
Rodzaj zamawiającego: Inny: Instytut naukowo-badawczy
Inny rodzaj zamawiającego: Instytut naukowo-badawczy
Numer biuletynu: 1
Numer pozycji: 237094
Data wydania biuletynu: 2008-10-23
Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
DZPIE/014/2008 - Urządzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej (LEED+AES).
Rodzaj zamówienia: D
Przedmiot zamówienia:
1. Urządzenie musi zapewniać uzyskiwanie, rejestrowanie oraz zapamiętywanie przy pomocy komputera obrazów dyfrakcji niskoenergetycznych elektronów (LEED) oraz pomiar spektroskopii elektronów Augera (AES). System optyki elektronowej LEED-Auger z: - wysokorozdzielczym analizatorem 4-siatkowym o transmisji co najmniej 80% - zintegrowanym działem elektronowym o energii elektronów co najmniej do 3keV i prądzie wiązki nie mniejszym niż 2 mikroA przy 100 eV dla LEED i 100 mikroA przy 3 kV dla AES - zapewniające możliwość pomiaru w odległości 277 mm od kołnierza flanszy mocującej - odległością pracy (do próbki) nie mniej niż 6.5 mm - mikro-metalową osłoną magnetyczną - montowany na kołnierzu DN 100CF - dopuszczalną temperaturą wygrzewania nie mniejszą niż 150 stopni Celciusza - przygotowany do pracy zarówno w trybie LEED jak i AES Zasilacz cyfrowy do obsługi LEED i AES o parametrach: - sterowanie napięciem wiązki co najmniej w zakresie 0-3000 V - maksymalny prąd emisji - nie mniej niż 200 mikroA - napięcie ekranujące sterowane co najmniej w zakresie 0-5 kV Cyfrowy regulator AES o parametrach: - generator napięcia narastającego: 0-2000V z modulacją falową, - modulator: 0.5-20 Vpk-pk ampl, częstotliwość-1.47 kHz, - lock-in: współczynniki czułości: 10, 100, 1000 oraz 1, 2, 4, 8, stałe czasowe: 0.1, 0.5, 1, 3 s, - aplikacja sterująca z komputera PC poprzez port RS232 lub przez port USB, - separowany galwanicznie przedwzmacniacz o wzmocnieniu 500, -zmacniacz wraz z oprogramowaniem. Oprogramowanie do akwizycji danych pomiarowych AES Oprogramowanie i wyposażenie do akwizycji danych pomiarowych LEED - Kamera CCD z niezbędnym wyposażeniem optycznym (soczewki itp.), elektronicznym (n.p. zasilacz) oraz montażowym (n.p. uchwyt do zamontowania na spektrometrze LEED-Auger) - Oprogramowanie (typu frame grabber) do sczytywania i rejestracji obrazów z kamery CCD, pracujące na komputerze typu PC pod systemem operacyjnym MS Windows XP. - Oprogramowanie (pracujące na komputerze typu PC pod systemem operacyjnym MS Windows XP) zapewniające co najmniej zdalną kontrolę zasilacza do obsługi LEED. Zapewniona możliwość rozbudowy zakupionej wersji o moduły rozszerzające analizę obrazów co najmniej na tworzenie charakterystyk I-V wybranych punktów obrazu. 2. Inne warunki - Sprzedający zapewnia dostawę, instalację na istniejącym układzie UHV, uruchomienie, szkolenie obsługi, gwarancję (minimum 12 miesięcy po podpisaniu protokołu odbioru) oraz serwis całego systemu. Sprzedający dostarczy wszystkie niezbędne części próżniowe (przedłużki, redukcje itp.) do systemu i zainstaluje je na standardowym kołnierzu DN 100CF istniejącego układu próżniowego, przy odległości próbki od czoła kołnierza wynoszącej 277 mm. - Sprzedający dostarczy pełną dokumentację umożliwiającą bezpieczną i skuteczną obsługę oraz wykorzystanie wszystkich dostarczonych urządzeń. Cała dokumentacja musi być w języku polskim lub angielskim. Obsługa wszystkich urządzeń musi być możliwa przy wykorzystaniu języka polskiego lub angielskiego (dotyczy to w szczególności opisu elementów sterujących na urządzeniach, napisów ostrzegawczych itp.). - Sprzedający gwarantuje dostępność części zamiennych przez co najmniej 7 lat.
Kody CPV:
385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Szacunkowa wartość zamówienia: 98360.65
Kod waluty: 1
Waluta (PLN): PLN
Kod trybu postepowania: PN
Czy zamówienie dotyczy programu UE: Nie
Data udzielenie zamówienia: 14/11/2008
Liczba ofert: 1
Nazwa wykonawcy: PRREVAC Sp. z o.o.
Adres pocztowy wykonawcy: Raciborska 61
Miejscowość: Rogów
Kod pocztowy: 44-362
ID województwa: 11
Województwo / kraj: śląskie
Cena wybranej oferty: 97131.15
Cena minimalna: 97131.15
Cena maksymalna: 97131.15
Kod waluty: 1
Waluta (PLN): PLN
Podobne przetargi
209547 / 2014-10-03 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska, Wydział Chemiczny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Dostawa proszkowego dyfraktometru rentgenowskiego wraz z układem chłodzenia
237094 / 2008-10-23 - Inny: Instytut naukowo-badawczy
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
DZPIE/014/2008 - UrzÄ…dzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej (LEED+AES).
369574 / 2010-11-16 - Inny: Instytut naukowo-badawczy
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
DZPIE/037/2010 - UrzÄ…dzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej (LEED+AES)
406514 / 2010-12-13 - Inny: Instytut naukowo-badawczy
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
DZPIE/037/2010 - UrzÄ…dzenie do charakteryzacji powierzchni metodami optyki elektronowej (LEED+AES)
42147 / 2009-02-25 - Uczelnia publiczna
Wojskowa Akademia Techniczna - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
DOSTAWA DYFRAKTOMETRU RENTGENOWSKIEGO DO BADAŃ PROSZKOWYCH ZE SPRZĘTEM UZUPEÅNIAJÄ„CYM ORAZ ZAMONTOWANIEM I URUCHOMIENIEM SYSTEMU
5638 / 2014-01-07 - Uczelnia publiczna
Uniwersytet Warszawski Wydział Chemii - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Usługa hotelarska w zakresie organizacji konferencji Annual User group Meeting of Bio-NMR (AUM) dla Wydziału Chemii Uniwersytetu Warszawskiego
3408 / 2016-01-05 - Inny: Instytut badawczy
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Dostawa dyfraktometru rentgenowskiego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
401058 / 2011-11-29 - Inny: Instytut Badawczy
Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Dostawa oraz instalacja dyfraktometru rentgenowskiego dla Zakładu Nanotechnologii Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych w Warszawie
340594 / 2015-12-13 - Inny: Instytut badawczy
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Dostawa dyfraktometru rentgenowskiego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
50331 / 2012-03-02 - Inny: Instytut Badawczy
Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Dostawa oraz instalacja dyfraktometru rentgenowskiego dla Zakładu Nanotechnologii Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych w Warszawie
248831 / 2014-12-01 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska, Wydział Chemiczny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Dostawa proszkowego dyfraktometru rentgenowskiego wraz z układem chłodzenia
345929 / 2008-12-02 - Uczelnia publiczna
Politechnika Warszawska, Wydział Chemiczny - Warszawa (mazowieckie)
CPV: 385300009 (Aparatura dyfrakcyjna)
Rozbudowa zestawu aparatury do dyfrakcji rentgenowskiej